[發明專利]智能電表接線端子接觸不良檢測方法、電路及裝置

在審

• 申請號: 201910965490.1
• 申請日: 2019-10-11
• 公開（公告）號: CN110632550A
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發明（設計）人: 葉紫權;陳金玲;鄭小平;任智仁;劉新潤
• 申請（專利權）人: 威勝集團有限公司
• 主分類號: G01R35/04
• 分類號: G01R35/04;G01R31/02
• 代理公司: 44287 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所
• 代理人: 陳思凡

1.一種智能電表接線端子接觸不良檢測電路，其特征在于，包括電流采樣電路、預檢電路、信號調理電路及檢測芯片；其中，

所述電流采樣電路，設置于火線的進出線接線端子之間及零線的進出線接線端子之間，且分別與所述預檢電路及所述信號調理電路連接，所述電流采樣電路用于對火線電流信號及零線電流信號進行采集，并發送所述火線電流信號及所述零線電流信號至所述預檢電路及所述信號調理電路；

所述預檢電路，與所述檢測芯片連接，用于接收所述火線電流信號及所述零線電流信號，并分別從所述零線電流信號中獲取頻率不小于第一預設閾值的第一高頻信號及所述火線電流信號中獲取頻率不小于第一預設閾值的第二高頻信號，以發送所述第一高頻信號及所述第二高頻信號至所述檢測芯片；

所述信號調理電路，與所述檢測芯片連接，用于對所述火線電流信號及所述零線電流信號分別進行調整，獲得對應的第一調整信號及第二調整信號，并發送所述第一調整信號及所述第二調整信號至所述檢測芯片；

所述檢測芯片，用于根據所述第一高頻信號及所述第二高頻信號確定是否有疑似電弧，在有疑似電弧時分別對所述第一調整信號及所述第二調整信號進行采樣，對應獲得第一待檢電流信號及第二待檢電流信號，并獲取各待檢電流信號中的特征向量組，根據所述特征向量組判斷接線端子是否接觸不良。

2.如權利要求1所述的智能電表接線端子接觸不良檢測電路，其特征在于，所述電流采樣電路包括第一電流采樣單元及第二電流采樣單元，所述預檢電路包括第一預檢單元及第二預檢單元，所述信號調理電路包括第一信號調理單元及第二信號調理單元，所述檢測芯片包括第一模數轉換器、第一計數器、第二模數轉換器、第二計數器、或門及微控制器；其中，

所述第一電流采樣單元設置于零線的進出線接線端子之間，且分別與所述第一預檢單元及所述第一信號調理單元連接；

所述第一預檢單元與所述第一模數轉換器連接；

所述第一信號調理單元與所述第一計數器連接；

所述第二電流采樣單元設置于火線的進出線接線端子之間，且分別與所述第二預檢單元及所述第二信號調理單元連接；

所述第二預檢單元與所述第二模數轉換器連接；

所述第二信號調理單元與所述第二計數器連接；

所述第一模數轉換器分別與所述或門的輸出端及所述微控制器連接；

所述第二模數轉換器分別與所述或門的輸出端及所述微控制器連接；

所述第一計數器及所述第二計數器分別與所述或門輸入端連接。

3.如權利要求2所述的智能電表接線端子接觸不良檢測電路，其特征在于，所述第一預檢單元包括第一高通濾波器及第一比較器，所述第二預檢單元包括第二高通濾波器及第二比較器；所述第一高通濾波器分別與所述第一采樣單元、所述第一信號調理單元及所述第一比較器連接，所述第一比較器與所述第一計數器連接；所述第二高通濾波器分別與所述第二采樣單元、所述第二信號調理單元及所述第二比較器連接，所述第二比較器與所述第二計數器連接。

4.一種智能電表接線端子接觸不良檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

獲取零線電流信號及火線電流信號；

分別從所述零線電流信號中獲取頻率不小于第一預設閾值的第一高頻信號及從所述火線電流信號中獲取頻率不小于第一預設閾值的第二高頻信號；

分別檢測所述第一高頻信號及所述第二高頻信號中是否有疑似電弧；

在檢測到疑似電弧時獲取所述火線電流信號和所述零線電流信號對應的第一待檢電流信號及第二待檢電流信號；

獲取各待檢電流信號中的特征向量組；

根據所述特征向量組判斷接線端子是否接觸不良。

5.如權利要求4所述的智能電表接線端子接觸不良檢測方法，其特征在于，所述分別檢測所述第一高頻信號及所述第二高頻信號中是否有疑似電弧的步驟，包括：

分別在第一預設時間內統計所述第一高頻信號中的第一高頻脈沖數及所述第二高頻信號中的第二高頻脈沖數；

當所述第一高頻脈沖數或所述第二高頻脈沖數大于第二預設閾值時，判定有疑似電弧。