[發(fā)明專利]一種基于Au@Ag核殼納米粒子負(fù)載硅納米線陣列及其制備方法和用途在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910955862.2 | 申請日: | 2019-10-09 |
| 公開(公告)號: | CN111017871A | 公開(公告)日: | 2020-04-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 段憶翔;廖文龍;林慶宇 | 申請(專利權(quán))人: | 四川大學(xué) |
| 主分類號: | B82B1/00 | 分類號: | B82B1/00;B82B3/00;B82Y5/00;B82Y30/00;B82Y40/00;G01N21/65;G01N21/71 |
| 代理公司: | 成都高遠(yuǎn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51222 | 代理人: | 李高峽;張娟 |
| 地址: | 610000 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 au ag 納米 粒子 負(fù)載 陣列 及其 制備 方法 用途 | ||
1.一種基于Au@Ag核殼納米粒子負(fù)載硅納米線陣列,其特征在于:其為負(fù)載Au@Ag核殼納米粒子的硅納米線陣列。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅納米線陣列,其特征在于:所述硅納米線陣列的納米線直徑200~400nm,間距200~600nm;所述Au@Ag核殼納米粒子粒徑為25~35nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述硅納米線陣列,其特征在于:所述硅納米線陣列采用金屬輔助化學(xué)刻蝕法制備,優(yōu)選地,按照如下方法制備:
a.將硅片用丙酮、水進(jìn)行超聲清洗,放入濃硫酸與雙氧水的混合溶液中進(jìn)一步清洗,最后用超純水清洗得到干凈的硅片;
優(yōu)選地,所述硅片為單面拋光方形硅片,大小為0.8cm*0.8cm,P/N型,電阻率為0.01~0.02Ω.cm;所述雙氧水濃度為30%,濃硫酸與雙氧水體積比為3:1;
b.將步驟a清洗干凈的硅片注入氫氟酸水溶液中浸泡1~5分鐘,在硅片表面形成硅-氫鍵(Si-H);
優(yōu)選地,所述氫氟酸水溶液濃度為1~10%;
c.將步驟b處理的硅片浸泡至含硝酸銀和氫氟酸混合溶液中反應(yīng)1~5分鐘,使硅片表面沉積一層銀納米粒子,然后用超純水洗去硅片表面殘留的銀離子;
其中,所述硝酸銀與氫氟酸混合溶液中硝酸銀濃度為1~10mM,氫氟酸濃度為1~20%;
d.將步驟c表面沉積銀納米粒子的硅片浸入氫氟酸與雙氧水混合液中,于室溫下避光刻蝕0.5~5h,再將刻蝕后的硅片浸泡至稀硝酸中使銀納米粒子溶解,然后用超純水洗滌得到硅納米線陣列;
其中,所述氫氟酸與雙氧水混合液中氫氟酸濃度為1~20%,雙氧水濃度為0.1~0.9%;所述稀硝酸濃度為5~50%。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述硅納米線陣列,其特征在于:所述Au@Ag核殼納米粒子按照如下方法制備:
A.取粒徑為15~25nm的金納米種子;優(yōu)選地,所述金納米種子采用檸檬酸三鈉還原氯金酸制備;其中,所述檸檬酸三鈉濃度為0.1~2%;所述氯金酸濃度為0.1~1mM;
B.向步驟A的金納米種子中加入硝酸銀,混勻后加入抗壞血酸和氨水,在堿性條件下,抗壞血酸將硝酸銀還原,在金納米種子表面生成銀納米殼,即得Au@Ag核殼納米粒子;
其中,所述硝酸銀濃度為0.1~1mM;所述抗壞血酸濃度為0.1~1mM;所述氨水濃度為0.1~1%。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述硅納米線陣列,其特征在于:所述基于Au@Ag核殼納米粒子負(fù)載硅納米線陣列按照如下方法制備:
①將硅納米線陣列氨基化,優(yōu)選地:將硅納米線陣列置于濃硫酸與雙氧水的混合溶液中,加熱至90℃反應(yīng)25~40分鐘,使硅納米線陣列表面羥基化,經(jīng)超純水和無水乙醇洗滌,氮?dú)獯蹈珊笾萌牒?-氨基丙基三甲氧基硅烷的乙醇和乙酸混合液中,反應(yīng)0.5~3小時得到表面氨基化的硅納米線陣列;
其中,所述乙醇和乙酸混合液中乙醇和乙酸的體積比為5:2;所述3-氨基丙基三甲氧基硅烷的濃度為0.1~2%;
②將表面氨基化的硅納米線陣列置于Au@Ag核殼納米粒子溶液中,浸泡,優(yōu)選地:將氨基化的硅納米線陣列置于置于Au@Ag核殼納米粒子溶液中浸泡12小時,使Au@Ag核殼納米粒子通過Ag-N鍵結(jié)合至硅納米線陣列,用超純水洗滌除去未結(jié)合的Au@Ag核殼納米粒子即得到負(fù)載Au@Ag核殼納米粒子的硅納米線陣列。
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