[發明專利]能在測量中進行測量功能轉換的激光測量裝置及測試方法

在審

• 申請號: 201910934958.0
• 申請日: 2019-09-29
• 公開（公告）號: CN110806584A
• 公開（公告）日: 2020-02-18
• 發明（設計）人: 張濤;黃偉;尹伯彪
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08;G01S7/481
• 代理公司: 成都中匯天健專利代理有限公司 51257
• 代理人: 劉雨田

1.能在測量中進行測量功能轉換的激光測量裝置，包括熱穩頻He-Ne激光器（1）、測量單元（16）、信號處理系統，熱穩頻He-Ne激光器（1）發出的光經過測量單元（16）后發送給信號處理系統，經處理得到測量結果，其特征在于，測量單元（16）中包括位置可變的反射鏡（24）和遮光板（23）；

當用于絕對測距功能時，靶鏡（4）返回的光束經過反射鏡（24）反射后，再經過偏振片（5）和雪崩管（6）；

當用于絕對測距功能時，反射鏡（24）改變位置，不位于靶鏡（4）返回的光束的光路上，使得熱穩頻He-Ne激光器（1）發出的光束經過分光棱鏡（3）透射后到靶鏡（4）、偏振片（25）形成測量臂；改變遮光板（23）的位置，使得熱穩頻He-Ne激光器（1）發出的光束經過分光棱鏡（3）反射后到反射鏡（7）、偏振分光鏡（8）、角錐鏡（9）形成參考臂；經過參考臂的光束和經過測量臂的光束匯合后被雪崩管（12）接收形成測量信號。

2.根據權利要求1所述的能在測量中進行測量功能轉換的激光測量裝置，其特征在于，遮光板（23）和反射鏡（24）在電腦控制下發生轉動，改變位置。

3.能在測量中進行測量功能轉換的激光測試方法，其特征在于，包括以下過程：

S1:當從絕對測距功能轉換為干涉測量功能時，其后的距離測量值為功能轉換前絕對測距值與其后的精密干涉測量計數值相加之和；

S2：當從干涉測量功能轉換為絕對測距功能時，測量以最后的干涉測量數據為起點，其后的距離測量值為功能轉換前精密干涉測量計數值與其后的絕對測距值相加之和。