[發明專利]一種干燒檢測方法、裝置及存儲介質有效
| 申請號: | 201910924043.1 | 申請日: | 2019-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN112656209B | 公開(公告)日: | 2022-05-27 |
| 發明(設計)人: | 郭遠久;李寶剛;姚琦;朱光亮;喬維君 | 申請(專利權)人: | 廣東美的生活電器制造有限公司 |
| 主分類號: | A47J27/21 | 分類號: | A47J27/21;G01K13/00 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人: | 李強;張穎玲 |
| 地址: | 528000 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 方法 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種干燒檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
記錄電子設備的初始溫度值,并在第一干燒檢測階段實時檢測所述電子設備的當前溫度;其中,所述第一干燒檢測階段用于表征所述電子設備在第一加熱時長內對所述電子設備內的液體進行加熱,并且在第一停止加熱時長內不對電子設備內的液體進行加熱,所述第一加熱時長在所述第一停止時長之前;
根據所述電子設備的初始溫度值和所述電子設備的當前溫度確定所述電子設備內部在所述第一干燒檢測階段的溫度變化值;
響應于所述第一干燒檢測階段的溫度變化值不大于預設的第一溫度閾值,確定所述電子設備在所述第一干燒檢測階段處于非干燒狀態;
控制所述電子設備進入第二干燒檢測階段;所述第二干燒檢測階段用于表征所述電子設備在第二加熱時長內對所述電子設備內的液體進行加熱,并且在第二停止加熱時長內不對電子設備內的液體進行加熱,所述第二加熱時長在所述第二停止時長之前,所述第二加熱時長小于所述第一加熱時長,所述第二停止加熱時長小于所述第一停止加熱時長;
響應于所述第二干燒檢測階段的溫度變化值不大于所述預設的第一溫度閾值,確定所述電子設備在所述第二干燒檢測階段處于非干燒狀態。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
響應于所述第一干燒檢測階段的溫度變化值大于所述預設的第一溫度閾值,確定所述電子設備處于干燒狀態。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
響應于所述第二干燒檢測階段的溫度變化值大于所述預設的第一溫度閾值,確定所述電子設備處于干燒狀態。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
響應于所述電子設備在所述第二干燒檢測階段處于非干燒狀態,將所述電子設備的工作時長與預設的工作時長進行比較;
響應于所述電子設備的工作時長不大于所述預設的工作時長,重新進入所述第二干燒檢測階段進行干燒檢測;
響應于所述電子設備的工作時長大于所述預設的工作時長,控制所述電子設備進入第三干燒檢測階段;其中,所述第三干燒檢測階段用于表征對所述電子設備內的液體進行持續加熱。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述控制所述電子設備進入第三干燒檢測階段后,包括:
將所述電子設備的在所述第三干燒檢測階段的溫度變化值與預設的第二溫度閾值進行比較,判斷所述電子設備是否處于干燒狀態;其中,所述預設的第二溫度閾值與所述預設的第一溫度閾值不同;
響應于所述第三干燒檢測階段的溫度變化值大于所述預設的第二溫度閾值,確定所述電子設備處于干燒狀態;
響應于所述第三干燒檢測階段的溫度變化值不大于所述預設的第二溫度閾值,確定所述電子設備在所述第三干燒檢測階段處于非干燒狀態。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
響應于所述第三干燒檢測階段的溫度變化值不大于所述預設的第二溫度閾值,將所述電子設備的當前溫度與預設的第三溫度閾值進行比較;其中,所述第三溫度閾值高于所述預設的第二溫度閾值;
響應于所述電子設備的當前溫度大于所述預設的第三溫度閾值,確定所述電子設備處于干燒狀態。
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