[發(fā)明專利]一種鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測系統(tǒng)及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910923724.6 | 申請日: | 2019-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN110501352A | 公開(公告)日: | 2019-11-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 邱銘;魏天虎;常俏;李聰;黃達(dá)泉;王洪濤;林桐杉;胡哲 | 申請(專利權(quán))人: | 中國建筑科學(xué)研究院有限公司;北京奧博泰科技有限公司;北京奧博泰測控技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01N21/958;G01N21/01 |
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| 地址: | 100013 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 偏振光源 室內(nèi)檢測 鋼化玻璃幕墻 圖像采集模塊 無線通信模塊 連接線 室外 電源模塊 主控模塊 磁鐵 輸入顯示模塊 現(xiàn)場檢測系統(tǒng) 第二殼體 第一殼體 既有建筑 現(xiàn)場檢測 線偏振光 原始圖像 起偏片 鐵板 吸合 采集 圖像 分析 | ||
本發(fā)明公開了一種鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測系統(tǒng),包括室內(nèi)檢測裝置、室外偏振光源和連接線,室內(nèi)檢測裝置和室外偏振光源通過連接線相連。所述室內(nèi)檢測裝置包括第一圖像采集模塊、第二圖像采集模塊、輸入顯示模塊、第一電源模塊、第一無線通信模塊、第一主控模塊、磁鐵和第一殼體,用于采集光彈圖像和原始圖像,分析確定雜質(zhì)和缺陷的類型、尺寸和位置等信息。所述室外偏振光源包括起偏片、LED光源、第二電源模塊、第二無線通信模塊、第二主控模塊、用于與磁鐵吸合的鐵板和第二殼體,用于形成線偏振光。本發(fā)明適合現(xiàn)場檢測既有建筑的鋼化玻璃幕墻的雜質(zhì)和缺陷。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及鋼化玻璃幕墻檢測的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在現(xiàn)代建筑中玻璃幕墻應(yīng)用越來越廣泛,由于鋼化玻璃的強度是普通平板玻璃的數(shù)倍,鋼化玻璃的安全性能好,出于安全和強度方面的考慮,現(xiàn)代的玻璃幕墻大都采用鋼化玻璃。
玻璃是一種典型的脆性材料,具有抗壓強度高,抗拉強度低的特點。幾乎所有的玻璃都是由于拉應(yīng)力引起,而鋼化玻璃的鋼化應(yīng)力狀態(tài)是表面受壓,內(nèi)部受拉,處于內(nèi)部的雜質(zhì)和缺陷在一定條件下可產(chǎn)生局部應(yīng)力集中并疊加原有拉應(yīng)力導(dǎo)致玻璃自爆?!堕T窗幕墻用鋼化玻璃中雜質(zhì)和缺陷的在線檢測技術(shù)淺析》(門窗,1,2-6,2009)分析了鋼化玻璃自爆的原因,指出鋼化玻璃的自爆和破碎一般可歸咎于玻璃中所含的雜質(zhì)和缺陷導(dǎo)致的應(yīng)力分布不均勻。
在玻璃工業(yè)領(lǐng)域,經(jīng)常采用光彈法來檢測鋼化玻璃雜質(zhì)和缺陷,即將鋼化玻璃放置在兩片十字交叉的偏振片之間,通過偏振光掃描鋼化玻璃幕墻內(nèi)雜質(zhì)或缺陷引起的光彈應(yīng)力斑檢測雜質(zhì)或缺陷。 《門窗幕墻用鋼化玻璃中雜質(zhì)和缺陷的在線檢測技術(shù)淺析》(門窗,1,2-6,2009)介紹了透射式光彈原理,并基于透射式光彈原理,通過利用自然光和暗箱檢偏器設(shè)計,形成無能耗的光強差,將自然光作為起偏器的入射光源,利用經(jīng)磨砂處理后的有機玻璃平板形成漫反射光源,利用暗箱檢偏器與自然光的光強差獲得玻璃內(nèi)部和表面的光彈應(yīng)力斑,獲取幕墻玻璃的應(yīng)力條紋圖像,然后對應(yīng)力條紋進(jìn)行圖像處理和分析,找出應(yīng)力條紋中的奇異或突變點,包括應(yīng)力集中點,對這些區(qū)域進(jìn)一步放大分析,確定雜質(zhì)或缺陷的類型、尺寸以及位置。該技術(shù)方案可檢測服役鋼化玻璃幕墻中雜質(zhì)和缺陷,但是該技術(shù)方案存在以下問題:
(1)該檢測裝置采用自然光、有機平板玻璃和起偏片作為偏振光源,一方面使檢測受天氣影響,需要光照充足;另一方面當(dāng)檢測大尺寸的玻璃時需要有機平板玻璃和起偏片的尺寸也大不方便測量;此外,針對既有建筑現(xiàn)場檢測時,有機平板玻璃和起偏片的放置也不方便。
(2)該檢測裝置基于透射式光彈原理,通過采集光彈圖像尋找光彈應(yīng)力斑可發(fā)現(xiàn)雜質(zhì)或缺陷,但是該檢測裝置只能采集光彈圖像,無法采集雜質(zhì)和缺陷的原始圖像,需要借助其他儀器采集雜質(zhì)和缺陷的原始圖像,進(jìn)一步放大分析,確定雜質(zhì)和缺陷的類型、尺寸以及位置。
該室內(nèi)檢測裝置機構(gòu)比較復(fù)雜,集成度不高,不便于現(xiàn)場檢測既有建筑的鋼化玻璃幕墻的雜質(zhì)和缺陷。
發(fā)明內(nèi)容
針對相關(guān)技術(shù)中存在的不足,本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于:提供一種鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測系統(tǒng),以方便現(xiàn)場檢測既有建筑的鋼化玻璃幕墻的雜質(zhì)和缺陷。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:提供一種鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測系統(tǒng),包括室內(nèi)檢測裝置、室外偏振光源和連接線,室內(nèi)檢測裝置和室外偏振光源通過連接線相連。
所述室內(nèi)檢測裝置包括第一圖像采集模塊、第二圖像采集模塊、輸入顯示模塊、第一電源模塊、第一無線通信模塊、第一主控模塊、磁鐵和第一殼體,用于采集光彈圖像和原始圖像,分析確定雜質(zhì)和缺陷的類型、尺寸和位置等信息。所述第一圖像采集模塊、所述第二圖像采集模塊、所述輸入顯示模塊、所述第一電源模塊、所述第一無線通信模塊分別與所述第一主控模塊雙向電氣連接,所述第一圖像采集模塊、所述第二圖像采集模塊、所述輸入顯示模塊、所述第一電源模塊、所述第一主控模塊與所述磁鐵均通過所述第一殼體固定安裝。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





