[發明專利]一種消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法在審
| 申請號： | 201910910879.6 | 申請日： | 2019-09-25 |
| 公開（公告）號： | CN110487404A | 公開（公告）日： | 2019-11-22 |
| 發明（設計）人： | 葉高翱;江文濤;林新苗 | 申請（專利權）人： | 臺州市維譜智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G01J3/28 | 分類號： | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 33101 杭州九洲專利事務所有限公司 | 代理人： | 沈建琴<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址： | 317500 浙江省臺州市溫嶺*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 衍射 光柵光譜儀 成像傳感器 波長 標定過程 衍射光 實測 原始光譜數據 讀取 一級衍射光 成像位置 待測物體 光譜數據 校正處理 校正系數 一級衍射 增加系統 窄帶光源 不重疊 復雜度 標定 照射 存儲 響應 重復 | ||
1.一種消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法，其特征在于：包括標定過程和實測過程，其中標定過程包括：
步驟A1：根據光柵光譜儀的響應波長范圍，確定光柵光譜儀的成像傳感器上接收到的衍射級次m的范圍；
步驟A2：從m最大的衍射級次mmax開始向最小的衍射級次mmin依次進行標定，重復下列步驟：
(1)選擇窄帶光源照射，使得其波長范圍光的m級衍射落在成像傳感器上，且與一級衍射的成像位置不發生重疊；
(2)讀取成像傳感器的一級衍射光區域，獲得每一個波長λ的一級衍射光的光強I1(λ)＝Iraw(λ)，其中Iraw為成像傳感器上讀取的原始數據；
(3)讀取成像傳感器的高級衍射區域，獲取每一個波長λ的m級衍射光的光強其中，n為該區域內存在的所有比m更高的衍射級次，且mλ/n在窄帶光源的波長范圍內,Rn(mλ/n)為該區域存在的所有比m更高的衍射級次的校正系數；
(4)根據m級衍射的光強與其對應的一級衍射的光強數據，計算窄帶光源波長范圍內的校正系數Rm(λ)；
(5)將Rm(λ)的值儲存于計算機中作為校正系數表；
實測過程包括：
步驟B1：使用光柵光譜儀測量待測物體的光譜，獲得待測物體原始數據；
步驟B2：調用校正系數表，對待測物體原始數據進行校正處理，得到物體真實的光譜強度。
2.根據權利要求1所述的消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法，其特征在于：在步驟(4)中，校正系數的計算公式為
3.根據權利要求1所述的消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法，其特征在于：所述實測過程中，待測物體光譜的校正處理公式為：
4.根據權利要求1或2或3所述的消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法，其特征在于：當光柵光譜儀的響應波長范圍λlow從到λhigh，m的最大值mmax為λhigh/λlow的整數部分。
5.根據權利要求1或2或3所述的消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法，其特征在于：所述窄帶光源選用寬帶光源和窄帶濾波片組合而成。
6.根據權利要求1或2或3所述的消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法，其特征在于：所述標定過程和實測過程的光路均包括響應波長濾光片、狹縫、準直光學系統、光柵、成像光學系統、成像傳感器。
7.根據權利要求1所述的消除光柵光譜儀高級衍射影響的方法，其特征在于：所述標定過程在標準實驗室環境條件下進行。
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