[發明專利]能夠在I線高產酸的磺酰亞胺類光產酸劑有效
| 申請號: | 201910908573.7 | 申請日: | 2019-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN112558409B | 公開(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發明(設計)人: | 錢曉春;胡春青;龔艷;劉葛 | 申請(專利權)人: | 常州強力先端電子材料有限公司;常州強力電子新材料股份有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/004 | 分類號: | G03F7/004;C09D11/03;C09D11/38;C09D7/63;C07D209/48;C07D403/04;C07D401/04;C07D209/86;C07D409/04;C07D417/04;C07D413/04;C07D209/88 |
| 代理公司: | 北京漢德知識產權代理事務所(普通合伙) 11328 | 代理人: | 劉子文;徐馳 |
| 地址: | 213159 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 能夠 高產 亞胺 類光產酸劑 | ||
1.一種能夠在I線高產酸的磺酰亞胺類光產酸劑,具有通式(A)所示結構:
其中,
R1為C1-C6的直鏈或支鏈的全氟代烷基、全氟代苯基、至少一個氫原子被C1-C6的烷基或氟代烷基所取代的苯基、或樟腦基;
L為連接位在N原子上的吡咯基、吲哚基、1,2-二氫喹啉基、嗎啉基、咪唑基或咔唑基,任選地,L上的至少一個氫原子可以被R2所取代;其中,
R2選自下列基團:
鹵素;
C1-C20的直鏈或支鏈的烷基或鹵代烷基,任選地,其中的-CH2-可以被-O-或-S-所取代;
苯基,任選地,其中的至少一個氫原子可以被C1-C4的烷基所取代;
C7-C10的苯基烷基,任選地,其中的-CH2-可以被-O-所取代;
R1’-CO-,其中R1’表示C1-C6的烷基、苯基,且任選地,苯基中的至少一個氫原子可以被C1-C4的烷基或烷氧基所取代;
R2’-CO-O-R3’-,其中R2’表示C1-C8的烷基、苯基,R3’表示單鍵或C3-C4的炔基,并且所述烷基中的-CH2-可任選地被-O-所取代,所述苯基中的至少一個氫原子可任選地被C1-C4的烷基所取代;
C2-C6的直鏈或支鏈的烯基,任選地,其中的-CH2-可以被-O-所取代;
以C6-C10的芳基為封端的C2-C4的烯基;
C2-C6的直鏈或支鏈的炔基;
以C6-C10的芳基為封端的C2-C4的炔基;
C1-C6的烷基磺酰氧基,任選地,烷基上的氫可以被氟原子所取代;
或C6-C10的芳基磺酰氧基;
并且當R2的數量大于1時,它們可彼此相同或不同。
2.根據權利要求1所述的磺酰亞胺類光產酸劑,其特征在于:所述鹵素為氟、氯、溴或碘原子。
3.根據權利要求1所述的磺酰亞胺類光產酸劑,其特征在于,選自下列結構:
4.一種酸產生方法,其特征在于:對權利要求1-3中任一項所述的磺酰亞胺類光產酸劑照射活性能量射線。
5.根據權利要求4所述的酸產生方法,其特征在于:所述活性能量射線為近紫外光區域、可見光區域的波長在300-450nm之間的活性能量射線。
6.根據權利要求5所述的酸產生方法,其特征在于:所述活性能量射線為波長365nm的活性能量射線。
7.權利要求1-3中任一項所述的磺酰亞胺類光產酸劑在制備涂料、涂敷劑、油墨、抗蝕膜、液態抗蝕劑、負型抗蝕劑、正型抗蝕劑、MEMS用抗蝕劑、負型感光性材料、立體光刻和微立體光刻用材料中的應用。
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