[發明專利]一種基于變異系數的睫毛遮擋區域預檢測方法

有效

• 申請號: 201910899748.2
• 申請日: 2019-09-23
• 公開（公告）號: CN110781747B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 葉學義;陳妍婷;季畢勝;陳澤;魏陽洋
• 申請（專利權）人: 杭州電子科技大學
• 主分類號: G06V40/19
• 分類號: G06V40/19;G06V40/18
• 代理公司: 杭州君度專利代理事務所(特殊普通合伙) 33240
• 代理人: 楊舟濤

1.一種基于變異系數的睫毛遮擋區域預檢測方法，其特征在于，該方法步驟如下：

步驟(1).以虹膜圓心為原點，對虹膜區域進行等弧度扇形分塊；

步驟(2).判斷各虹膜上分塊是否受睫毛遮擋，分別計算關于虹膜圓心對稱的上下倆分塊的變異系數，當上分塊的變異系數大于下分塊的變異系數，且上分塊的變異系數與下分塊的變異系數的差值大于等于設定的閾值Thr，0≤Thr≤0.15，則該上分塊受睫毛遮擋，不滿足則上分塊不受睫毛遮擋；

步驟(3).將虹膜上半分塊區域I₁內受睫毛遮擋的分塊區域進行整合獲得睫毛遮擋區域；

步驟(1).具體方法如下：

以虹膜圓心為原點，間隔為θ弧度，5≤θ≤20，將虹膜劃分為n個分塊，n為偶數，分塊區域S_i＝[(i-1)×θ，i×θ]，i＝1，2，…，n；虹膜上半分塊區域I₁包括分塊區域S_i，i＝1，2，…，n/2，虹膜下半分塊區域I₂包括分塊區域S_i，i＝n/2+1，n/2+2，…，n；

步驟(2)具體方法如下：

計算虹膜上分塊S₁與關于虹膜圓心對稱的虹膜下分塊的變異系數，具體公式如下；f(p，q)表示分塊中第p行、第q列處像素點的像素值；N₁表示虹膜上分塊S₁內的像素點個數，N₂I₁表示虹膜下分塊內的像素點個數；

計算S₁內的灰度均值μ₁；

計算內的灰度均值

計算S₁區域內的灰度標準差V₁：

計算區域內的灰度標準差

計算S₁區域內的變異系數CV₁；

計算區域內的變異系數

當時虹膜上分塊區域S₁受睫毛遮擋；

當時虹膜上分塊區域S₁不受睫毛遮擋；

步驟(3)具體方法如下：

首先判斷分塊區域S₁是否受睫毛遮擋，當分塊區域S₁不受睫毛遮擋時，則判斷下一個分塊區域S₂中是否受睫毛遮擋，依次類推，直到檢測到第一個受睫毛遮擋的分塊區域，停止判斷，并將其標記為S_T1；然后判斷分塊區域S_n/2是否受睫毛遮擋，當分塊區域S_n/2不受睫毛遮擋時，則判斷下一個分塊區域S_n/2-1是否受睫毛遮擋，依次類推，直到檢測到第一個受睫毛遮擋的分塊區域，停止判斷，并將其標記為S_T2；最后將分塊區域S_T1、S_T2以及兩者之間的分塊區域整合獲得睫毛遮擋區域。