[發(fā)明專利]一種基于Morlet小波變換的白光干涉信號漏采樣校正方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910898078.2
• 申請日: 2019-09-23
• 公開（公告）號: CN110701997A
• 公開（公告）日: 2020-01-17
• 發(fā)明（設計）人: 楊忠明;辛磊;劉兆軍
• 申請（專利權）人: 山東大學
• 主分類號: G01B9/02
• 分類號: G01B9/02;G01B11/06;G01B11/24
• 代理公司: 37247 青島華慧澤專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 馬千會

1.一種基于Morlet小波變換的白光干涉信號漏采樣校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)將CCD采集到的干涉信號進行高斯濾波處理；

(2)對步驟(1)處理后的干涉信號進行Morlet小波變換處理，獲得小波系數(shù)；

(3)根據(jù)小波系數(shù)找出漏采樣位置，用三次樣條插值法擬合干涉信號，補全光強變化曲線，獲得經(jīng)校正的新的干涉信號。

2.根據(jù)權利要求1所述的基于Morlet小波變換的白光干涉信號漏采樣校正方法，其特征在于，所述的步驟(2)中，選用窗寬為10的高斯窗濾波器對干涉信號進行平滑處理。

3.根據(jù)權利要求2所述的基于Morlet小波變換的白光干涉信號漏采樣校正方法，其特征在于，所述的步驟(2)中，選用cmor1-1.5小波基作為Morlet小波變換的小波基。

4.根據(jù)權利要求3所述的基于Morlet小波變換的白光干涉信號漏采樣校正方法，其特征在于，所述的步驟(3)中，對步驟(2)獲得的小波系數(shù)曲線調(diào)用MATLAB的findpeaks函數(shù)，找出其畸變位置，并將畸變位置處的干涉光強值賦值為空值；所述的畸變位置即為漏采樣位置。

5.根據(jù)權利要求4所述的基于Morlet小波變換的白光干涉信號漏采樣校正方法，其特征在于，所述步驟(3)中，三次樣條擬合函數(shù)定義如下：

若函數(shù)f(Δ)∈C²[Δ₁，Δ₂]，且在每個該區(qū)間段內(nèi)的小區(qū)間中，至少一個區(qū)間滿足三次多項式：

f_j(Δ)＝a₁Δ³+a₂Δ²+a₃Δ+a₄ (1)

其中f_j(Δ)為小區(qū)間內(nèi)擬合函數(shù)，a₁～a₄為擬合函數(shù)系數(shù)，Δ表示光程差，f(Δ)為給定區(qū)間范圍內(nèi)的三次樣條函數(shù)。