[發明專利]測量裝置和測量方法

在審

• 申請號: 201910891846.1
• 申請日: 2019-09-20
• 公開（公告）號: CN110940487A
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發明（設計）人: 青木省一
• 申請（專利權）人: 橫河電機株式會社;橫河計測株式會社
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 李成必;李雪春

本發明提供測量裝置和測量方法，所述測量裝置(10)包括：發光部(13)，照射與成為被測量對象的光纖光學部件(20)耦合的脈沖光；受光部(15)，檢測被測量光，該被測量光基于由發光部(13)照射的脈沖光產生且向與脈沖光的傳播方向相反方向傳播；以及控制部(11)，基于由受光部(15)檢測的被測量光的檢測信號，計算與光纖光學部件(20)關聯的參數，控制部(11)判斷計算的參數是否超過規定閾值，判斷為計算的參數超過了規定閾值時，使脈沖光的平均強度下降。

相關申請的交叉參考

本申請主張2018年9月25日向日本特許廳提交的日本專利申請2018-179049號的優先權，并且將該申請的全部公開內容并入本文以供參照。

技術領域

本發明涉及測量裝置和測量方法。

背景技術

在包括光纖等的光纖光學部件中以往公知一種與測量裝置關聯的技術，該測量裝置進行光纖光學部件的故障點的搜索和該故障點的光損失測量等。

例如，在專利文獻1中公開了一種光脈沖試驗裝置，當確認光纖的熔接和接合時，能夠縮短并減少用戶進行與OTDR(Optical Time Domain Reflectometer光時域反射儀)的測量監測相關的時間。

現有技術文獻

專利文獻1：日本專利公開公報特開2012-163481號

在使用這種光纖光學部件的測量中，例如存在多個成為被測量對象的光纖光學部件時、以及光纖光學部件的光波導部分斷裂時等，用戶需要取下與測量裝置連接的一個光纖光學部件并重新與其他光纖光學部件連接。此時，如果持續從測量裝置照射脈沖光，則例如測量裝置的光射出端面有可能燒損。因此，用戶更換與測量裝置連接的光纖光學部件時，每次都需要使測量裝置停止。由此，作業效率下降。在專利文獻1中，未充分考慮這種課題。

發明內容

本發明的目的在于提供測量裝置和測量方法，即使在需要更換成為被測量對象的光纖光學部件時也提高了測量的作業效率。

多種實施方式的測量裝置包括：發光部，照射與成為被測量對象的光纖光學部件耦合的脈沖光；受光部，檢測被測量光，所述被測量光基于由所述發光部照射的所述脈沖光產生且向與所述脈沖光的傳播方向相反方向傳播；以及控制部，基于由所述受光部檢測的所述被測量光的檢測信號，計算與所述光纖光學部件關聯的參數，所述控制部判斷計算的所述參數是否超過規定閾值，判斷為計算的所述參數超過了規定閾值時，使所述脈沖光的平均強度下降。按照這種測量裝置，即使需要更換成為被測量對象的光纖光學部件時也提高了測量的作業效率。更具體地說，控制部基于參數的變化來判斷測量裝置和光纖光學部件的非連接狀態，并且使脈沖光的平均強度下降，由此不需要像現有技術那樣由用戶有意圖地使測量裝置停止的步驟。同樣，控制部基于參數的變化來判斷光纖光學部件的斷裂狀態，并且使脈沖光的平均強度下降，由此不需要像現有技術那樣由用戶有意圖地使測量裝置停止的步驟。即，由于脈沖光的平均強度下降，所以即使從測量裝置持續照射脈沖光，也抑制了例如測量裝置的光射出端面的燒損。因此，即使更換光纖光學部件時，用戶也不需要每次確認來自測量裝置的脈沖光的照射停止，從而提高了測量的作業效率。

在一種實施方式中可以是所述控制部基于所述檢測信號，取得將縱軸作為所述被測量光的光強度且將橫軸作為距離的測量波形，所述控制部設定所述測量波形中的規定的距離位置，并且計算設定的所述規定的距離位置的所述參數。由此，控制部只要僅計算規定的距離位置中的參數即可，減輕了與數據處理相關的負荷。即，容易進行數據處理。

在一種實施方式中可以是所述光纖光學部件包括光纖，所述被測量光包括在所述測量裝置中的與所述光纖的耦合部反射的反射光，所述規定的距離位置與所述耦合部對應。由此，控制部能夠基于耦合部中的參數變化來判斷測量裝置和光纖光學部件的非連接狀態。