[發(fā)明專利]一種介質(zhì)濾波器自動(dòng)調(diào)試方法、裝置及系統(tǒng)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910889117.2
• 申請(qǐng)日: 2019-09-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110676553A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-01-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 袁淵
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市中科腦海科技有限公司
• 主分類號(hào): H01P11/00
• 分類號(hào): H01P11/00;G01R31/00;H01P1/20
• 代理公司: 44314 深圳市瑞方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙)
• 代理人: 林儉良

本發(fā)明公開(kāi)了一種介質(zhì)濾波器自動(dòng)調(diào)試方法、裝置及系統(tǒng)，其中，介質(zhì)濾波器包括介質(zhì)體，在介質(zhì)體上設(shè)有多個(gè)諧振孔，并且介質(zhì)體的表面全部或部分覆蓋有導(dǎo)電物質(zhì)，該方法包括以下步驟：S1：通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀讀取介質(zhì)濾波器的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)性能；S2：將實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)性能與目標(biāo)性能進(jìn)行比對(duì)，以產(chǎn)生控制信號(hào)；S3：根據(jù)控制信號(hào)，通過(guò)至少一個(gè)去除單元，對(duì)諧振孔表面的導(dǎo)電物質(zhì)進(jìn)行去除；重復(fù)上述步驟S1?S3，直至實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)性能與目標(biāo)性能相匹配。通過(guò)實(shí)施本發(fā)明，可以極大的降低生產(chǎn)成本，以及提升產(chǎn)能，充分滿足實(shí)際介質(zhì)濾波器生產(chǎn)規(guī)模化，產(chǎn)業(yè)化的需求。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及介質(zhì)濾波器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種介質(zhì)濾波器自動(dòng)調(diào)試方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

作為必不可少的選頻器件，濾波器是現(xiàn)代移動(dòng)通訊系統(tǒng)的關(guān)鍵器件，也是無(wú)線通訊基站和信號(hào)覆蓋的核心器件，濾波器的性能優(yōu)劣直接影響整個(gè)系統(tǒng)的質(zhì)量。介質(zhì)濾波器具有高阻帶抑制、頻帶寬、通帶內(nèi)平坦、群時(shí)延小和過(guò)度帶窄等優(yōu)良性能，在現(xiàn)代移動(dòng)通訊系統(tǒng)中，得到了廣泛的應(yīng)用。

如圖1所示，介質(zhì)濾波器基本結(jié)構(gòu)是介質(zhì)體(通常是陶瓷體)上有一系列的諧振/耦合孔以及諧振/耦合間隙，介質(zhì)體表面全部或部分有銀漿等導(dǎo)電物質(zhì)覆蓋。將諧振/耦合孔內(nèi)底部和/或內(nèi)側(cè)壁的銀漿等導(dǎo)電物質(zhì)去除，因此改變相應(yīng)的等效電容及等效電感值，從而調(diào)節(jié)介質(zhì)濾波器的性能指標(biāo)，此為介質(zhì)濾波器的性能調(diào)試過(guò)程。由于介質(zhì)濾波器性能要求高，諧振/耦合孔內(nèi)底部和/ 或內(nèi)側(cè)壁的銀漿等導(dǎo)電物質(zhì)的去除量非常敏感，而諧振/耦合孔數(shù)目較多，所以介質(zhì)濾波器的調(diào)試十分困難和繁復(fù)。

長(zhǎng)期以來(lái)，介質(zhì)濾波器的調(diào)試基本都采用經(jīng)驗(yàn)工人手工調(diào)試，將介質(zhì)濾波器接上網(wǎng)絡(luò)分析儀，經(jīng)驗(yàn)工人手持電動(dòng)工具轉(zhuǎn)動(dòng)磨頭，磨頭伸入諧振/耦合孔內(nèi)，對(duì)孔底部和/或內(nèi)側(cè)壁的銀漿等導(dǎo)電物質(zhì)進(jìn)行去除，網(wǎng)絡(luò)分析儀實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)介質(zhì)濾波器性能變化，經(jīng)驗(yàn)工人完全依照工作熟練程度，以及實(shí)際操作經(jīng)驗(yàn)積累，根據(jù)介質(zhì)濾波器的性能變化，反復(fù)嘗試多組諧振/耦合孔內(nèi)，底部和/ 或內(nèi)側(cè)壁的銀漿等導(dǎo)電物質(zhì)去除量的組合，最后實(shí)現(xiàn)介質(zhì)濾波器的性能。所以，介質(zhì)濾波器的調(diào)試是復(fù)雜而繁重的，只有經(jīng)過(guò)充分訓(xùn)練的經(jīng)驗(yàn)工人，才能完成介質(zhì)濾波器的復(fù)雜調(diào)試工作，實(shí)現(xiàn)介質(zhì)濾波器的性能，而且在介質(zhì)濾波器實(shí)際大量生產(chǎn)中，由于生產(chǎn)裝配等誤差因素影響，每只介質(zhì)濾波器必須通過(guò)熟練工人完全調(diào)試，才能實(shí)現(xiàn)性能的一致性和穩(wěn)定性，由此而帶來(lái)巨大的生產(chǎn)成本和產(chǎn)能瓶頸，一直是困擾介質(zhì)濾波器規(guī)模化，產(chǎn)業(yè)化發(fā)展的巨大障礙。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中介質(zhì)濾波器的調(diào)試十分困難和繁復(fù)的缺陷，提供一種介質(zhì)濾波器自動(dòng)調(diào)試方法、裝置及系統(tǒng)。

本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：構(gòu)造一種介質(zhì)濾波器自動(dòng)調(diào)試方法，其中，所述介質(zhì)濾波器包括介質(zhì)體，在所述介質(zhì)體上設(shè)有多個(gè)諧振孔，并且所述介質(zhì)體的表面全部或部分覆蓋有導(dǎo)電物質(zhì)，該方法包括以下步驟：

S1：通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀讀取所述介質(zhì)濾波器的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)性能；

S2：將所述實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)性能與目標(biāo)性能進(jìn)行比對(duì)，以產(chǎn)生控制信號(hào)；

S3：根據(jù)所述控制信號(hào)，通過(guò)至少一個(gè)去除單元，對(duì)所述諧振孔表面的導(dǎo)電物質(zhì)進(jìn)行去除；

重復(fù)上述步驟S1-S3，直至所述實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)性能與所述目標(biāo)性能相匹配。

優(yōu)選地，在本發(fā)明所述的介質(zhì)濾波器自動(dòng)調(diào)試方法中，所述去除單元包括至少兩個(gè)，分別與至少兩個(gè)所述諧振孔對(duì)應(yīng)。

優(yōu)選地，在本發(fā)明所述的介質(zhì)濾波器自動(dòng)調(diào)試方法中，在所述步驟S3中，包括：

S3-1：將所述介質(zhì)濾波器固定于調(diào)試平臺(tái)的機(jī)臺(tái)平臺(tái)上；

S3-2：根據(jù)所述控制信號(hào)，驅(qū)動(dòng)所述去除單元定位于對(duì)應(yīng)的所述諧振孔的位置處；

S3-3：由所述去除單元根據(jù)所述控制信號(hào)的設(shè)定導(dǎo)電物質(zhì)去除量，去除其對(duì)應(yīng)的所述諧振孔中對(duì)應(yīng)數(shù)量的導(dǎo)電物質(zhì)。