[發(fā)明專利]一種系統(tǒng)測試的方法及相關(guān)裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910880364.6
• 申請日: 2019-09-18
• 公開（公告）號: CN110750446A
• 公開（公告）日: 2020-02-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃惠娜
• 申請（專利權(quán)）人: 平安科技(深圳)有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 44202 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強(qiáng)

本申請?zhí)峁┮环N系統(tǒng)測試的方法及相關(guān)裝置。一種系統(tǒng)測試的方法應(yīng)用于系統(tǒng)測試平臺(tái)，系統(tǒng)測試平臺(tái)對接多個(gè)系統(tǒng)，所述方法包括：從多個(gè)系統(tǒng)中確定需要進(jìn)行測試的待測系統(tǒng)；接收參數(shù)配置指令，根據(jù)參數(shù)配置指令攜帶的參數(shù)對待測系統(tǒng)的接口進(jìn)行參數(shù)配置；獲取待測系統(tǒng)的M種測試數(shù)據(jù)類型分別對應(yīng)的數(shù)據(jù)依賴度、數(shù)據(jù)使用頻率和數(shù)據(jù)生成難度，M為正整數(shù)；根據(jù)數(shù)據(jù)依賴度、數(shù)據(jù)使用頻率和數(shù)據(jù)生成難度從M種測試數(shù)據(jù)類型中選擇出優(yōu)先級高的N種測試數(shù)據(jù)類型，以生成N條測試數(shù)據(jù)，N為不大于M的正整數(shù)；根據(jù)N條測試數(shù)據(jù)編寫測試用例，通過待測系統(tǒng)的接口對待測系統(tǒng)執(zhí)行系統(tǒng)測試。本申請實(shí)施例的技術(shù)方案，有利于提供系統(tǒng)測試的效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種系統(tǒng)測試的方法及相關(guān)裝置。

背景技術(shù)

系統(tǒng)測試是針對整個(gè)產(chǎn)品系統(tǒng)進(jìn)行的測試，目的是驗(yàn)證系統(tǒng)是否滿足了需求規(guī)格的定義，找出與需求規(guī)格不相符合或與之矛盾的地方。系統(tǒng)測試的對象不僅僅包括需要測試的產(chǎn)品系統(tǒng)的軟件，還要包含軟件所依賴的硬件、外設(shè)甚至包括某些數(shù)據(jù)、某些支持軟件及其接口等。

目前在對系統(tǒng)進(jìn)行測試的過程中，需要人為構(gòu)造測試數(shù)據(jù)，當(dāng)被測系統(tǒng)的數(shù)量較多時(shí)，人為構(gòu)造測試數(shù)據(jù)的過程較為繁瑣，并且，測試過程中需要構(gòu)造所有類型的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試，這樣會(huì)花費(fèi)大量時(shí)間和資源，系統(tǒng)測試的效率較低。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實(shí)施例提供一種系統(tǒng)測試的方法及相關(guān)裝置，有利于提高系統(tǒng)測試的效率。

本申請第一方面提供一種系統(tǒng)測試的方法，所述方法應(yīng)用于系統(tǒng)測試平臺(tái)，所述系統(tǒng)測試平臺(tái)對接多個(gè)系統(tǒng)，所述方法包括：

從所述多個(gè)系統(tǒng)中確定需要進(jìn)行測試的待測系統(tǒng)；

接收參數(shù)配置指令，根據(jù)所述參數(shù)配置指令攜帶的參數(shù)對所述待測系統(tǒng)的接口進(jìn)行參數(shù)配置；

獲取所述待測系統(tǒng)的M種測試數(shù)據(jù)類型分別對應(yīng)的數(shù)據(jù)依賴度、數(shù)據(jù)使用頻率和數(shù)據(jù)生成難度，M為正整數(shù)；

根據(jù)數(shù)據(jù)依賴度、數(shù)據(jù)使用頻率和數(shù)據(jù)生成難度從所述M種測試數(shù)據(jù)類型中選擇出優(yōu)先級高的N種測試數(shù)據(jù)類型，以生成N條測試數(shù)據(jù)，所述N條測試數(shù)據(jù)與所述N種測試數(shù)據(jù)類型一一對應(yīng)，N為不大于M的正整數(shù)；

根據(jù)所述N條測試數(shù)據(jù)編寫測試用例，通過所述待測系統(tǒng)的接口對所述待測系統(tǒng)執(zhí)行系統(tǒng)測試。

本申請第二方面提供了一種系統(tǒng)測試的裝置，所述裝置應(yīng)用于系統(tǒng)測試平臺(tái)，所述系統(tǒng)測試平臺(tái)對接多個(gè)系統(tǒng)，所述裝置包括：

確定單元，用于從所述多個(gè)系統(tǒng)中確定需要進(jìn)行測試的待測系統(tǒng)；

配置單元，用于接收參數(shù)配置指令，根據(jù)所述參數(shù)配置指令攜帶的參數(shù)對所述待測系統(tǒng)的接口進(jìn)行參數(shù)配置；

獲取單元，用于獲取所述待測系統(tǒng)的M種測試數(shù)據(jù)類型分別對應(yīng)的數(shù)據(jù)依賴度、數(shù)據(jù)使用頻率和數(shù)據(jù)生成難度，M為正整數(shù)；

選擇單元，用于根據(jù)數(shù)據(jù)依賴度、數(shù)據(jù)使用頻率和數(shù)據(jù)生成難度從所述M種測試數(shù)據(jù)類型中選擇出優(yōu)先級高的N種測試數(shù)據(jù)類型，以生成N條測試數(shù)據(jù)，所述N條測試數(shù)據(jù)與所述N種測試數(shù)據(jù)類型一一對應(yīng)，N為不大于M的正整數(shù)；

測試單元，用于根據(jù)所述N條測試數(shù)據(jù)編寫測試用例，通過所述待測系統(tǒng)的接口對所述待測系統(tǒng)執(zhí)行系統(tǒng)測試。

本申請第三方面提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括處理器、存儲(chǔ)器、通信接口以及一個(gè)或多個(gè)程序，其中，所述一個(gè)或多個(gè)程序被存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中，并且被配置由所述處理器執(zhí)行，所述程序包括用于執(zhí)行本申請第一方面任一方法中的步驟的指令。

本申請第四方面提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)本申請第一方面任一方法中所描述的部分或全部步驟。