[發(fā)明專利]一種壓電MEMS結(jié)構(gòu)親水性硅硅直接鍵合工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910879204.X | 申請日: | 2019-09-18 |
| 公開(公告)號: | CN110642221B | 公開(公告)日: | 2022-08-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王春慧;平鵬祥;邵金友;田洪淼;楊正杰;王小培;嚴(yán)超 | 申請(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號: | B81B7/02 | 分類號: | B81B7/02;B81C1/00 |
| 代理公司: | 西安智大知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 61215 | 代理人: | 賀建斌 |
| 地址: | 710049 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 壓電 mems 結(jié)構(gòu) 親水性 直接 工藝 | ||
一種壓電MEMS結(jié)構(gòu)親水性硅硅直接鍵合工藝,先在帶有壓電結(jié)構(gòu)圖案區(qū)的第一硅片上旋涂光刻膠作為壓電材料的第一保護(hù)層,將掩膜版圖案轉(zhuǎn)移到第一保護(hù)層上,在第一保護(hù)層上貼上一層聚酰亞胺作為第二保護(hù)層;再將第一硅片經(jīng)過氧等離子體表面活化、濕法活化處理;然后將另一塊不帶壓電材料且經(jīng)過MEMS工藝處理后具有體硅結(jié)構(gòu)的第二硅片經(jīng)過清洗,兩塊硅片通過Si?O?Si鍵實(shí)現(xiàn)預(yù)鍵合;本發(fā)明通過親水性硅硅低溫直接鍵合方法實(shí)現(xiàn)硅基壓電MEMS結(jié)構(gòu)與硅基基底的低溫、氣密性的高質(zhì)量有效鍵合,并且通過壓電材料的保護(hù)方法避免鍵合過程中化學(xué)清洗處理對任意壓電材料的損傷,可實(shí)現(xiàn)包含壓電材料的硅基壓電MEMS結(jié)構(gòu)與硅基基底的高可靠性鍵合。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種壓電MEMS結(jié)構(gòu)親水性硅硅直接鍵合工藝。
背景技術(shù)
壓電材料具備壓電效應(yīng)或者逆壓電效應(yīng),能夠?qū)崿F(xiàn)電能與機(jī)械能之間的相互轉(zhuǎn)化,將其應(yīng)用于MEMS領(lǐng)域開發(fā)出的壓電MEMS結(jié)構(gòu)通過單片即可實(shí)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)、傳感、能量收集等功能,是應(yīng)用潛力巨大的熱點(diǎn)技術(shù)。包含壓電材料的硅基壓電MEMS結(jié)構(gòu)與硅基基底的有效鍵合,是開發(fā)壓電式微滴噴射打印頭、壓電微流體泵、壓電微傳感器等諸多壓電MEMS器件的關(guān)鍵甚至決定性因素,高可靠性的鍵合技術(shù)對于壓電MEMS技術(shù)的發(fā)展至關(guān)重要。
現(xiàn)有技術(shù)中,有采用陽極鍵合、硅硅熔融鍵合、金硅共晶鍵合等方法實(shí)現(xiàn)包含壓電材料的硅基壓電MEMS結(jié)構(gòu)與硅基基底的鍵合,但是由于其鍵合溫度一般在300-1200℃,大于多數(shù)壓電材料的居里溫度(如大部分PZT壓電陶瓷居里溫度在200-300℃),會(huì)對壓電MEMS結(jié)構(gòu)的性能產(chǎn)生嚴(yán)重不利影響,這造成了陽極鍵合、硅硅熔融鍵合、金硅共晶鍵合等技術(shù)的應(yīng)用受限。同時(shí)由于較高的鍵合溫度會(huì)造成上下異質(zhì)結(jié)構(gòu)熱膨脹效應(yīng)的不匹配甚至翹曲,破壞壓電MEMS器件的對準(zhǔn)精度。聚合物黏結(jié)鍵合(如環(huán)氧樹脂黏結(jié)鍵合)的鍵合溫度可小于200-300攝氏度甚至達(dá)到室溫鍵合,因此在包含壓電材料的硅基壓電MEMS結(jié)構(gòu)與硅基基底的鍵合中也得到了應(yīng)用,但是由于其鍵合面的氣密性存在問題,并且鍵合可靠性差,在實(shí)際應(yīng)用中作為器件中的薄弱環(huán)節(jié)極大影響了壓電MEMS器件的壽命。采用硅硅直接鍵合的方法理論上可有效避免鍵合溫度、鍵合面等存在上述問題,但是硅硅直接鍵合方法需要在鍵合前對鍵合表面進(jìn)行化學(xué)清洗處理,該過程使用的化學(xué)試劑會(huì)對多數(shù)壓電材料產(chǎn)生損傷,造成壓電MEMS結(jié)構(gòu)的失效,這限制了硅硅直接鍵合方法在包含壓電材料的硅基壓電MEMS結(jié)構(gòu)與硅基基底的鍵合中的使用。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本發(fā)明的目的在于提供一種壓電MEMS結(jié)構(gòu)親水性硅硅直接鍵合工藝,實(shí)現(xiàn)包含壓電材料的硅基壓電MEMS結(jié)構(gòu)與硅基基底的有效鍵合。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明采取的技術(shù)方案為:
一種壓電MEMS結(jié)構(gòu)親水性硅硅直接鍵合工藝,包括如下步驟:
第一步,在帶有壓電結(jié)構(gòu)圖案區(qū)的第一硅片1上旋涂光刻膠作為壓電材料的第一保護(hù)層2,其處理方法為:在帶有壓電材料4的第一硅片1周圍貼上一層膠帶5,使用勻膠機(jī)旋涂一層8微米厚度的光刻膠,95℃前烘10分鐘使光刻膠的溶劑揮發(fā)并且粘附在第一硅片1上;
第二步,將第一硅片1上周圍的膠帶5去除,使用一塊掩膜版進(jìn)行光刻,將掩膜版圖案轉(zhuǎn)移到第一保護(hù)層2上;掩膜版上的圖案與壓電材料4圖案一致,掩膜版上有圖案的區(qū)域?yàn)橥腹猓渌麉^(qū)域?yàn)椴煌腹猓皇褂霉饪虣C(jī)正面對準(zhǔn),曝光30s,使用顯影液AZ400K與去離子水以1:3的配比混合溶液作為顯影液,顯影3分鐘,120℃堅(jiān)膜30分鐘;
第三步,在第一保護(hù)層2上貼上一層聚酰亞胺(PI膠帶)作為第二保護(hù)層3,聚酰亞胺的大小與第一硅片1的大小相同;
第四步,按體積比4:1的配比配制濃硫酸和過氧化氫的混合溶液,將準(zhǔn)備好的第一硅片1放入配制好的溶液中,放在恒溫?zé)岚迳霞訜嶂?10℃,恒溫保持30分鐘;使用特氟龍鑷子將硅片取出,放入裝有去離子水的容器中反復(fù)清洗10分鐘;
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