[發(fā)明專利]一種減小土壤含水率對(duì)多環(huán)芳烴熒光工作曲線影響的校正方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910878785.5
• 申請(qǐng)日: 2019-09-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110806400B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊仁杰;張婧;柳春雨;董桂梅;楊延榮;劉海學(xué);孫國(guó)紅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 天津農(nóng)學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N21/64
• 分類號(hào): G01N21/64;G01N21/3563;G01N21/359
• 代理公司: 天津盛理知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 12209
• 代理人: 張博

1.一種減小土壤含水率對(duì)多環(huán)芳烴熒光工作曲線影響的校正方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟1：選取多個(gè)不同含水率的土壤樣品，并針對(duì)土壤樣本制備多個(gè)不同濃度多環(huán)芳烴的土壤樣品；

步驟2：根據(jù)步驟1中不同含水率多環(huán)芳烴的土壤樣品，建立相應(yīng)多環(huán)芳烴濃度矩陣C；

步驟3：掃描步驟1中制備的每個(gè)土壤樣品制備相應(yīng)的熒光譜和近紅外漫反射光譜；得到每個(gè)土壤樣品的熒光譜和近紅外漫反射光譜；

步驟4：對(duì)于步驟3中的熒光譜，選定用于建立定量分析多環(huán)芳烴工作曲線的定量熒光譜帶M；

步驟5：對(duì)于步驟3中的近紅外漫反射光譜，選定用于校正工作曲線的近紅外漫反射光譜帶N；

步驟6：提取步驟4中定量熒光譜帶M處的熒光強(qiáng)度，得到相應(yīng)熒光強(qiáng)度矩陣F；

步驟7：提取步驟5中近紅外漫反射譜帶N的強(qiáng)度，得到相應(yīng)近紅外漫反射強(qiáng)度矩陣S；

步驟8：通過(guò)步驟7中所提取的近紅外漫反射強(qiáng)度矩陣S對(duì)步驟6中所提取的熒光強(qiáng)度矩陣F進(jìn)行校正，即得到每個(gè)土壤樣品的校正熒光強(qiáng)度矩陣F_c；

步驟9：根據(jù)步驟8 得到的校正熒光強(qiáng)度矩陣F_c和步驟2中建立的多環(huán)芳烴濃度矩陣C，建立校正工作曲線。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種減小土壤含水率對(duì)多環(huán)芳烴熒光工作曲線影響的校正方法，其特征在于：所述土壤樣品的含水率范圍為0-35％。