[發(fā)明專利]缺陷合并的方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201910876015.7
• 申請日: 2019-09-17
• 公開（公告）號: CN110728659A
• 公開（公告）日: 2020-01-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 夏鑫淼;王雙橋;張孟
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳新視智科技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187;G01N21/88
• 代理公司: 44528 深圳中細(xì)軟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 閻昱辰

1.一種缺陷合并的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測目標(biāo)的目標(biāo)圖像，識別目標(biāo)圖像中的缺陷區(qū)域，識別出的缺陷區(qū)域的數(shù)量為至少一個(gè)；

遍歷所述至少一個(gè)缺陷區(qū)域，判斷遍歷到的缺陷區(qū)域與其他缺陷區(qū)域之間的距離是否小于預(yù)設(shè)的第一距離閾值；

若遍歷到的缺陷區(qū)域與其他缺陷區(qū)域之間的距離小于預(yù)設(shè)的第一距離閾值，將遍歷到的缺陷區(qū)域與距離小于預(yù)設(shè)的第一距離閾值的其他缺陷區(qū)域進(jìn)行合并，將合并之后的缺陷區(qū)域作為目標(biāo)缺陷區(qū)域輸出。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述判斷遍歷到的缺陷區(qū)域與其他缺陷區(qū)域之間的距離是否小于預(yù)設(shè)的第一距離閾值的步驟之后，還包括：

若遍歷到的缺陷區(qū)域與其他缺陷區(qū)域之間的距離小于預(yù)設(shè)的第一距離閾值，將與所述遍歷到的缺陷區(qū)域之間的距離小于預(yù)設(shè)的第一距離閾值的其他缺陷區(qū)域添加至所述遍歷到的缺陷區(qū)域所在的缺陷組；

對于每一個(gè)缺陷組，確定該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值，將滿足所述第一特征閾值的缺陷區(qū)域進(jìn)行合并，將合并之后的缺陷區(qū)域作為目標(biāo)缺陷區(qū)域。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值的步驟，還包括：

獲取該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域包含的至少一種第一特征參考值，所述第一特征參考值包括旋轉(zhuǎn)外界矩形參考值、最小外接矩參考值、灰度參考值、長度參考值、寬度參考值、圓度參考值、環(huán)度參考值、凸度參考值和/或扁平度參考值；

判斷所述第一特征參考值是否滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值；

在所述第一特征參考值滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值的情況下，判定該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值的步驟，還包括：

獲取該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域包含的像素點(diǎn)的灰度參考值，計(jì)算該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域的灰度參考值之間的差值，所述灰度參考值包括最小灰度值、平均灰度值和/或最大灰度值中的至少一個(gè)；

判斷所述差值是否滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值；

在所述差值滿足預(yù)設(shè)的第一特征值的情況下，判定該缺陷組包含的每一個(gè)缺陷區(qū)域滿足預(yù)設(shè)的第一特征閾值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述識別目標(biāo)圖像中的缺陷區(qū)域的步驟之后，還包括：

在目標(biāo)圖像包含多幀目標(biāo)子圖像的情況下，針對每一幀目標(biāo)子圖像中的缺陷區(qū)域，確定該缺陷區(qū)域是否處于該目標(biāo)子圖像中的邊緣區(qū)域，所述邊緣區(qū)域位置包括上邊緣區(qū)域和/或右邊緣區(qū)域中的至少一個(gè)；

在該缺陷區(qū)域處于該目標(biāo)子圖像中的邊緣區(qū)域的情況下；

若目標(biāo)子圖像中的缺陷區(qū)域處于上邊緣區(qū)域，則獲取與該目標(biāo)子圖像上相鄰的目標(biāo)子圖像的缺陷區(qū)域作為第一缺陷區(qū)域；

判斷處于上邊緣區(qū)域的缺陷區(qū)域與第一缺陷區(qū)域之間的距離是否滿足預(yù)設(shè)的第二距離閾值；

若滿足預(yù)設(shè)的第二距離閾值，則將所述處于上邊緣區(qū)域的缺陷區(qū)域與第一缺陷區(qū)域進(jìn)行合并，將合并后的缺陷區(qū)域作為目標(biāo)缺陷區(qū)域；

若目標(biāo)子圖像中的缺陷區(qū)域處于右邊緣區(qū)域，則獲取與該目標(biāo)子圖像左右相鄰的目標(biāo)子圖像的邊緣區(qū)域的缺陷區(qū)域作為第二缺陷區(qū)域；

判斷處于右邊緣區(qū)域的缺陷區(qū)域與第二缺陷區(qū)域之間的距離是否滿足預(yù)設(shè)的第二距離閾值；

若滿足預(yù)設(shè)的第二距離閾值，則將所述處于右邊緣區(qū)域的缺陷區(qū)域與第二缺陷區(qū)域進(jìn)行合并，將合并后的缺陷區(qū)域作為目標(biāo)缺陷區(qū)域。