[發明專利]缺陷合并的方法、裝置、計算機設備及存儲介質

在審

• 申請號: 201910876015.7
• 申請日: 2019-09-17
• 公開（公告）號: CN110728659A
• 公開（公告）日: 2020-01-24
• 發明（設計）人: 夏鑫淼;王雙橋;張孟
• 申請（專利權）人: 深圳新視智科技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187;G01N21/88
• 代理公司: 44528 深圳中細軟知識產權代理有限公司
• 代理人: 閻昱辰

1.一種缺陷合并的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測目標的目標圖像，識別目標圖像中的缺陷區域，識別出的缺陷區域的數量為至少一個；

遍歷所述至少一個缺陷區域，判斷遍歷到的缺陷區域與其他缺陷區域之間的距離是否小于預設的第一距離閾值；

若遍歷到的缺陷區域與其他缺陷區域之間的距離小于預設的第一距離閾值，將遍歷到的缺陷區域與距離小于預設的第一距離閾值的其他缺陷區域進行合并，將合并之后的缺陷區域作為目標缺陷區域輸出。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述判斷遍歷到的缺陷區域與其他缺陷區域之間的距離是否小于預設的第一距離閾值的步驟之后，還包括：

若遍歷到的缺陷區域與其他缺陷區域之間的距離小于預設的第一距離閾值，將與所述遍歷到的缺陷區域之間的距離小于預設的第一距離閾值的其他缺陷區域添加至所述遍歷到的缺陷區域所在的缺陷組；

對于每一個缺陷組，確定該缺陷組包含的每一個缺陷區域滿足預設的第一特征閾值，將滿足所述第一特征閾值的缺陷區域進行合并，將合并之后的缺陷區域作為目標缺陷區域。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定該缺陷組包含的每一個缺陷區域滿足預設的第一特征閾值的步驟，還包括：

獲取該缺陷組包含的每一個缺陷區域包含的至少一種第一特征參考值，所述第一特征參考值包括旋轉外界矩形參考值、最小外接矩參考值、灰度參考值、長度參考值、寬度參考值、圓度參考值、環度參考值、凸度參考值和/或扁平度參考值；

判斷所述第一特征參考值是否滿足預設的第一特征閾值；

在所述第一特征參考值滿足預設的第一特征閾值的情況下，判定該缺陷組包含的每一個缺陷區域滿足預設的第一特征閾值。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定該缺陷組包含的每一個缺陷區域滿足預設的第一特征閾值的步驟，還包括：

獲取該缺陷組包含的每一個缺陷區域包含的像素點的灰度參考值，計算該缺陷組包含的每一個缺陷區域的灰度參考值之間的差值，所述灰度參考值包括最小灰度值、平均灰度值和/或最大灰度值中的至少一個；

判斷所述差值是否滿足預設的第一特征閾值；

在所述差值滿足預設的第一特征值的情況下，判定該缺陷組包含的每一個缺陷區域滿足預設的第一特征閾值。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述識別目標圖像中的缺陷區域的步驟之后，還包括：

在目標圖像包含多幀目標子圖像的情況下，針對每一幀目標子圖像中的缺陷區域，確定該缺陷區域是否處于該目標子圖像中的邊緣區域，所述邊緣區域位置包括上邊緣區域和/或右邊緣區域中的至少一個；

在該缺陷區域處于該目標子圖像中的邊緣區域的情況下；

若目標子圖像中的缺陷區域處于上邊緣區域，則獲取與該目標子圖像上相鄰的目標子圖像的缺陷區域作為第一缺陷區域；

判斷處于上邊緣區域的缺陷區域與第一缺陷區域之間的距離是否滿足預設的第二距離閾值；

若滿足預設的第二距離閾值，則將所述處于上邊緣區域的缺陷區域與第一缺陷區域進行合并，將合并后的缺陷區域作為目標缺陷區域；

若目標子圖像中的缺陷區域處于右邊緣區域，則獲取與該目標子圖像左右相鄰的目標子圖像的邊緣區域的缺陷區域作為第二缺陷區域；

判斷處于右邊緣區域的缺陷區域與第二缺陷區域之間的距離是否滿足預設的第二距離閾值；

若滿足預設的第二距離閾值，則將所述處于右邊緣區域的缺陷區域與第二缺陷區域進行合并，將合并后的缺陷區域作為目標缺陷區域。