[發(fā)明專利]一種多模耦合原位顯微光譜成像系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910867527.7 | 申請日: | 2019-09-13 |
| 公開(公告)號: | CN110441235A | 公開(公告)日: | 2019-11-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 竇新存;柯于雷;馬志偉;祖佰祎 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院新疆理化技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01 |
| 代理公司: | 烏魯木齊中科新興專利事務(wù)所(普通合伙) 65106 | 代理人: | 張莉 |
| 地址: | 830011 新疆維吾爾*** | 國省代碼: | 新疆;65 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微區(qū) 顯微成像 成像 顯微光譜成像 拉曼光譜 透射光譜 熒光光譜 耦合 多模 光路切換模塊 微區(qū)反射光譜 熒光顯微成像 倒置顯微鏡 激發(fā)光光源 成像測量 多重信息 反射光譜 光譜測試 檢測設(shè)備 模塊組成 實(shí)時(shí)獲得 樣品轉(zhuǎn)移 移動(dòng)樣品 原位表征 原位檢測 多模式 多維度 微米級 透射 反射 光譜 測量 分析 | ||
1.一種多模耦合原位顯微光譜成像系統(tǒng),其特征在于,該系統(tǒng)是由倒置顯微鏡、激發(fā)光光源模塊、光路切換模塊、顯微成像及光譜測試模塊組成,所述激發(fā)光光源模塊是由拉曼光源單元、熒光激發(fā)光源單元、反射照明光源單元三部分組成;其中,拉曼光源單元是由532nm高亮度半導(dǎo)體激光器(1)、第一透鏡(2)、第二透鏡(3)、第一可變光闌(4)、帶通濾波片(5)、雙色分光鏡(6)、長通濾波片(7)、第一光纖耦合器(8)、第一反射鏡(9)和第二反射鏡(10)組成;熒光激發(fā)光源單元是由第二可變光闌(15)、第三反射鏡(16)、第二可調(diào)式反射鏡(17)和氙燈光源(19)組成;反射照明光源單元是由第四反射鏡(18)和白光光源(20)組成;所述光路切換模塊是由光路切換器第一光路切換器(11)和第二光路切換器(24)組成,其中第一光路切換器(11)包括第三透鏡(12)、第一可調(diào)式反射鏡(13)和第四透鏡(14);第二光路切換器(24)包括第五透鏡(25)、第三可調(diào)式反射鏡(26)和第六透鏡(27);所述顯微成像及光譜測試模塊是由第一顯微成像用檢測器(23)、第二光纖耦合器(28)、光譜儀(29)、第二顯微成像用檢測器(30)和計(jì)算機(jī)(31)組成,其中第一顯微成像用檢測器(23)為CMOS面陣相機(jī),第二顯微成像用檢測器(30)為CCD面陣相機(jī);激發(fā)光光源模塊中的拉曼光源單元分別與光路切換模塊中的第一光路切換器(11)和第二光路切換器(24)連接,熒光激發(fā)光源單元和反射照明光源單元分別與第一光路切換器(11)連接;光路切換模塊中的第一光路切換器(11)和第二光路切換器(24)分別與倒置顯微鏡(22)連接,第二光路切換器(24)與顯微成像及光譜測試模塊中的第二光纖耦合器(28)連接;顯微成像及光譜測試模塊中的光譜儀(29)上設(shè)有第二顯微成像用檢測器(30),計(jì)算機(jī)(31)分別與第一顯微成像用檢測器(23)和第二顯微成像用檢測器(30)串接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多模耦合原位顯微光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述倒置顯微鏡(22)的一個(gè)C-mount接口與第一顯微成像用檢測器(23)連接,另一C-mount接口與第二光路切換器(24)連接,后側(cè)接口與第三可變光闌(21)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種多模耦合原位顯微光譜成像系統(tǒng),其特征在于,激發(fā)光光源模塊中雙色分光鏡(6)反射532 nm的拉曼激發(fā)光,并同時(shí)透射500-2500nm的拉曼散射信號;長通濾波片(7)透射510-2500nm的拉曼散射信號;第一反射鏡(9)、第二反射鏡(10)、第三反射鏡(16)和第四反射鏡(18)均為全反鏡;第二可調(diào)式反射鏡(17)為90°可調(diào)式表面反射鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多模耦合原位顯微光譜成像系統(tǒng),其特征在于,光路切換模塊中第一可調(diào)式反射鏡(13)和第三可調(diào)式反射鏡(26)均為45°可調(diào)式滑動(dòng)反射鏡。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





