[發明專利]一種岔區軌道狀態檢測方法

有效

• 申請號: 201910865896.2
• 申請日: 2019-09-12
• 公開（公告）號: CN110497931B
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 孔德順;劉越;楊琦;傅青喜;李世林;安愛民;段小軍;李學寶;胡智博;姜恵峰;李元龍;梁鳳慶;周用貴;王敏
• 申請（專利權）人: 北京華橫科技有限公司
• 主分類號: B61K9/08
• 分類號: B61K9/08
• 代理公司: 北京睿派知識產權代理事務所(普通合伙) 11597
• 代理人: 劉鋒

1.一種岔區軌道狀態檢測方法，用于控制岔區軌道檢測系統，所述岔區軌道檢測系統受控在第一行進軌和第二行進軌上移動，中間軌與所述第一行進軌和/或所述第二行進軌連接，所述第一行進軌與所述第二行進軌不相交，其特征在于，所述方法包括：

控制第一檢測裝置獲取岔區軌道檢測系統沿第一行進軌或第二行進軌的行進距離；

控制第二檢測裝置獲取第一行進軌與基準線之間的相對狀態參數；

根據所述行進距離和/或所述相對狀態參數控制第三檢測裝置移動，使所述第三檢測裝置位于所述中間軌的上方；

控制第三檢測裝置檢測中間軌；

其中，所述控制第二檢測裝置獲取第一行進軌與基準線之間的相對狀態參數包括：控制第二檢測裝置獲取第一行進軌與基準線之間的第二距離參數；

所述第一檢測裝置和第二檢測裝置固定在所述岔區軌道檢測系統上，所述第三檢測裝置可移動地設置在所述岔區軌道檢測系統上。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一檢測裝置包括第一檢測單元，所述第一檢測單元為增量式編碼器，安裝在所述岔區軌道檢測系統的滾輪處；

控制第一檢測單元檢測岔區軌道檢測系統沿第一行進軌或第二行進軌的行進距離包括：

獲取所述滾輪的半徑；

控制第一檢測單元獲取滾輪的轉動圈數；

根據所述滾輪的半徑和轉動圈數計算行進距離。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述行進距離和/或所述相對狀態參數控制第三檢測裝置移動，使所述第三檢測裝置位于所述中間軌的上方包括：

獲取中間軌與第一行進軌的第一夾角；

根據所述行進距離和所述第一夾角，計算中間軌與第一行進軌的第一距離參數；

根據所述第一距離參數控制第三檢測裝置移動，使第三檢測裝置位于中間軌的上方。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述行進距離和所述第一夾角，計算中間軌與第一行進軌的第一距離參數之前還包括：

記錄岔區軌道檢測系統的行進初始點；

控制第二檢測裝置獲取岔區軌道檢測系統的當前位置；

根據所述行進初始點和所述當前位置修正所述行進距離。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基準線由所述岔區軌道旁的多個CPⅢ控制點確定；

所述第二檢測裝置為全站儀，固定在所述岔區軌道檢測系統上并位于所述第一行進軌的正上方。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一檢測裝置包括第二檢測單元，所述方法還包括：

獲取設計軌距；

控制第二檢測單元獲取實際軌距參數，所述實際軌距參數用于表征第一行進軌和第二行進軌的實際軌距；

根據設計軌距與實際軌距參數計算第一軌距偏差，所述第一軌距偏差用于表征第一行進軌和第二行進軌的實際軌距與設計軌距之間的偏差。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取第一行進軌的第一設計位置參數；

根據第一設計位置參數、第二距離參數和實際軌距參數計算第一行進軌的第一絕對位移量和第二行進軌的第二絕對位移量。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取中間軌的第二設計位置參數；

根據第一距離參數、第二距離參數、設計軌距和第二設計位置參數計算中間軌的第三絕對位移量。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

控制第一檢測裝置檢測第一行進軌和第二行進軌的結構狀態。

10.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一檢測裝置包括三維激光位移傳感器。