[發明專利]NVME SSD的故障定位方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 201910865024.6
• 申請日: 2019-09-09
• 公開（公告）號: CN110688268A
• 公開（公告）日: 2020-01-14
• 發明（設計）人: 畢延帥
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/30;G06F11/34
• 代理公司: 11227 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉新雷

1.一種NVME SSD的故障定位方法，其特征在于，包括：

預先為NVME SSD下電過程中的各流程設置相應的標識信息；

當檢測到所述NVME SSD異常掉電或熱插撥時，開始計時；

當檢測到目標流程完成下電時，則自動將所述目標流程相應的標識信息記錄至所述NVME SSD的DDR中；

若計時時長達到預設時長，判斷所述DDR中是否包含下電過程中所有流程的標識信息；

若否，則判定異常掉電或熱插撥過程中出現故障，將所述NVMESSD當前的下電流程狀態信息和響應的日志信息發送至所述NVMESSD內部的非易失介質中，以用于根據所述下電流程狀態信息和所述日志信息定位故障。

2.根據權利要求1所述的NVME SSD的故障定位方法，其特征在于，所述將所述NVME SSD的當前狀態信息和響應的日志信息發送至所述NVME SSD內部的非易失介質中之后，還包括：

所述NVME SSD再次上電后，將所述下電流程狀態信息和所述日志信息通過相應的PCIE調試接口從所述NVME SSD內部導出至目標位置。

3.根據權利要求2所述的NVME SSD的故障定位方法，其特征在于，所述將所述下電流程狀態信息和所述日志信息通過相應的PCIE調試接口從所述NVME SSD內部導出至目標位置包括：

將所述NVME SSD下電過程的相關變量和結構體，與所述下電流程狀態信息和所述日志信息通過相應的PCIE調試接口一起導出至目標位置。

4.根據權利要求1-3任意一項所述的NVME SSD的故障定位方法，其特征在于，所述預先為NVME SSD下電過程中的各流程設置相應的標識信息為：

預先為所述NVME SSD下電過程中的各流程的每個階段設置相應的FLAG標識，以用于當檢測到目標階段完成時自動將相應FLAG標識記錄至所述DDR中。

5.根據權利要求1-3任意一項所述的NVME SSD的故障定位方法，其特征在于，所述將所述NVME SSD當前的下電流程狀態信息和響應的日志信息發送至所述NVME SSD內部的非易失介質中之后，還包括：

若根據所述下電流程狀態信息和所述日志信息確定所述NVMESSD在異常掉電或熱插撥過程中未出現故障的頻率超過頻率閾值，則增加所述預設時長；

若根據所述下電流程狀態信息和所述日志信息定位故障出錯的頻率超過第二頻率閾值，則縮短所述預設時長。

6.根據權利要求5所述的NVME SSD的故障定位方法，其特征在于，所述判斷所述DDR中是否包含下電過程中所有流程的標識信息之后，還包括：

若所述DDR中不包含下電過程所有階段的標識信息，則反饋故障報告信息，并進行報警提示。

7.一種NVME SSD的故障定位裝置，其特征在于，設置在SSD內部，包括：

預處理模塊，用于預先為NVME SSD下電過程中的各流程設置相應的標識信息；

計時模塊，用于當檢測到NVME SSD異常掉電或熱插撥時，開始計時；

標識信息記錄模塊，用于當檢測到目標流程完成下電時，則自動將所述目標流程相應的標識信息記錄至所述NVME SSD的DDR中；

判斷模塊，用于若計時時長達到預設時長，判斷所述DDR中是否包含下電過程中所有流程的標識信息；

故障信息采集模塊，用于若所述DDR中不包含下電過程所有階段的標識信息，則判定異常掉電或熱插撥過程中出現故障，將所述NVME SSD當前的下電流程狀態信息和響應的日志信息發送至所述NVME SSD內部的非易失介質中，以用于根據所述下電流程狀態信息和所述日志信息定位故障。