[發(fā)明專利]焊接接頭的檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910864999.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-09-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110568071B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊育偉;朱穩(wěn);梁楠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N29/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01N29/04;G01N29/07;G01N29/44 |
| 代理公司: | 北京華進(jìn)京聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11606 | 代理人: | 喬改利 |
| 地址: | 710077 陜*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 焊接 接頭 檢測(cè) 方法 裝置 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種焊接接頭的檢測(cè)方法,其特征在于,用于對(duì)不等厚平板對(duì)接接頭中的缺陷進(jìn)行檢測(cè),所述不等厚平板對(duì)接接頭是指厚板母材經(jīng)削邊處理后與薄板母材進(jìn)行對(duì)接焊接的接頭,所述方法包括:
獲取直通波和衍射波,所述直通波是指從發(fā)射探頭發(fā)出,沿所述不等厚平板對(duì)接接頭以最短路徑到達(dá)接收探頭的超聲波,所述衍射波是指從所述發(fā)射探頭發(fā)出,通過(guò)所述缺陷端點(diǎn)衍射后到達(dá)所述接收探頭的超聲波,所述發(fā)射探頭和所述接收探頭分別設(shè)置在所述不等厚平板對(duì)接接頭的待檢測(cè)區(qū)域兩側(cè),待檢測(cè)區(qū)域包括:焊縫、熔合區(qū)和熱影響區(qū);
根據(jù)所述直通波和所述衍射波,通過(guò)衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)TOFD的方法,計(jì)算得到所述缺陷的模擬深度;
根據(jù)預(yù)設(shè)的轉(zhuǎn)換關(guān)系對(duì)所述缺陷的模擬深度進(jìn)行修正,得到所述缺陷的實(shí)際深度,所述預(yù)設(shè)的轉(zhuǎn)換關(guān)系包括:
其中,所述所述所述h為所述缺陷的實(shí)際深度,所述h'為所述缺陷的模擬深度,所述Δ為所述發(fā)射探頭的位置與所述接收探頭的位置的高度差,所述S1為厚板側(cè)探頭與所述待檢測(cè)區(qū)域之間的距離,所述S2為薄板側(cè)探頭與所述待檢測(cè)區(qū)域之間的距離,所述S1'為厚板側(cè)模擬探頭與模擬探頭和薄板側(cè)探頭連線的垂直平分線之間的距離,所述厚板側(cè)模擬探頭位于發(fā)射探頭和接收探頭連線的延長(zhǎng)線上,為根據(jù)所述直通波的聲程計(jì)算得到的模擬探頭位置,所述厚板側(cè)模擬探頭與所述薄板側(cè)探頭之間的距離與所述直通波的聲程相等。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)預(yù)設(shè)的轉(zhuǎn)換關(guān)系對(duì)所述缺陷的模擬深度進(jìn)行修正,得到所述缺陷的實(shí)際深度,包括:
根據(jù)所述發(fā)射探頭和所述接收探頭設(shè)置在所述不等厚平板對(duì)接接頭的設(shè)置位置,和所述預(yù)設(shè)的轉(zhuǎn)換關(guān)系,對(duì)所述缺陷的模擬深度進(jìn)行修正,得到缺陷的實(shí)際深度;所述設(shè)置位置包括所述發(fā)射探頭和所述接收探頭均在所述不等厚平板對(duì)接接頭的兩側(cè)母材平面上,或,所述發(fā)射探頭和所述接收探頭中的一個(gè)探頭在所述不等厚平板對(duì)接接頭的厚板母材削邊斜面上,所述發(fā)射探頭或所述接收探頭中的另一個(gè)探頭在薄板母材平面上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法,其特征在于,當(dāng)所述發(fā)射探頭和所述接收探頭均在所述不等厚平板對(duì)接接頭兩側(cè)母材平面上,所述Δ通過(guò)公式Δ=t1-t2得到,所述t1為所述厚板側(cè)母材的厚度,所述t2為所述薄板側(cè)母材的厚度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法,其特征在于,當(dāng)所述發(fā)射探頭和所述接收探頭中的一個(gè)探頭在所述不等厚平板對(duì)接接頭的厚板母材削邊斜面上,所述發(fā)射探頭和所述接收探頭中的另一個(gè)探頭薄板母材上,所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)的轉(zhuǎn)換關(guān)系,對(duì)所述缺陷的模擬深度進(jìn)行修正,得到缺陷的實(shí)際深度包括:
判斷所述發(fā)射探頭和所述接收探頭的主聲束角是否一致,得到主聲束角的一致性結(jié)果;
根據(jù)所述主聲束角的一致性結(jié)果和公式:
對(duì)所述缺陷的模擬深度進(jìn)行修正,得到缺陷的實(shí)際深度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述方法,其特征在于,當(dāng)所述發(fā)射探頭和所述接收探頭的主聲束角不一致時(shí),所述Δ通過(guò)公式Δ=S1tanβ1得到,其中,所述β1為所述發(fā)射探頭的主聲束角與所述接收探頭的主聲束角之差,所述S1通過(guò)公式得到,所述α為所述薄板側(cè)探頭的主聲束角,所述t2為所述薄板側(cè)母材的厚度。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述方法,其特征在于,當(dāng)所述發(fā)射探頭和所述接收探頭的主聲束角一致時(shí),所述Δ通過(guò)公式Δ=S1tanβ2得到,其中,所述β2通過(guò)公式γ=α-β2得到,其中,所述γ為所述厚板側(cè)探頭入射點(diǎn)與發(fā)射探頭和接收探頭聲束交點(diǎn)的連線,與所述實(shí)際焊縫中心線的夾角,所述α為所述發(fā)射探頭和所述接收探頭的主聲束角。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)院,未經(jīng)西安特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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