[發明專利]一種電子產品性能退化加速因子的計算方法有效
| 申請號: | 201910864884.8 | 申請日: | 2019-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN110580329B | 公開(公告)日: | 2023-05-16 |
| 發明(設計)人: | 李鴻志;王鳳姣;王文晴;楊明遠;吳雪微;徐笛 | 申請(專利權)人: | 上海無線電設備研究所 |
| 主分類號: | G06F17/18 | 分類號: | G06F17/18 |
| 代理公司: | 上海元好知識產權代理有限公司 31323 | 代理人: | 張妍;周乃鑫 |
| 地址: | 200090 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子產品 性能 退化 加速 因子 計算方法 | ||
1.一種電子產品性能退化加速因子的計算方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、細化溫變應力試驗過程中電子產品的溫度變化過程;
S2、計算溫度變化過程中電子產品的性能加速退化速率;
S3、綜合得到溫變應力條件下的電子產品性能退化加速因子;
所述的電子產品的溫度變化過程為:
其中,(t1,t2)為低溫階段,(t2,t3)為升溫階段,(t3,t4)為高溫階段,(t4,t5)為降溫階段,T(t)是t時刻的溫度,Tu是一個循環中的最高溫,TL是一個循環中的最低溫,k1是升溫階段溫度變化系數,k2是降溫階段溫度變化系數;
電子產品在低溫階段的性能加速退化速率為:
其中,A是比例常數,Ea是激活能,k是波爾茲曼常數;
電子產品在升溫階段的性能加速退化速率為:
其中,r是恒溫條件下的性能退化累積效應,g是變溫條件下的性能退化累積效應,α是比例常數;
電子產品在高溫階段的性能加速退化速率為:
電子產品在降溫階段的性能加速退化速率為:
所述的性能退化加速因子為:
其中,為電子產品在常溫變應力條件下各時間階段的性能加速退化速率;為電子產品在高溫變應力條件下各時間階段的性能加速退化速率。
2.如權利要求1所述的一種電子產品性能退化加速因子的計算方法,其特征在于,所述的升溫階段溫度變化系數k1的計算方式為:
令X=ln((t-t2)/(t3-t2)),Y=ln(T(t)-TL),則
Y=ln(Tu-TL)+k1X
代入時間t及該時間測得的溫度,推導出升溫階段溫度變化系數k1。
3.如權利要求1所述的一種電子產品性能退化加速因子的計算方法,其特征在于,所述的降溫階段溫度變化系數k2的計算方式為:
令U=ln((t-t4)/(t5-t4)),V=ln(Tu-T(t)),則V=ln(Tu-TL)+k2U
代入時間t及該時間測得的溫度,推導出降溫階段溫度變化系數k2。
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