[發(fā)明專利]射頻電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910864370.2
• 申請日: 2019-09-12
• 公開（公告）號: CN112491436B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳家源;陳志龍;張家潤;王柏之
• 申請（專利權(quán)）人: 瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司
• 主分類號: H04B1/40
• 分類號: H04B1/40;H04B17/00
• 代理公司: 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003
• 代理人: 黃艷;鄭特強

一種射頻電路能夠于一測試模式下執(zhí)行一射頻特性測試，包含：一測試信號產(chǎn)生器，用來于該測試模式下產(chǎn)生一測試信號；一射頻接收器，耦接該測試信號產(chǎn)生器，用來傳輸該測試信號以產(chǎn)生一接收器模擬信號；一耦接電路，用來于該測試模式下導(dǎo)通以及于一操作模式下不導(dǎo)通，以于該測試模式下傳輸該接收器模擬信號至一射頻傳送器；該射頻傳送器，用來傳輸該接收器模擬信號以產(chǎn)生一傳送器模擬信號；一測試結(jié)果產(chǎn)生器，耦接于該射頻傳送器與一測試結(jié)果輸出端之間，包含一信號轉(zhuǎn)換器，該信號轉(zhuǎn)換器用來于該測試模式下依據(jù)該傳送器模擬信號產(chǎn)生一轉(zhuǎn)換信號，該測試結(jié)果輸出端的一輸出信號為該轉(zhuǎn)換信號或源自于該轉(zhuǎn)換信號，該輸出信號代表該射頻特性測試的結(jié)果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及射頻電路，尤其涉及能夠執(zhí)行射頻特性測試的射頻電路。

背景技術(shù)

純射頻電路不包含數(shù)字基頻電路、模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器、以及數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，因此，目前技術(shù)無法通過裸晶針測(Chip/Die Probing)測試來測量純射頻電路(裸晶)的射頻特性，且一般裸晶針測測試的儀器為低階測試儀器，多用于測量直流特性，無法用來測量射頻特性。鑒于上述，目前技術(shù)通常在純射頻電路的封裝完成后，才通過包含模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器的裝置來檢測純射頻電路(封裝電路)，以篩除有問題者；然而，若能對純射頻電路的裸晶進行射頻特性測試，便能提早篩除有問題者，以減少封裝及測試成本。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的之一在于提供一種射頻電路，該射頻電路無需任何模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器也無需外部高規(guī)格射頻收發(fā)儀器即能執(zhí)行射頻特性測試。

本發(fā)明的射頻電路能夠于一測試模式下執(zhí)行一射頻特性測試，該射頻特性測試無需任何模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器也無需外部高規(guī)格射頻收發(fā)儀器，該射頻電路的一實施例包含：一測試信號產(chǎn)生器，用來于該測試模式下產(chǎn)生一測試信號；一射頻接收器，耦接該測試信號產(chǎn)生器，用來傳輸該測試信號以產(chǎn)生一接收器模擬信號；一接收開關(guān)，用來于該測試模式下不導(dǎo)通以及于一操作模式下導(dǎo)通，該接收開關(guān)耦接于該射頻接收器與一模擬信號輸入端之間，該模擬信號輸入端用來耦接一模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器；一傳送開關(guān)，用來于該測試模式下不導(dǎo)通以及于該操作模式下導(dǎo)通，該傳送開關(guān)耦接于一模擬信號輸出端與一射頻傳送器之間，該模擬信號輸出端用來耦接一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器；一耦接電路，用來于該測試模式下導(dǎo)通以及于該操作模式下不導(dǎo)通，以于該測試模式下將該接收器模擬信號傳輸至該射頻傳送器；該射頻傳送器，用來傳輸該接收器模擬信號以產(chǎn)生一傳送器模擬信號；以及一測試結(jié)果產(chǎn)生器，耦接于該射頻傳送器與一測試結(jié)果輸出端之間，包含一信號轉(zhuǎn)換器，該信號轉(zhuǎn)換器用來于該測試模式下依據(jù)該傳送器模擬信號產(chǎn)生一轉(zhuǎn)換信號，該測試結(jié)果輸出端的一輸出信號為該轉(zhuǎn)換信號或源自于該轉(zhuǎn)換信號，該輸出信號代表該射頻特性測試的結(jié)果。

本發(fā)明的射頻電路的另一實施例包含：一測試信號產(chǎn)生器，用來于該測試模式下產(chǎn)生一測試信號；一射頻傳送器，耦接該測試信號產(chǎn)生器，用來傳輸該測試信號以產(chǎn)生一傳送器模擬信號；一耦接電路，用來于該測試模式下導(dǎo)通以及于一操作模式下不導(dǎo)通，以于該測試模式下將該傳送器模擬信號傳輸至一射頻接收器；該射頻接收器，用來傳輸該傳送器模擬信號以產(chǎn)生一接收器模擬信號；一測試結(jié)果產(chǎn)生器，耦接于該射頻接收器與一測試結(jié)果輸出端之間，包含一信號轉(zhuǎn)換器，該信號轉(zhuǎn)換器用來于該測試模式下依據(jù)該接收器模擬信號產(chǎn)生一轉(zhuǎn)換信號，該測試結(jié)果輸出端的一輸出信號為該轉(zhuǎn)換信號或源自于該轉(zhuǎn)換信號，該輸出信號代表該射頻特性測試的結(jié)果；一接收開關(guān)，用來于該測試模式下不導(dǎo)通以及于該操作模式下導(dǎo)通，該接收開關(guān)耦接于該射頻接收器與一模擬信號輸入端之間，該模擬信號輸入端用來耦接一模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器；以及一傳送開關(guān)，用來于該測試模式下不導(dǎo)通以及于該操作模式下導(dǎo)通，該傳送開關(guān)耦接于該射頻傳送器與一模擬信號輸出端之間，該模擬信號輸出端用來耦接一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器。

有關(guān)本發(fā)明的特征、實作與技術(shù)效果，茲配合附圖作優(yōu)選實施例詳細說明如下。

附圖說明

圖1顯示本發(fā)明的射頻電路的一實施例；

圖2顯示圖1的射頻接收器的一實施例；