[發明專利]一種用于放射性污染清除率檢測試驗的模具

在審

• 申請號: 201910858856.5
• 申請日: 2019-09-11
• 公開（公告）號: CN110530695A
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 王靜;劉國權;李堅
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍事科學院國防工程研究院工程防護研究所
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01N1/36
• 代理公司: 41112 洛陽市凱旋專利事務所
• 代理人: 陸君<國際申請>=<國際公布>=<進入國

本發明公開了一種用于放射性污染清除率檢測試驗的模具，包括基座和布灑機構；基座呈長方體，在基座的上表面的中心設置有矩形的布灑槽，基座的上表面設置有相平行的兩條導軌，兩條導軌沿基座的長度方向設置，并且所述的布灑槽位于兩條導軌之間；布灑機構包括支座和粉塵倉，支座的下表面設置有兩組滾輪，兩組滾輪分別對應配裝于所述的兩條導軌內，支座的上表面設置有粉塵倉，粉塵倉是由底板、側板、前擋板和后擋板組成，前擋板上設置有篩網。本發明能夠實現粉塵的均勻布灑，提高了測試結果的準確性。

技術領域

本發明屬于放射性污染清除材料試驗設備技術領域，尤其涉及一種用于放射性污染清除率檢測試驗的模具。

背景技術

目前，放射性污染壓制去污劑的去污率檢測試驗通常用低放射性粉塵來進行沾污，然后再布灑壓制去污劑來去污并測試去污劑的去污率。在測試過程中，放射性粉塵的均勻布灑和去污劑的用量控制會影響去污率測試數據的準確性和可重復性。但目前尚未有適宜的方法及裝置來克服這些問題，通常的做法是操作人員抓取粉塵后進行布灑，這就導致粉塵布灑不均勻，影響測試數據的準確性。

發明內容

為了解決現有技術中存在的問題，本發明的目的是提供一種用于放射性污染清除率檢測試驗的模具，利用該模具能夠實現粉塵的均勻布灑，提高了測試結果的準確性。

為了實現上述發明目的，本發明采用如下所述的技術方案：

一種用于放射性污染清除率檢測試驗的模具，包括基座和布灑機構；

基座，其呈長方體，在基座的上表面的中心設置有矩形的布灑槽，基座的上表面設置有相平行的兩條導軌，兩條導軌沿基座的長度方向設置，并且所述的布灑槽位于兩條導軌之間；

布灑機構，包括支座和粉塵倉，支座的下表面設置有兩組滾輪，兩組滾輪分別對應配裝于所述的兩條導軌內，支座的上表面設置有粉塵倉，粉塵倉是由底板、側板、前擋板和后擋板組成，底板固設在支座的上表面，并且底板的左側面與支座的左側面平齊，在底板的前后兩側分別固設有側板，側板垂直連接于底板的上表面上，兩側的側板相對應的側面上分別設置有兩條插槽，兩側側板上的插條彼此一一對應，前擋板和后擋板分別插接于兩側側板上的插槽內，兩側側板與前擋板、后擋板、底板形成用于容納粉塵的容置腔室；前擋板是由第一擋板和第二擋板組成，第一擋板的下端一體設置有篩網，篩網的下側邊與底板的左側邊平齊，在第一擋板的側面上設置有卡槽，第二擋板上設置有卡條，通過卡條與卡槽的配裝實現第二擋板與第一擋板的連接，并且第一擋板與第二擋板相對的側面緊密貼合，第二擋板與第一擋板的上端面相平齊時，第二擋板下端緊貼于所述篩網并將篩網完全遮擋。

進一步的，所述側板上的插槽設置有兩條，側板上設置的兩條插槽關于側板的豎直中心線對稱布置，并且插槽傾斜設置，兩條插槽之間的間距自上而下逐漸減小。

進一步的，所述底板的上表面為自右向左傾斜朝下的傾斜面。

進一步的，在支座上表面的右側上設置有手柄。

進一步的，在布灑槽內設置有布灑板，在支座的右側面上設置有用于布灑板插入或抽出的槽口。

由于采用上述技術方案，本發明具有以下優越性：

在使用時，將粉塵放置于容置腔室內，然后向上抽拉第二擋板，使篩網暴露，通過手柄勻速推動支座，滾輪在導軌內行走，粉塵經篩網的網孔均勻布灑到布灑槽內；另外，本發明的模具尺寸固定，通過固定壓制去污劑的質量或體積，可以較為方便的控制單位面積去污劑的用量，減少因去污劑用量的變化而引起的清除率數據的變化，進而提高測試數據的準確性和可重復性。

附圖說明

圖1為本發明中基座的結構示意圖；

圖2為本發明中布灑機構的結構示意圖；

圖3為圖2中側板與底板的連接示意圖；