[發(fā)明專利]一種RFID芯片上存儲器的自校驗方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910858244.6 | 申請日： | 2019-09-12 |
| 公開（公告）號： | CN110457970A | 公開（公告）日： | 2019-11-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 孫曉霞;張建偉 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海明矽微電子有限公司;張建偉 |
| 主分類號： | G06K7/10 | 分類號： | G06K7/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201203上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 存儲器 異或運算 校驗 用戶讀取 檢驗碼 校驗位 自校驗 預(yù)置 | ||
1.一種RFID芯片上TID存儲器的自校驗方法，其特征在于，使用奇校驗方法為TID存儲區(qū)中的序列號做校驗，當(dāng)序列號含有奇數(shù)個“1”時，校驗碼為“0”，當(dāng)序列號含有偶數(shù)個“1”時，校驗碼為“1”。
2.如權(quán)利要求1所述的一種RFID芯片上TID存儲器的自校驗方法，其特征在于，針對TID中48位序列號等信息，為了增強編碼和數(shù)據(jù)讀取的可靠性，也為了讓讀卡器快速檢測出TID數(shù)據(jù)的變化或者傳輸過程中的錯誤，標(biāo)簽在出廠測試過程中，將序列號經(jīng)過奇校驗運算得出校驗位值，并存放于存儲區(qū)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種RFID芯片上TID存儲器的自校驗方法，其特征在于，如圖2中，紅色標(biāo)注的是奇校驗碼。出廠后，用戶通過讀卡器讀出序列號后，也使用相同的奇校驗方法，自行計算TID中序列號等信息的奇校驗值，并檢測序列號是否正確。
4.如權(quán)利要求1所述的一種RFID芯片上TID存儲器的自校驗方法，其特征在于，本實施例中，奇校驗的本質(zhì)，是將讀取出的二進(jìn)制數(shù)據(jù)中“1”的個數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計，如果數(shù)據(jù)位加上校驗位加起來1的個數(shù)是一個奇數(shù)，那么就認(rèn)為這個數(shù)據(jù)串符合奇校驗規(guī)則。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海明矽微電子有限公司;張建偉，未經(jīng)上海明矽微電子有限公司;張建偉許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
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