[發明專利]一種針對容差電路的故障字典機內測試設計方法及系統

在審

• 申請號: 201910857560.1
• 申請日: 2019-09-09
• 公開（公告）號: CN110531251A
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 陳圣儉;李煥
• 申請（專利權）人: 北京旋極信息技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 11262 北京安信方達知識產權代理有限公司
• 代理人: 蔣冬梅;栗若木<國際申請>=<國際公布>

1.一種針對容差電路的故障字典機內測試設計方法，其特征在于，包括：

計算待測的容差電路中至少一條支路的屏蔽電流的電流值，以及在所述屏蔽電流激勵下所述容差電路內的測試節點的電壓計算值區間；

建立所述容差電路的故障字典，所述故障字典中存儲所述容差電路中所述支路的標識信息、每條支路的屏蔽電流的電流值以及在任一支路的屏蔽電流激勵下所述測試節點的電壓計算值區間；

在機內測試過程中，根據所述故障字典存儲的任一條支路的屏蔽電流的電流值，在所述容差電路施加所述屏蔽電流，采集所述測試節點的測試電壓值；

根據所述故障字典中存儲的所述測試節點在所述支路的屏蔽電流激勵下的電壓計算值區間與所述測試電壓值的比較結果，來確定所述支路是否為故障支路。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述計算在所述屏蔽電流激勵下所述容差電路內的測試節點的電壓計算值區間，包括：

對待測的容差電路中的每一個元器件參數分別進行容差范圍內的隨機賦值，得到每一個元器件參數的M個參數值，M為正整數；

通過組合所述容差電路中所有元器件參數的參數值，形成所述容差電路的N組參數值，N為正整數；

在所述屏蔽電流激勵下分別對N組參數值進行仿真計算，得到測試節點的N個電壓計算值；

從得到的N個電壓計算值中確定出最小值V_min和最大值V_max，并將區間[V_min，V_max]確定為所述測試節點的電壓計算值區間。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對待測的容差電路中的每一個元器件參數分別進行容差范圍內的隨機賦值，得到每一個元器件參數的M個參數值，包括：

對于每一個元器件參數，以該元器件參數的標稱值為對稱中心，在容差范圍內按照正態分布規律進行賦值，得到該元器件參數的M個參數值。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述故障字典中存儲的所述測試節點在所述支路的屏蔽電流激勵下的電壓計算值區間與所述測試電壓值的比較結果，來確定所述支路是否為故障支路，包括：

在所述支路的屏蔽電流激勵下，當所述測試節點的測試電壓值落在電壓計算值區間之內，則確定所述支路為故障支路；當所述測試節點的測試電壓值沒有落在電壓計算值區間之內，則確定所述支路沒有故障。

5.一種針對容差電路的故障字典機內測試設計系統，其特征在于，包括：

計算模塊，適于計算待測的容差電路中至少一條支路的屏蔽電流的電流值，以及在所述屏蔽電流激勵下所述容差電路內的測試節點的電壓計算值區間；

故障字典建立模塊，適于建立所述容差電路的故障字典，所述故障字典中存儲所述容差電路中所述支路的標識信息、每條支路的屏蔽電流的電流值以及在任一支路的屏蔽電流激勵下所述測試節點的電壓計算值區間；

機內測試設計模塊，適于在機內測試過程中，根據所述故障字典存儲的任一條支路的屏蔽電流的電流值，在所述容差電路施加所述屏蔽電流，采集所述測試節點的測試電壓值；根據所述故障字典中存儲的所述測試節點在所述支路的屏蔽電流激勵下的電壓計算值區間與所述測試電壓值的比較結果，來確定所述支路是否為故障支路。

6.根據權利要求5所述的系統，其特征在于，所述計算模塊，適于通過以下方式計算在所述屏蔽電流激勵下所述容差電路內的測試節點的電壓計算值區間：

對待測的容差電路中的每一個元器件參數分別進行容差范圍內的隨機賦值，得到每一個元器件參數的M個參數值，M為正整數；

通過組合所述容差電路中所有元器件參數的參數值，形成所述容差電路的N組參數值，N為正整數；

在所述屏蔽電流激勵下分別對N組參數值進行仿真計算，得到測試節點的N個電壓計算值；

從得到的N個電壓計算值中確定出最小值V_min和最大值V_max，并將區間[V_min，V_max]確定為所述測試節點的電壓計算值區間。