[發明專利]鏡片折射率測量裝置及其測量方法

在審

• 申請號: 201910851247.7
• 申請日: 2019-09-10
• 公開（公告）號: CN112556990A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: 劉義兵;孫昭;劉力威
• 申請（專利權）人: 寧波法里奧光學科技發展有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/41;G01N21/45
• 代理公司: 寧波甬致專利代理有限公司 33228
• 代理人: 徐亞芬

1.一種鏡片折射率測量裝置，其特征在于：包括屈光度測量模塊、共焦反射測量模塊及被測鏡片；

所述的屈光度測量模塊包括第一光源模組、第一準直透鏡、哈特曼光闌片及第一光電探測器；第一光源模組發出的光經由第一準直透鏡后成為平行光束；平行光束經過被測鏡片和哈特曼光闌片后射入所述的第一光電探測器內；

所述的共焦反射測量模塊包括第二光源、第二光電探測器、Y型光纖、透鏡組和第一分光片；第二光源發出的光由Y型光纖的第一端口耦合到該Y型光纖中，并由Y型光纖的第二端口射出，所述的第二端口置于透鏡組的后焦點上，第二端口射出的光束經過透鏡組匯聚；所述的第一分光片設于所述的第一準直透鏡和被測鏡片之間，匯聚光再由第一分光片反射在被測鏡片處聚焦；所述的第二端口和透鏡組均安裝于移動組件上，所述的移動組件沿光軸方向來回移動，光束可分別在哈特曼光闌片上表面以及被測鏡片的上、下表面聚焦，聚焦時，反射光將原路返回到第二端口處，經光纖傳播后，由Y型光纖的第三端口出射到第二光電探測器上。

2.根據權利要求1所述的鏡片折射率測量裝置，其特征在于：所述的測量裝置還包括光學厚度測量模塊；所述的光學厚度測量模塊包括第二光源模組、第二準直透鏡、聚焦透鏡、第二分光片、第三分光片、反射鏡和第三光電探測器；所述的第二光源模組發出的光經由第二準直透鏡后成為平行光束，經過聚焦透鏡后將平行光束照射在所述的第二分光片上；受第二分光片反射后進入主光路；再經過第三分光片分為兩束光，其中一束光反射到反射鏡上，再由反射鏡原路反射回來，部分光經過第三分光片透射進入第三光電探測器；另外一束光經過第三分光片透射，并被哈特曼光闌片上表面原路反射，反射光經由第三分光片反射后進入第三光電探測器；當第三分光片反射、透射的兩部分光經過反射再同時進入第三光電探測器；所述的反射鏡安裝在所述的移動組件上且與所述的第二端口和透鏡組同步移動，移動反射鏡，當第三分光片反射、透射的兩部分光經過反射進入第三光電探測器的光程相等時，出現干涉現象。

3.根據權利要求1所述的鏡片折射率測量裝置，其特征在于：所述的第一光源模組包括第一光源及第一孔片，所述的第一孔片靠近所述的第一光源的發光面的一側設有透光孔；所述的第一光源發出的光經過透光孔后射出。

4.根據權利要求3所述的鏡片折射率測量裝置，其特征在于：所述的第一光源為單色LED光源，光譜寬度大于10nm小于50nm。

5.根據權利要求3所述的鏡片折射率測量裝置，其特征在于：所述的透光孔直徑小于0.5mm，所述的透光孔與第一光源的距離小于0.5mm。

6.根據權利要求1所述的鏡片折射率測量裝置，其特征在于：所述的第一準直透鏡焦距大于50毫米。

7.根據權利要求1所述的鏡片折射率測量裝置，其特征在于：所述的哈特曼光闌片設置有陣列型排布的透光孔，所述的透光圓孔的直徑為0.2-0.3mm，圓孔中心距0.5-0.6mm，圓孔數量不少于7*7個，中心位置為反射區，發射率80-90%。

8.根據權利要求2所述的鏡片折射率測量裝置，其特征在于：所述的第二光源模組包括第三光源及第二孔片，所述的第二孔片靠近所述的第三光源的發光面設有透光孔；所述的第三光源發出的光經過透光孔后射出。