[發明專利]一種鏡片多波長折射率檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 201910851206.8
• 申請日: 2019-09-10
• 公開（公告）號: CN110553820A
• 公開（公告）日: 2019-12-10
• 發明（設計）人: 劉義兵;孫昭;劉力威
• 申請（專利權）人: 寧波法里奧光學科技發展有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/41;G01N21/45
• 代理公司: 33228 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 李迎春

1.一種鏡片多波長折射率檢測裝置，其特征在于：包括輸出準直光束的復合光源組件(1)、聚焦組件(2)、分光組件(3)、參考鏡片(4)、移動鏡片(5)、第一光電探測組件(6)、信號接收組件(7)，所述第一光電探測組件(6)、參考鏡片(4)、分光組件(3)、聚焦組件(2)和復合光源組件(1)沿第一光軸方向(A)由前至后依次設置，所述聚焦組件(2)的焦面位于分光組件(3)與參考鏡片(4)之間用于放置被測鏡片(25)，所述移動鏡片(5)設置在分光組件(3)的一側，所述信號接收組件(7)設置在分光組件(3)的另一側，所述復合光源組件(1)沿第一光軸方向(A)傳輸的光束經聚集組件聚焦到被測鏡片(25)上，聚焦后的光束透射過被測鏡片(25)和參考鏡片(4)后進入到第一光電探測組件(6)中，用于校正被測鏡片(25)的中心位置，所述復合光源組件(1)沿第一光軸方向(A)傳輸的光束還經分光組件(3)后分為兩束，一束投射到移動鏡片(5)上并由移動鏡片(5)反射而原路返回，另一束投射到被測鏡片(25)和參考鏡片(4)上并由被測鏡片(25)的上下表面和參考鏡片(4)的上表面反射而原路返回，返回的光束均通過分光組件(3)進入到信號接收組件(7)中，所述信號接收組件(7)包括用于從反射回來的復合光中分離出K種不同波長的單色光的單色光分離組件(8)、以及用于分別接收K種單色光干涉信號的第二光電探測組件(9)、第三光電探測組件(10)…第K+1光電探測組件共K個光電探測組件，K≥2。

2.根據權利要求1所述的一種鏡片多波長折射率檢測裝置，其特征在于：所述復合光源組件(1)包括沿第一光軸方向(A)由前至后依次設置的準直透鏡(13)、透光孔(14)和白光光源(15)，所述白光光源(15)設置在準直透鏡(13)的后焦點上，用于使白光光源(15)經透光孔(14)發出的光經由準直透鏡(13)后成為平行光束。

3.根據權利要求1所述的一種鏡片多波長折射率檢測裝置，其特征在于：所述聚焦組件(2)包括一聚焦透鏡(16)。

4.根據權利要求1所述的一種鏡片多波長折射率檢測裝置，其特征在于：所述分光組件(3)包括一半透半反的第一分光片(17)，所述移動鏡片(5)的中心和第一分光片(17)的中心均位于與第一光軸方向(A)相垂直的第二光軸方向(B)上，當移動鏡片(5)設置在第一分光片(17)的左側時，所述第一分光片(17)的側面與第二光軸方向(B)的夾角為45°，當移動鏡片(5)設置在第一分光片(17)的右側時，所述第一分光片(17)的側面與第二光軸方向(B)的夾角為135°。

5.根據權利要求1所述的一種鏡片多波長折射率檢測裝置，其特征在于：所述參考鏡片(4)和移動鏡片(5)的反射率為1-10％。

6.根據權利要求4所述的一種鏡片多波長折射率檢測裝置，其特征在于：所述單色光分離組件(8)包括第二分光片(18)、第三分光片(19)…第K分光片共K-1個、以及第一濾光片(21)、第二濾光片(22)…第K濾光片共K個，所述第二分光片(18)、第三分光片(19)…第K分光片均為半透半反的分光片且各分光片的側面與第二光軸方向(B)呈45°或135°夾角，所述第一濾光片(21)、第二濾光片(22)…第K濾光片分別與第二光電探測組件(9)、第三光電探測組件(10)…第K+1光電探測組件配對成K組，配對成組的濾光片和光電探測組件相對設置且濾光片更靠近反射回來的光線，所述第二分光片(18)、第三分光片(19)…第K分光片由內而外依次并排設置在第一分光片(17)的一側且中心均位于第二光軸方向(B)上，其中一組配對的濾光片和光電探測組件設置在最外側的第K分光片的外側，該組濾光片的中心和光電探測組件的中心也位于第二光軸方向(B)上，其余配對成組的濾光片和光電探測組件分別設置在第二分光片(18)、第三分光片(19)…第K分光片的反射面側，且相應的濾光片的中心和光電探測組件的中心均位于相應的分光片的反射線(C)上。

7.根據權利要求1所述的一種鏡片多波長折射率檢測裝置，其特征在于：所述單色光分離組件(8)可從復合光中分離出青光、黃光和紅光這三種單色光。