[發(fā)明專利]一種調(diào)試方法及調(diào)試單元

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910848984.1
• 申請日: 2019-09-09
• 公開（公告）號: CN110597678B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李嘉昕
• 申請（專利權(quán)）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/263;G06N3/04;G06N3/08;G06V10/94;G06V10/764;G06V10/82;G06K9/62
• 代理公司: 北京同達信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 李娟;楊曉萍

本申請?zhí)峁┮环N調(diào)試方法及調(diào)試單元，涉及電子領(lǐng)域，調(diào)試方法應(yīng)用于芯片中，調(diào)試單元與目標(biāo)單元通過片上總線相連，方法包括：調(diào)試單元獲取各個子目標(biāo)單元的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)，調(diào)試輸出數(shù)據(jù)是各個子目標(biāo)單元針對調(diào)試輸入信號進行處理得到的處理結(jié)果；調(diào)試單元將各個子目標(biāo)單元的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為各個像素數(shù)據(jù)，并根據(jù)各個像素數(shù)據(jù)確定調(diào)試圖像數(shù)據(jù)；調(diào)試單元根據(jù)調(diào)試圖像數(shù)據(jù)確定運行異常的各子目標(biāo)單元以及運行異常的各子目標(biāo)單元的異常原因，進一步的，調(diào)試單元還可以根據(jù)機器學(xué)習(xí)的方法確定運行異常的各子目標(biāo)單元以及運行異常的各子目標(biāo)單元的異常原因。本申請實施例的調(diào)試方法不受屏幕輸出分辨率的限制，通用性好，靈活度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實施例涉及電子領(lǐng)域，尤其涉及一種調(diào)試方法及調(diào)試單元。

背景技術(shù)

FPGA(Field-Programmable Gate Array)，即現(xiàn)場可編程門陣列，作為專用集成電路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)領(lǐng)域中的一種半定制電路，F(xiàn)PGA的邏輯塊和連接可以按照用戶的需要而改變，通過可編輯的連接把FPGA內(nèi)部的邏輯塊連接起來，所以FPGA可以完成所需要的邏輯功能。FPGA既解決了定制電路的不足，又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點，所以FPGA技術(shù)得到廣泛的應(yīng)用。

針對FPGA的調(diào)試，現(xiàn)有技術(shù)通過將FPGA芯片中的待調(diào)試電路的信號轉(zhuǎn)換為顯示信號，并通過顯示設(shè)備進行顯示，通過顯示設(shè)備顯示的顯示信號來調(diào)試FPGA。

但是現(xiàn)有技術(shù)中，由于在對FPGA調(diào)試時，需要額外的顯示設(shè)備才能進行FPGA，不能廣泛應(yīng)用于各種FPGA調(diào)試場景，并且由于受到顯示設(shè)備的顯示像素限制，當(dāng)顯示信號超過顯示設(shè)備的分辨率時候，部分顯示信號會丟失。

綜上所述，現(xiàn)有技術(shù)中不能提供一種應(yīng)用范圍廣且調(diào)試準(zhǔn)確性高的調(diào)試方法。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例提供一種調(diào)試方法及調(diào)試單元，為芯片調(diào)試提供范圍廣且調(diào)試準(zhǔn)確性高的調(diào)試方法。

一方面，本申請實施例提供一種調(diào)試方法，所述調(diào)試方法應(yīng)用于芯片中，所述芯片至少包括目標(biāo)單元以及調(diào)試單元，所述調(diào)試單元與所述目標(biāo)單元通過片上總線相連，所述目標(biāo)單元由多個子目標(biāo)單元構(gòu)成，各個子目標(biāo)單元是根據(jù)所述目標(biāo)單元的功能確定的，所述方法包括：

所述調(diào)試單元獲取各個子目標(biāo)單元的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)，所述調(diào)試輸出數(shù)據(jù)是各個子目標(biāo)單元針對調(diào)試輸入信號進行處理得到的處理結(jié)果；

所述調(diào)試單元將各個子目標(biāo)單元的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為各個像素數(shù)據(jù)，并根據(jù)各個像素數(shù)據(jù)確定調(diào)試圖像數(shù)據(jù)；

所述調(diào)試單元根據(jù)所述調(diào)試圖像數(shù)據(jù)確定運行異常的各子目標(biāo)單元以及運行異常的各子目標(biāo)單元的異常原因。

一方面，本申請實施例提供一種調(diào)試單元，所述調(diào)試單元與目標(biāo)單元位于同一芯片中，所述調(diào)試單元與所述目標(biāo)單元通過片上總線相連，所述目標(biāo)單元由多個子目標(biāo)單元構(gòu)成，各個子目標(biāo)單元是根據(jù)所述目標(biāo)單元的功能確定的，所述調(diào)試單元包括：

獲取模塊，用于獲取各個子目標(biāo)單元的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)，所述調(diào)試輸出數(shù)據(jù)是各個子目標(biāo)單元針對調(diào)試輸入信號進行處理得到的處理結(jié)果；

數(shù)據(jù)處理模塊，用于將各個子目標(biāo)單元的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為各個像素數(shù)據(jù)，并根據(jù)各個像素數(shù)據(jù)確定調(diào)試圖像數(shù)據(jù)；

異常檢測模塊，用于根據(jù)所述調(diào)試圖像數(shù)據(jù)確定運行異常的各子目標(biāo)單元以及運行異常的各子目標(biāo)單元的異常原因。

可選的，述調(diào)試輸出數(shù)據(jù)為二進制數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)處理模塊具體用于：

將各個子目標(biāo)單元的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為十進制數(shù)據(jù)；

將轉(zhuǎn)換后的調(diào)試輸出數(shù)據(jù)作為各個像素的像素值。