[發(fā)明專利]一種基于多GPU并行CRPF的故障診斷方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910848407.2 | 申請日: | 2019-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN110597203A | 公開(公告)日: | 2019-12-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王進(jìn)花;曹潔;胡文東;朱恩昌;余萍;趙偉吉;王躍龍;胡佳偉;黃開杰 | 申請(專利權(quán))人: | 蘭州理工大學(xué) |
| 主分類號: | G05B19/418 | 分類號: | G05B19/418 |
| 代理公司: | 61223 西安銘澤知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 梁靜 |
| 地址: | 730050 甘肅*** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 故障診斷 全局狀態(tài) 隨機(jī)系統(tǒng) 非高斯 并行 評估結(jié)果 噪聲環(huán)境 殘差 算法 測量 狀態(tài)空間模型 代價評估 發(fā)生故障 故障模型 空間模型 粒子濾波 實(shí)際狀態(tài) 算法執(zhí)行 狀態(tài)估計 實(shí)時性 正常模 評估 預(yù)測 | ||
1.一種基于多GPU并行CRPF的故障診斷方法,其特征在于,包括:
獲取非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)的狀態(tài)空間模型集;其中,所述狀態(tài)空間模型集包括:一個正常模型和多個故障模型;
在多個GPU上均采用并行代價評估粒子濾波CRPF算法,對狀態(tài)空間模型集中的每一個模型進(jìn)行全局狀態(tài)評估;其中,所述狀態(tài)空間模型集中的每一個模型對應(yīng)一個GPU;
將非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)的實(shí)際狀態(tài)測量值與正常模態(tài)測量預(yù)測值對比生成殘差,判斷非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)是否發(fā)生故障;
當(dāng)非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)發(fā)生故障時,將正常模型的全局狀態(tài)評估結(jié)果與各故障模型的全局狀態(tài)評估結(jié)果分別對比生成殘差,對非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)故障進(jìn)行分離。
2.如權(quán)利要求1所述的基于多GPU并行CRPF的故障診斷方法,其特征在于,所述非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)的狀態(tài)空間模型為:
其中,k表示采樣時刻,是k時刻模型i的系統(tǒng)狀態(tài)向量;是k時刻模型i的量測向量;gi(·)和hi(·)分別是模型i的系統(tǒng)狀態(tài)轉(zhuǎn)移函數(shù)和量測函數(shù),和分別是模型i的狀態(tài)噪聲和量測噪聲。
3.如權(quán)利要求2所述的基于多GPU并行CRPF的故障診斷方法,其特征在于,所述在多個GPU上均采用并行代價評估粒子濾波CRPF算法,對狀態(tài)空間模型集中的每一個狀態(tài)空間模型進(jìn)行全局狀態(tài)評估;具體包括:
在k=0時刻,從初始分布中獲取N個樣本,設(shè)定粒子代價和傳遞密度協(xié)方差得到k=0時刻的樣本和代價集合為
將所有粒子平均分配給GPU的m個block,每個block按照下面步驟完成相同的計算:
計算風(fēng)險函數(shù)和概率質(zhì)量函數(shù)PMF,for i=1,2,…,N/m
其中,N為粒子數(shù),m為Block數(shù);λ,0≤λ≤1為遺忘因子;δ,β>0;
對優(yōu)化后的粒子根據(jù)概率質(zhì)量函數(shù)PMF的大小進(jìn)行重采樣,生成粒子代價集
狀態(tài)更新:for i=1,2,…,N/m,
計算和并歸一化概率質(zhì)量函數(shù)PMF:
ip為粒子索引;
局部狀態(tài)估計:for i=1,2,…,N/m
全局狀態(tài)估計:for i=1,2,…,m
4.如權(quán)利要求3所述的基于多GPU并行CRPF的故障診斷方法,其特征在于,所述當(dāng)非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)發(fā)生故障時,將正常模型的全局狀態(tài)評估結(jié)果與各故障模型的全局狀態(tài)評估結(jié)果分別對比生成殘差,對非線性非高斯隨機(jī)系統(tǒng)故障進(jìn)行分離;具體包括:
假設(shè)定子電流傳感器發(fā)生兩種故障模式,則多模型集包括:無故障模型、a相電流傳感器故障模型、b相電流傳感器故障模型和復(fù)合故障模型;
根據(jù)多模型的狀態(tài)方程和量測方程,定義殘差:
若a相發(fā)生故障,則fα和fβ都會受到影響,r3不受影響,r1、r2均大于閾值,r3小于閾值;若b相發(fā)生故障,則r2和r3會受影響,r1小于閾值,r2、r3大于閾值;若a相、b相同時發(fā)生故障,則r1、r2、r3均受影響,其值均大于閾值;
其中,fα和fβ表示在(αβ)坐標(biāo)系中的傳感器故障向量;rαs為iαs的殘差,rβs為iβs的殘差,iαs和iβs分別為定子電流的α分量和β分量。
5.如權(quán)利要求4所述的基于多GPU并行CRPF的故障診斷方法,其特征在于,通過a相和b相電流傳感器故障的克拉克變換,確定fα和fβ:
其中,fa和fb分別是a相和b相定子電流傳感器故障分量。
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