[發(fā)明專利]試樣前處理裝置和分析系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910842083.1 | 申請日: | 2019-09-06 |
| 公開(公告)號: | CN111351695A | 公開(公告)日: | 2020-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 池上晃平;平田泰士;平野彰弘 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社堀場制作所 |
| 主分類號: | G01N1/44 | 分類號: | G01N1/44;G01N1/42 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 李成必;李雪春 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 試樣 處理 裝置 分析 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供試樣前處理裝置和分析系統(tǒng)。試樣前處理裝置(2)通過對由分析裝置(3)分析的試樣(W)進(jìn)行加熱來進(jìn)行前處理,其包括:加熱爐(4),對試樣(W)進(jìn)行加熱;導(dǎo)出口(2P2),使由加熱爐(4)加熱的試樣(W)落下而導(dǎo)出所述試樣(W);以及姿勢限制部(PR),對從導(dǎo)出口(2P2)落下的試樣(W)的姿勢進(jìn)行限制。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及試樣前處理裝置和使用該試樣前處理裝置的分析系統(tǒng),該試樣前處理裝置例如對鋼鐵或非鐵金屬和陶瓷等試樣進(jìn)行加熱來進(jìn)行前處理。
背景技術(shù)
例如,作為測量包含在鋼鐵或非鐵金屬和陶瓷等試樣中的氧濃度的方法,在加熱爐內(nèi)配置放入了試樣的石墨坩堝,邊供給不活潑氣體、邊對試樣進(jìn)行加熱使其熔化,對此時產(chǎn)生的一氧化碳或二氧化碳例如以紅外線氣體分析儀進(jìn)行分析。
并且,為了精度良好地對包含在試樣中的氧進(jìn)行檢測,需要預(yù)先除去附著于試樣表面的油分、污垢等(以下稱為附著物)和氧化膜。并且,為了除去附著于試樣表面的附著物,利用加熱等手段來進(jìn)行前處理。
在此,作為具有對試樣進(jìn)行加熱來進(jìn)行前處理的功能的含氧分析裝置如專利文獻(xiàn)1所示可以考慮如下裝置,其包括:分析爐,具有收容試樣的石墨坩堝;以及預(yù)還原爐,設(shè)置在該分析爐的上部,將試樣加熱到其熔點(diǎn)以下的溫度對其表面的氧化膜進(jìn)行預(yù)還原。并且,該裝置以如下方式構(gòu)成:通過使由預(yù)還原爐進(jìn)行了前處理的試樣向分析爐內(nèi)落下,向石墨坩堝供給試樣。
但是,上述結(jié)構(gòu)僅使試樣從預(yù)還原爐落下,并未確定落下中途的試樣的姿勢。由此,在試樣向石墨坩堝供給前,有時被連接預(yù)還原爐和分析爐的連通通道或分析爐的內(nèi)部通道卡住。這種問題在板狀試樣或柱狀試樣的情況下特別顯著。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本專利公開公報第4560058號
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問題,本發(fā)明的主要課題在于能夠穩(wěn)定地從試樣前處理裝置向分析裝置供給試樣。
即本發(fā)明提供一種試樣前處理裝置,通過對由分析裝置分析的試樣進(jìn)行加熱來進(jìn)行前處理,所述試樣前處理裝置的特征在于包括:加熱爐,對所述試樣進(jìn)行加熱;導(dǎo)出口,使由所述加熱爐加熱的所述試樣落下而導(dǎo)出所述試樣;以及姿勢限制部,限制通過所述導(dǎo)出口的所述試樣的姿勢。
按照這種結(jié)構(gòu),由于具有對通過導(dǎo)出口的試樣的姿勢進(jìn)行限制的姿勢限制部,所以從試樣前處理裝置向分析裝置供給時試樣不容易被卡住,能夠穩(wěn)定地進(jìn)行供給。
如果直接向分析裝置供給加熱的試樣,則分析裝置的試樣導(dǎo)入口及其周邊部件有可能因熱量而破損。為了解決這種問題,優(yōu)選的是,試樣前處理裝置還包括冷卻部,所述冷卻部保持并冷卻由所述加熱爐加熱的所述試樣。按照這種結(jié)構(gòu),能夠迅速地對加熱并進(jìn)行了前處理的試樣進(jìn)行冷卻并向分析裝置供給。此時,如果所述冷卻部設(shè)置在所述導(dǎo)出口的上方并作為所述姿勢限制部發(fā)揮功能,則能夠使裝置結(jié)構(gòu)簡單化。
作為冷卻部的具體的實(shí)施方式,所述冷卻部包括:收容部,以所述試樣成為規(guī)定的姿勢的狀態(tài)收容所述試樣;以及開關(guān)機(jī)構(gòu),對形成在所述收容部的底面的開口部進(jìn)行開關(guān)。并且,通過利用所述開關(guān)機(jī)構(gòu)打開所述收容部的開口部使所述試樣落下,所述試樣保持收容于所述收容部的姿勢并落下。由此,所述冷卻部對通過所述導(dǎo)出口的所述試樣的姿勢進(jìn)行限制。
此外,優(yōu)選的是,試樣前處理裝置還包括:導(dǎo)入口,導(dǎo)入所述試樣;以及移動機(jī)構(gòu),使所述試樣在所述加熱爐的內(nèi)部和外部之間移動,所述移動機(jī)構(gòu)具有:試樣接收部,從所述導(dǎo)入口接收所述試樣;驅(qū)動部件,使所述試樣接收部移動;以及連結(jié)部,連結(jié)所述試樣接收部和所述驅(qū)動部件。按照這種結(jié)構(gòu),通過從導(dǎo)入口導(dǎo)入試樣,能夠利用移動機(jī)構(gòu)自動進(jìn)行此后的試樣的移動。此外,由于利用驅(qū)動部件構(gòu)成移動機(jī)構(gòu),所以能夠使移動機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)簡單。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社堀場制作所,未經(jīng)株式會社堀場制作所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910842083.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





