[發(fā)明專利]一種用于檢測LED芯片抗水解能力的檢測裝置及檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910837501.8 | 申請日： | 2019-09-05 |
| 公開（公告）號： | CN110554300A | 公開（公告）日： | 2019-12-10 |
| 發(fā)明（設計）人： | 余金隆;莊家銘 | 申請（專利權）人： | 佛山市國星半導體技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/26;G01R1/02 |
| 代理公司： | 44202 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 | 代理人： | 胡楓;李素蘭 |
| 地址： | 528200 廣東省佛山市南海區(qū)獅*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 水解試劑 溝槽基板 探針卡 檢測裝置 檢測 電源 逆向電壓 抗水解 正負極 電離 水解 覆蓋 | ||
1.一種用于檢測LED芯片抗水解能力的檢測裝置，其特征在于，包括溝槽基板、水解試劑、探針卡和電源，LED芯片固定在溝槽基板上，所述水解試劑將LED芯片覆蓋，所述探針卡與LED芯片的正負極連接，所述電源與探針卡連接，以向LED芯片導入逆向電壓。
2.如權利要求1所述的用于檢測LED芯片抗水解能力的檢測裝置，其特征在于，所述溝槽基板包括第一溝槽和第二溝槽，第一溝槽和第二溝槽交叉設置，第一溝槽和第二溝槽的交匯處設有凹陷區(qū)域，所述凹陷區(qū)域與第一溝槽和第二溝槽連通，所述LED芯片固定在凹陷區(qū)域。
3.如權利要求2所述的用于檢測LED芯片抗水解能力的檢測裝置，其特征在于，所述溝槽基板包括多個第一溝槽和多個第二溝槽，形成矩陣型結構，可同時固定多個LED芯片進行檢測。
4.如權利要求1所述的用于檢測LED芯片抗水解能力的檢測裝置，其特征在于，所述水解試劑為NaCl溶液、KCl溶液、RbCl溶液和CsCl溶液中的一種或幾種。
5.一種LED芯片抗水解能力的檢測方法，其特征在于，包括：
將LED芯片固定在溝槽基板上；
向溝槽基板通入水解試劑，所述水解試劑將所述LED芯片覆蓋；
向LED芯片導入逆向電壓，達到預設時間后，正向測試LED芯片是否能點亮；
若LED芯片可以點亮，則通過抗水解能力測試，若不能點亮，則不通過抗水解能力測試。
6.如權利要求5所述的LED芯片抗水解能力的檢測方法，其特征在于，所述溝槽基板包括第一溝槽和第二溝槽，第一溝槽和第二溝槽交叉設置，第一溝槽和第二溝槽的交匯處設有凹陷區(qū)域，所述凹陷區(qū)域與第一溝槽和第二溝槽連通，所述LED芯片固定在凹陷區(qū)域。
7.如權利要求6所述的LED芯片抗水解能力的檢測方法，其特征在于，所述溝槽基板包括多個第一溝槽和多個第二溝槽，形成矩陣型結構，可同時固定多個LED芯片進行檢測。
8.如權利要求5所述的LED芯片抗水解能力的檢測方法，其特征在于，所述水解試劑為NaCl溶液、KCl溶液、RbCl溶液和CsCl溶液中的一種或幾種。
9.如權利要求8所述的LED芯片抗水解能力的檢測方法，其特征在于，所述水解試劑的濃度為0.1％～5％。
10.如權利要求1所述的LED芯片抗水解能力的檢測方法，其特征在于，采用點測機臺的探針卡向LED芯片導入逆向電壓。
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