[發明專利]探傷設備的性能評價方法、裝置及電子設備

有效

• 申請號: 201910834701.8
• 申請日: 2019-09-05
• 公開（公告）號: CN110618201B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發明（設計）人: 魏運飛;黃毅;賈冠;何元春;狄國標;張學峰;徐海衛;馮博;馬國金;慕文杰
• 申請（專利權）人: 首鋼京唐鋼鐵聯合有限責任公司
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 北京華沛德權律師事務所 11302
• 代理人: 馬苗苗

1.一種探傷設備的性能評價方法，其特征在于，應用于電子設備，所述方法包括：

獲取待評價探傷設備的必要性能參數，所述必要性能參數包括靈敏度參數、信噪比參數、準確性參數、穩定性參數及檢測盲區參數；

將所述必要性能參數與預設的性能指標進行對比，以判斷所述待評價探傷設備的各項必要性能是否滿足所述性能指標；

若所述必要性能參數中有至少一項必要性能不滿足所述性能指標，則判定所述待評價探傷設備不合格；

在判定所述待評價探傷設備合格時，獲取所述待評價探傷設備的綜合性能參數，所述綜合性能參數包括測量精度參數、響應時間參數及探頭間重疊率參數；

根據預設的測量精度指標、響應時間指標和探頭間重疊率指標分別判定所述待評價探傷設備的測量精度、響應時間和探頭間重疊率是否合格；

基于所述測量精度、響應時間和探頭間重疊率的合格情況，以及所述測量精度、響應時間和探頭間重疊率分別對應的預設權重，對所述待評價探傷設備的綜合性能進行評分，得到所述待評價探傷設備的綜合性能參數評分結果；

將所述綜合性能參數評分結果與預設的綜合性能指標進行對比；

若所述綜合性能參數評分結果小于所述綜合性能指標，則判定所述待評價探傷設備不合格。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述靈敏度參數包括靈敏度、靈敏度均勻性、靈敏度余量、掃查靈敏度與靜態靈敏度之間的差值，所述準確性參數包括漏報率、誤報率，所述穩定性參數包括靈敏度漂移量、信噪比漂移量、靈敏度余量漂移量，所述檢測盲區參數包括縱向邊緣盲區尺寸、前端和后端盲區尺寸、上下表面盲區尺寸；

所述將所述必要性能參數與預設的性能指標進行對比，以判斷所述待評價探傷設備的各項必要性能是否滿足所述性能指標的步驟，包括：

在所述靈敏度、靈敏度均勻性、靈敏度余量、掃查靈敏度與靜態靈敏度之間的差值中有至少一項參數不滿足預設的性能指標時，判定所述待評價探傷設備的靈敏度不合格；

在所述漏報率、誤報率中有至少一項參數不滿足預設的性能指標時，判定所述待評價探傷設備的準確性不合格；

在所述靈敏度漂移量、信噪比漂移量、靈敏度余量漂移量中有至少一項參數不滿足預設的性能指標時，判定所述待評價探傷設備的穩定性不合格；

在所述縱向邊緣盲區尺寸、前端和后端盲區尺寸、上下表面盲區尺寸中有至少一項參數不滿足預設的性能指標時，判定所述待評價探傷設備的檢測盲區不合格。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測量精度參數包括尺寸測量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度，所述響應時間參數包括檢測時間、信號處理時間；

所述根據預設的測量精度指標、響應時間指標和探頭間重疊率指標分別判定所述待評價探傷設備的測量精度、響應時間和探頭間重疊率是否合格的步驟，包括：

在所述尺寸測量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度中有至少一項參數不滿足預設的測量精度指標時，判定所述待評價探傷設備的測量精度不合格；

在所述檢測時間、信號處理時間中有至少一項參數不滿足預設的響應時間指標時，判定所述待評價探傷設備的響應時間不合格。