[發(fā)明專(zhuān)利]一種符合判選方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910833121.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-09-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110507344B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李俊;楊隆梓;鄭威 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | A61B6/03 | 分類(lèi)號(hào): | A61B6/03 |
| 代理公司: | 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 201807 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 符合 方法 裝置 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種符合判選方法,其特征在于,應(yīng)用于跨探測(cè)器單元,包括:
在正電子發(fā)射型計(jì)算機(jī)斷層成像中,獲取所述跨探測(cè)器單元的各探測(cè)器探測(cè)到光子時(shí)的事件發(fā)生周期,根據(jù)所述事件發(fā)生周期判選出原始符合事件;
獲取與所述探測(cè)器對(duì)應(yīng)的周期偏移量,根據(jù)所述周期偏移量對(duì)所述事件發(fā)生周期進(jìn)行調(diào)整,根據(jù)調(diào)整結(jié)果判選出隨機(jī)符合事件;
根據(jù)所述隨機(jī)符合事件確定出所述原始符合事件中的真符合事件;
其中,所述周期偏移量是預(yù)設(shè)同步時(shí)鐘周期的整數(shù)倍,各個(gè)所述周期偏移量互不相同,且任意兩個(gè)所述周期偏移量之差大于預(yù)設(shè)符合窗寬。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述周期偏移量對(duì)所述事件發(fā)生周期進(jìn)行調(diào)整,根據(jù)調(diào)整結(jié)果判選出隨機(jī)符合事件,包括:
對(duì)所述事件發(fā)生周期增加所述周期偏移量,得到隨機(jī)發(fā)生周期;
根據(jù)所述隨機(jī)發(fā)生周期判選出隨機(jī)符合事件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述周期偏移量包括探測(cè)器編碼值和探測(cè)器倍數(shù)值,各個(gè)所述探測(cè)器編碼值互不相同,以及,每個(gè)所述探測(cè)器倍數(shù)值是所述預(yù)設(shè)同步時(shí)鐘周期的整數(shù)倍且大于所述預(yù)設(shè)符合窗寬。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,如果所述探測(cè)器包括兩個(gè)以上探測(cè)器單元,每個(gè)所述探測(cè)器單元包括兩個(gè)以上探測(cè)器,則第X個(gè)探測(cè)器單元中的第Y個(gè)探測(cè)器的所述探測(cè)器編碼值為N*X+Y,其中,N為所述探測(cè)器單元的個(gè)數(shù),N、X和Y均為正整數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述探測(cè)器倍數(shù)值是預(yù)設(shè)整數(shù)值和所述預(yù)設(shè)同步時(shí)鐘周期的乘積結(jié)果。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述事件發(fā)生周期判選出原始符合事件,包括:
根據(jù)所述事件發(fā)生周期,確定第一事件發(fā)生時(shí)刻所在周期和第二事件發(fā)生時(shí)刻所在周期的周期差;
根據(jù)所述周期差、所述第一事件的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換值和所述第二事件的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換值,確定所述第一事件發(fā)生時(shí)刻和所述第二事件發(fā)生時(shí)刻的時(shí)間差;
如果所述時(shí)間差小于所述預(yù)設(shè)符合窗寬,則判選出所述第一事件和所述第二事件具有符合關(guān)系,得到所述第一事件和所述第二事件的原始符合事件。
7.一種符合判選裝置,其特征在于,應(yīng)用于跨探測(cè)器單元,包括:
原始符合事件判選模塊,用于在正電子發(fā)射型計(jì)算機(jī)斷層成像中,獲取所述跨探測(cè)器單元的各探測(cè)器探測(cè)到光子時(shí)的事件發(fā)生周期,根據(jù)事件發(fā)生周期判選出原始符合事件;
隨機(jī)符合事件判選模塊,用于獲取與所述探測(cè)器對(duì)應(yīng)的周期偏移量,根據(jù)周期偏移量對(duì)所述事件發(fā)生周期進(jìn)行調(diào)整,根據(jù)調(diào)整結(jié)果判選出隨機(jī)符合事件;
真符合事件確定模塊,用于根據(jù)所述隨機(jī)符合事件確定出所述原始符合事件中的真符合事件;
其中,所述周期偏移量是預(yù)設(shè)同步時(shí)鐘周期的整數(shù)倍,各個(gè)所述周期偏移量互不相同,且任意兩個(gè)所述周期偏移量之差大于預(yù)設(shè)符合窗寬。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述隨機(jī)符合事件判選模塊,具體用于:
對(duì)所述事件發(fā)生周期增加所述周期偏移量,得到隨機(jī)發(fā)生周期;
根據(jù)所述隨機(jī)發(fā)生周期判選出隨機(jī)符合事件。
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括:
一個(gè)或多個(gè)處理器;
存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序;
當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行,使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-6中任一所述的符合判選方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-6中任一所述的符合判選方法。
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