[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910831350.5 | 申請(qǐng)日: | 2019-09-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110655622B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沙金;趙海利;陳欣;馮路;楊潤(rùn)哲;馬玉錄;謝林生 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 華東理工大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | C08F292/00 | 分類(lèi)號(hào): | C08F292/00;C08F220/30;C08F2/46 |
| 代理公司: | 上海弼興律師事務(wù)所 31283 | 代理人: | 薛琦;劉奉麗 |
| 地址: | 200237 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 無(wú)掩模 光刻 系統(tǒng) 制備 聚合物 圖案 方法 | ||
1.一種基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,借由無(wú)掩模光刻系統(tǒng)的時(shí)空調(diào)制特性實(shí)現(xiàn)基體材料表面聚合反應(yīng)過(guò)程的調(diào)控,以得到結(jié)構(gòu)可控的圖案化聚合物刷;
其中,所述基體材料的表面先接枝引發(fā)劑后,再覆蓋一層反應(yīng)混合物;
所述反應(yīng)混合物包括反應(yīng)單體、光氧化還原催化劑和溶劑;
借由所述無(wú)掩模光刻系統(tǒng)在所述基體材料表面覆蓋的所述反應(yīng)混合物的表面形成對(duì)應(yīng)數(shù)字圖像設(shè)計(jì)的明暗反差的光束圖像,在具有一定曝光強(qiáng)度的光束圖像投影區(qū)域,所述基體材料的表面與所述反應(yīng)混合物中的反應(yīng)單體在光氧化還原催化劑作用下發(fā)生所述表面聚合反應(yīng)生成聚合物刷,由于所述聚合物刷僅在光束圖像選擇曝光的區(qū)域生長(zhǎng),即得到所述圖案化聚合物刷;所述曝光的方式包括靜態(tài)灰度曝光、動(dòng)態(tài)灰度曝光方式或者動(dòng)態(tài)連續(xù)曝光。
2.如權(quán)利要求1所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述引發(fā)劑包含烷基鹵化物、烯丙基鹵化物、黃原酸酯、硫酯、硫羰酯、二硫基酯、三硫代碳酸酯和硝基氧中的一種或多種。
3.如權(quán)利要求2所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述烷基鹵化物為α-鹵代苯基化合物、α-鹵代羰基化合物和α-鹵代腈基化合物中的一種或多種。
4.如權(quán)利要求3所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述α-鹵代苯基化合物為α-氯代苯乙烷、芐基氯和芐基溴中的一種或多種。
5.如權(quán)利要求3所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述α-鹵代羰基化合物包括α-氯丙酸乙酯和/或α-溴代異丁酸乙酯。
6.如權(quán)利要求5所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述α-溴代異丁酸乙酯為[11-(2-溴-2-甲基)丙酰氧基]十二烷基三氯硅烷。
7.如權(quán)利要求3所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述α-鹵代腈基化合物包括α-氯乙腈和/或α-氯丙腈。
8.如權(quán)利要求1所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述基體材料的材質(zhì)為表面能夠與聚合物刷分子鏈的一端結(jié)合的無(wú)機(jī)物或者有機(jī)物;
和/或,所述基體材料的表面為平面材料或者曲面材料。
9.如權(quán)利要求8所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述無(wú)機(jī)物為金屬或其合金、金屬氧化物,或者含硅的無(wú)機(jī)非金屬材料。
10.如權(quán)利要求8所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述平面材料為板狀、片狀或者膜狀。
11.如權(quán)利要求8所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述曲面材料為粒子狀、柱狀、筒狀或者線狀。
12.如權(quán)利要求9所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述金屬為金、鐵或鋁。
13.如權(quán)利要求9所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述含硅的無(wú)機(jī)非金屬材料為硅酮、玻璃或者硅片。
14.如權(quán)利要求13所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述含硅的無(wú)機(jī)非金屬材料為玻璃或硅酮。
15.如權(quán)利要求8所述的基于無(wú)掩模光刻系統(tǒng)制備聚合物刷微圖案的方法,其特征在于,所述有機(jī)物為甲基丙烯酸樹(shù)脂、烯烴樹(shù)脂或者液晶聚合物。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于華東理工大學(xué),未經(jīng)華東理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910831350.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)





