[發明專利]一種全靜態太陽偏振光譜測量方法在審
| 申請號： | 201910830758.0 | 申請日： | 2019-09-04 |
| 公開（公告）號： | CN110553737A | 公開（公告）日： | 2019-12-10 |
| 發明（設計）人： | 宋志平;汪鵬 | 申請（專利權）人： | 安徽大學 |
| 主分類號： | G01J3/447 | 分類號： | G01J3/447;G01J3/02 |
| 代理公司： | 34158 合肥方舟知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人： | 朱榮 |
| 地址： | 230000 安徽省*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 偏振 偏振光譜 太陽 靜態測量 分析器 功率譜 磁敏 譜線 測量 空間外差光譜儀 超高分辨光譜 偏振光譜信息 分析器輸出 光輻射信號 偏振光譜儀 光譜儀 測量記錄 多次測量 光學器件 降低系統 偏振測量 使用空間 一次曝光 干涉圖 輸出光 轉動件 波長 探測器 適配 外差 引入 | ||
1.一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：包括以下步驟：
S1、使用全靜態偏振分析器接收來自太陽大氣光輻射信號，并輸出光信號的功率譜；
S2、使用空間外差光譜儀通過探測器一次曝光，測量記錄全靜態偏振分析器輸出的功率譜對應的干涉圖；
S3、通過計算機對干涉圖進行濾波、傅里葉變換和解調制處理，即獲得太陽大氣輻射的偏振光譜信息。
2.根據權利要求1所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：S1中所述的全靜態偏振分析器加裝在空間外差光譜儀的入射光路中。
3.根據權利要求2所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：S1中所述的全靜態偏振分析器由不同厚度的兩片高階延遲器和一片偏振片預設定方向組裝而成。
4.根據權利要求3所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：兩片所述高階延遲器的厚度比為2:1。
5.根據權利要求4所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：兩片所述延遲器的快軸方向成45度夾角，偏振片的透光軸方向與第一片延遲器的快軸方向一致。
6.根據權利要求1所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：S2中所述的功率譜是其四個Stokes矢量譜經過不同頻率載波調制并疊加的結果。
7.根據權利要求1所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：系統中使用具有超高光譜分辨能力的空間外差光譜儀，測量記錄全靜態偏振分析器輸出光信號功率譜對應的干涉圖。
8.根據權利要求1所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法，其特征在于：S3中計算機的算法流程包括：干涉圖數據預處理；干涉圖數據濾波處理；濾波結果進行快速傅氏變換；解調制處理；太陽大氣輻射四個Stokes矢量元素譜。
9.一種全靜態太陽偏振光譜測量裝置，其特征在于：包括權利要求5所述的一種全靜態太陽偏振光譜測量方法中所述的全靜態偏振分析器、空間外差光譜儀和計算機。
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