[發(fā)明專利]發(fā)光二極管及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910829999.3 | 申請日: | 2019-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN112447893B | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發(fā)明(設計)人: | 畢東升;徐凱;蔡家豪;黃照明;張家豪 | 申請(專利權(quán))人: | 安徽三安光電有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/22 | 分類號: | H01L33/22;H01L33/46;H01L27/15 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 241000 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光二極管 及其 制作方法 | ||
1.發(fā)光二極管的制作方法,包括步驟:
S1、提供一襯底,于所述襯底上生長外延層;
S2、刻蝕所述外延層,形成復數(shù)個相互連接的發(fā)光單元,相鄰發(fā)光單元之間具有溝道;
S3、于所述溝道的底部制作高反射層,于所述發(fā)光單元側(cè)面制作掩膜層;
S4、曝光光束垂直射入高反射層表面,入射光和反射光形成明暗交替的干涉條紋,所述掩膜層在干涉條紋的作用下形成交替分布的變性區(qū)和非變性區(qū);采用顯影液對掩膜層進行顯影,形成圖案化掩膜層;
S5、刻蝕掩膜層和發(fā)光單元側(cè)面,將掩膜層的圖案轉(zhuǎn)移至發(fā)光單元側(cè)面,形成凹槽和凸起結(jié)構(gòu),所述掩膜層包括保護層和涂覆于保護層表面的光阻層,形成的所述發(fā)光二極管的側(cè)面的凸起由外延層和保護層組成,所述保護層的折射率小于外延層的折射率;
S6、在所述外延層之遠離襯底的一側(cè)表面上制作第一電極和第二電極;
S7、減薄襯底并分離發(fā)光單元,形成獨立的發(fā)光二極管。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述溝道的深度等于或者大于外延層的厚度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述步驟S2中溝道的深度范圍為2~10μm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述保護層包括二氧化硅層、氮化硅層或者碳化硅層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:通過調(diào)整曝光光束的波長和高反射層的厚度,調(diào)整干涉條紋的寬度,進而調(diào)整發(fā)光單元側(cè)面相鄰凹槽或者相鄰凸起之間的間隔距離。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述高反射層為金屬反射層,反射率范圍為30%-100%。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述高反射層為鋁反射層或者銀反射層。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述高反射層的厚度為λ/4(2n+1),其中λ為曝光光束波長,n為大于或等于0的自然數(shù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述曝光光束波長范圍為200~500nm。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述曝光光束為I線、深紫外、H線或者G線。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述曝光光束包括激光。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述步驟S2和步驟S5中的刻蝕方法均包括濕法刻蝕或者干法刻蝕。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述凹槽底部的寬度大于開口的寬度。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述凹槽的開口大小范圍為10~50μm。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管的制作方法,其特征在于:所述發(fā)光單元側(cè)面的凹槽的間隔距離范圍為20~100μm。
16.發(fā)光二極管,包括襯底以及層疊于所述襯底上的外延層,其特征在于:采用權(quán)利要求1~15任意一項所述的方法制作而成,所述外延層的側(cè)面具有凹槽和凸起結(jié)構(gòu),所述凹槽的底部的寬度大于開口的寬度,所述凸起由外延層和保護層組成,所述保護層的折射率小于外延層的折射率。
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