[發明專利]一種基于DTSCR的瞬態電壓抑制器有效
| 申請號: | 201910829300.3 | 申請日: | 2019-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN110571215B | 公開(公告)日: | 2021-10-29 |
| 發明(設計)人: | 張立國;孟慶曉;付博 | 申請(專利權)人: | 深圳震有科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;劉文求 |
| 地址: | 518057 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 dtscr 瞬態 電壓 抑制器 | ||
1.一種基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,包括P襯底,所述P襯底上依次設置有P阱、第一N阱、第二N阱和第三N阱,所述P阱與第一N阱相連,所述P阱、第一N阱、第二N阱和第三N阱上均設置有P+有源注入區和N+有源注入區,所述P阱與第一N阱之間還增設有第一有源注入區;
所述第一有源注入區為第一P+有源注入區或第一N+有源注入區;
所述第一有源注入區增設在所述P阱和第一N阱之間的STI隔離區處。
2.根據權利要求1所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述P阱上設置有第二P+有源注入區和第二N+有源注入區。
3.根據權利要求2所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述第二P+有源注入區上設置有第一金屬區,所述第二N+有源注入區上設置有第二金屬區;所述第二P+有源注入區和第二N+有源注入區分別通過所述第一金屬區和所述第二金屬區相連并接地。
4.根據權利要求3所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述第一N阱上設置有第三P+有源注入區和第三N+有源注入區。
5.根據權利要求4所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述第三P+有源注入區上設置有第三金屬區,所述第三N+有源注入區上設置有第四金屬區;所述第三P+有源注入區通過第三金屬區與靜電輸入端連接。
6.根據權利要求5所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述第二N阱上設置有第四P+有源注入區和第四N+有源注入區。
7.根據權利要求6所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述第四P+有源注入區上設置有第五金屬區,所述第四N+有源注入區上設置有第六金屬區;所述第三N+有源注入區與第四P+有源注入區通過所述第四金屬去和第五金屬區相連。
8.根據權利要求7所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述第三N阱上設置有第五P+有源注入區和第五N+有源注入區。
9.根據權利要求8所述的基于DTSCR的瞬態電壓抑制器,其特征在于,所述第五P+有源注入區上設置有第七金屬區,所述第五N+有源注入區上設置有第八金屬區;所述第四N+有源注入區與所述第五P+有源注入區通過所述第六金屬區和第七金屬區相連,所述第五N+有源注入區通過第八金屬區接地。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





