[發明專利]一種去除光譜基線的方法

在審

• 申請號: 201910828020.0
• 申請日: 2019-09-03
• 公開（公告）號: CN110553989A
• 公開（公告）日: 2019-12-10
• 發明（設計）人: 蔡正杰;袁海軍;馬建州
• 申請（專利權）人: 無錫創想分析儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 32340 無錫派爾特知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 楊立秋

1.一種去除光譜基線的方法，其特征在于，包括：

步驟一，讀取原始數據；

步驟二，找到基線趨勢的拐點；

步驟三，擬合每個區域內的基線；

步驟四，用原始數據減去各個區域的擬合基線，實現基線校正。

2.如權利要求1所述的去除光譜基線的方法，其特征在于，所述原始數據包括若干個CCD采集數據。

3.如權利要求1所述的去除光譜基線的方法，其特征在于，所述步驟二中根據光譜強度判斷公式I(i)<I(i-1)<I(i-2)且I(i)<I(i+1)<I(i+2)，找到基線趨勢的拐點；其中I(i)為譜線中第i個采樣點的光強值；I(i-1)為第i-1個采樣點的光強值；I(i-2)為第i-2個采樣點的光強值；I(i+1)為第i+1個采樣點的光強值；I(i+2)為第i+2個采樣點的光強值。

4.如權利要求1所述的去除光譜基線的方法，其特征在于，在所述步驟二前，所述去除光譜基線的方法還包括：

通過相鄰采集點之間的強度值比較，找到譜線上所有的光強極小值所在的采集點；

通過閾值判斷公式，去除肩峰以及重疊峰上的光強極小值所在的采集點。

5.如權利要求4所述的去除光譜基線的方法，其特征在于，根據光譜強度判斷公式I(i)<I(i-1)<I(i-2)且I(i)<I(i+1)<I(i+2)，找到譜線上的極小值。

6.如權利要求4所述的去除光譜基線的方法，其特征在于，通過如下閾值判斷公式去除肩峰以及重疊峰上的極小值：

I_{肩峰，重疊峰}>3/2*I_min；

其中，I_{肩峰，重疊峰}為肩峰，重疊峰上的光強值；I_min為所有采樣點組成的光譜中的最小光強值。

7.如權利要求4所述的去除光譜基線的方法，其特征在于，擬合每個區域內的光譜基線包括：

根據所述步驟二中找到的n個拐點，將譜線劃分為n-1個區域；

在每個單獨區域內，基線趨勢為一次或二次曲線。