[發明專利]數據校驗方法及裝置、存儲介質、電子裝置

有效

• 申請號: 201910817704.0
• 申請日: 2019-08-30
• 公開（公告）號: CN110516258B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 楊鵬
• 申請（專利權）人: 北京明略軟件系統有限公司
• 主分類號: G06F40/226
• 分類號: G06F40/226
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟

1.一種數據校驗方法，其特征在于，包括：

利用確定的校驗組件對輸入的待校驗數據進行格式校驗，得到校驗結果，其中，所述校驗組件中包括預設屬性格式，校驗所述待校驗數據的校驗算法，所述校驗算法中包括預設輸入格式；

基于所述校驗結果確定所述待校驗數據的輸入是否存在異常；

利用確定的校驗組件對輸入的待校驗數據進行格式校驗，得到校驗結果之前，所述方法還包括：確定所述校驗組件，其中，確定所述校驗組件包括：

確定第一組件，其中，所述第一組件用于檢驗所述待校驗數據的輸入格式，所述第一組件中包括所述預設輸入格式，校驗所述待校驗數據的 輸入格式的第一校驗算法；

確定第二組件，其中，所述第二組件用于檢驗所述待校驗數據的整體格式，所述第二組件中包括預設整體格式，檢驗所述待校驗數據的整體格式的第二校驗算法；

將所述第一組件和第二組件的組合確定為所述校驗組件，其中，所述第一組件包括在所述第二組件中；

確定所述校驗組件之后，所述方法還包括：

將所述第一組件注冊至所述第二組件中，以使所述第一組件具備訪問所述第二組件的能力；

將承載所述待校驗數據的輸入組件與所述第一組件和所述第二組件進行綁定。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，利用確定的校驗組件對輸入的待校驗數據進行格式校驗，得到校驗結果之前，所述方法還包括：

定義所述待校驗數據的數據格式，其中，所述待校驗數據的數據格式包括以下至少之一：語言，標識，類型，所述待校驗數據所在的表格的數據格式。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，利用確定的校驗組件對輸入的待校驗數據進行格式校驗，得到校驗結果，包括：

在確定所述待校驗數據輸入完成的情況下，將所述待校驗數據的與預設輸入屬性進行比對，得到第一比對結果，其中，所述第一比對結果中包括所述待校驗數據輸入屬性是否存在異常；

將所述待校驗數據與所述校驗算法中的預設輸入格式進行比對，得到第二比對結果，其中，所述第二比對結果中包括所述待校驗數據的輸入格式是否存在異常。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述校驗結果確定所述待校驗數據的輸入是否存在異常，包括以下至少之一：

在所述第一比對結果中顯示所述待校驗數據輸入屬性存在異常的情況下，確定所述待校驗數據的輸入存在異常；

在所述第二比對結果中顯示所述待校驗數據的輸入格式存在異常的情況下，確定所述待校驗數據的輸入存在異常。

5.一種數據校驗裝置，其特征在于，包括：

第一確定模塊，用于利用確定的校驗組件對輸入的待校驗數據進行格式校驗，得到校驗結果，其中，所述校驗組件中包括預設屬性格式，校驗所述待校驗數據的校驗算法，所述校驗算法中包括預設輸入格式；

第二確定模塊，用于基于所述校驗結果確定所述待校驗數據的輸入是否存在異常；

所述裝置還用于利用確定的校驗組件對輸入的待校驗數據進行格式校驗，得到校驗結果之前，確定所述校驗組件，其中，所述裝置通過以下方式確定所述校驗組件：確定第一組件，其中，所述第一組件用于檢驗所述待校驗數據的輸入格式，所述第一組件中包括所述預設輸入格式，校驗所述待校驗數據的 輸入格式的第一校驗算法；確定第二組件，其中，所述第二組件用于檢驗所述待校驗數據的整體格式，所述第二組件中包括預設整體格式，檢驗所述待校驗數據的整體格式的第二校驗算法；將所述第一組件和第二組件的組合確定為所述校驗組件，其中，所述第一組件包括在所述第二組件中；

所述裝置還用于在確定所述校驗組件之后，將所述第一組件注冊至所述第二組件中，以使所述第一組件具備訪問所述第二組件的能力；將承載所述待校驗數據的輸入組件與所述第一組件和所述第二組件進行綁定。

6.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有計算機程序，其中，所述計算機程序被設置為運行時執行所述權利要求1至4任一項中所述的方法。

7.一種電子裝置，包括存儲器和處理器，其特征在于，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行所述權利要求1至4任一項中所述的方法。