[發(fā)明專利]基于高光譜的病害程度診斷方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910811521.8 | 申請日: | 2019-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN110361344A | 公開(公告)日: | 2019-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 董錦繪;施蕾蕾;郝榮欣;劉龍;宮華澤;陳祺 | 申請(專利權(quán))人: | 北京麥飛科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31;G01N21/3563;G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京晟睿智杰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
| 地址: | 100000 北京市朝陽區(qū)阜*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 病害 程度診斷 高光譜 診斷 模糊推理系統(tǒng) 自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò) 吸收特征 輸出量 高光譜數(shù)據(jù) 信息量準(zhǔn)則 可見光 高光譜儀 連續(xù)曲線 時間成本 輸入變量 作物病害 對稱度 歸一化 吸收峰 主觀性 波段 去除 吸收 成像 采集 篩選 節(jié)約 申請 調(diào)查 | ||
本申請公開了一種基于高光譜的病害程度診斷方法,包括步驟:無人機搭載非成像高光譜儀;通過無人機采集多個待測作物的原始高光譜數(shù)據(jù),得到待測作物可見光到近紅波段的連續(xù)曲線,進(jìn)行連續(xù)統(tǒng)去除處理歸一化,得到待測作物的吸收特征參數(shù),根據(jù)赤池信息量準(zhǔn)則篩選吸收特征參數(shù)得到診斷特征,診斷特征包括吸收峰面積、吸收深度、和吸收對稱度;將診斷特征作為自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)模糊推理系統(tǒng)模型的輸入變量,通過自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)模糊推理系統(tǒng)模型得到輸出量,輸出量為待測作物的病害程度值數(shù)。本發(fā)明基于高光譜的病害程度診斷方法,節(jié)約人工、時間成本,避免了因調(diào)查人的主觀性而造成的誤差,更加準(zhǔn)確地對作物病害程度進(jìn)行診斷。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及作物診斷技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于高光譜的病害程度診斷方法。
背景技術(shù)
水稻是我國主要糧食作物之一,水稻病害的防治是水稻種植過程中的主要任務(wù),關(guān)于水稻病害診斷主要還是依靠農(nóng)業(yè)專家根據(jù)病害癥狀和癥狀部位進(jìn)行人工診斷,這種診斷方式固然可靠,但需要大量的農(nóng)業(yè)專家親臨農(nóng)業(yè)生產(chǎn)第一線,由于植保專家的人數(shù)畢竟有限,而且工作任務(wù)比較繁忙,所以只能是在個別時間和地點才能實現(xiàn),無法應(yīng)用到生產(chǎn)實際當(dāng)中去。
發(fā)明內(nèi)容
本申請公開了一種基于高光譜的病害程度診斷方法,包括步驟:
無人機搭載非成像高光譜儀;
通過無人機采集多個待測作物的原始高光譜數(shù)據(jù),通過所述原始高光譜數(shù)據(jù)得到所述待測作物可見光到近紅波段的連續(xù)曲線;
對所述待測作物的連續(xù)曲線進(jìn)行連續(xù)統(tǒng)去除處理歸一化,得到所述待測作物的吸收特征參數(shù),所述吸收特征參數(shù)包括吸收波段波長位置、吸收深度、吸收寬度、吸收斜率、吸收對稱度、吸收峰面積和光譜絕對反射值;
根據(jù)赤池信息量準(zhǔn)則篩選所述吸收特征參數(shù)得到診斷特征,所述診斷特征包括所述吸收峰面積、所述吸收深度、和所述吸收對稱度,其中所述吸收峰面積包括吸收峰總體面積和吸收峰左端面積;
將所述診斷特征作為自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)模糊推理系統(tǒng)模型的輸入變量,通過所述自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)模糊推理系統(tǒng)模型得到輸出量,所述輸出量為所述待測作物的病害程度值數(shù)。
優(yōu)選的,所述原始高光譜數(shù)據(jù)為所述待測作物灰度值。
優(yōu)選的,所述通過無人機采集待測作物的原始高光譜數(shù)據(jù)之前,對所述非成像高光譜儀校準(zhǔn),得到定標(biāo)白板灰度值和定標(biāo)白板反射率。
優(yōu)選的,所述連續(xù)曲線包括多個所述待測作物反射率,所述待測作物反射率根據(jù)以下方法得到:
a=bd/c;
其中,a是所述待測作物反射率,b是所述待測作物灰度值,c是所述定標(biāo)白板灰度值,d是所述定標(biāo)白板反射率。
優(yōu)選的,所述連續(xù)曲線包括谷點和峰點,所述峰點包括第一峰點和第二峰點。
優(yōu)選的,所述吸收深度根據(jù)以下方法得到:
h=1-ρM;
其中,h是所述吸收深度,ρM是所述谷點M對應(yīng)的所述待測作物的反射率。
優(yōu)選的,所述吸收對稱度根據(jù)以下方法得到:
e=(λS2-λM)/w;
其中,e是吸收對稱度參數(shù),λS2是所述第二峰點S2的吸收波段波長位置,λM是所述谷點M的吸收波段波長位置,w是所述吸收寬度。
優(yōu)選的,所述吸收寬度w根據(jù)以下方法得到:
w=λS1-λS2;
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
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