[發(fā)明專利]一種用于制定測(cè)試配置文件的工具及其應(yīng)用在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910808981.5 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112445694A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李成霞;成家柏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州廣立微電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司: | 杭州豐禾專利事務(wù)所有限公司 33214 | 代理人: | 王靜 |
| 地址: | 310012 浙江省杭州市*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 制定 測(cè)試 配置文件 工具 及其 應(yīng)用 | ||
1.一種用于制定測(cè)試配置文件的工具,其特征在于,包括創(chuàng)建模塊、編輯模塊和輸入輸出模塊;
所述創(chuàng)建模塊,能添加測(cè)試配置項(xiàng);所述測(cè)試配置項(xiàng)用于測(cè)試機(jī),進(jìn)行測(cè)試條件的設(shè)置和測(cè)試計(jì)劃的選定;
所述編輯模塊,能對(duì)測(cè)試配置項(xiàng)進(jìn)行修改、復(fù)制和刪除操作;
所述輸入輸出模塊,能對(duì)測(cè)試配置文件進(jìn)行導(dǎo)入和導(dǎo)出操作;所述測(cè)試配置文件中包括若干條測(cè)試配置項(xiàng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于制定測(cè)試配置文件的工具,其特征在于,所述測(cè)試配置項(xiàng)中包括信息:
識(shí)別ID:唯一的用于標(biāo)識(shí)的ID;
測(cè)試算法:獲取測(cè)試算法,定義測(cè)試的算法主體;
測(cè)試計(jì)劃:獲取測(cè)試計(jì)劃,提供晶圓信息和測(cè)試項(xiàng);
晶圓說(shuō)明信息:從測(cè)試計(jì)劃提供的晶圓信息中選定晶粒和模塊;
測(cè)試說(shuō)明信息:從測(cè)試計(jì)劃提供的測(cè)試項(xiàng)中選定測(cè)試項(xiàng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于制定測(cè)試配置文件的工具,其特征在于,所述測(cè)試配置項(xiàng)中還包括探針臺(tái)晶圓產(chǎn)品信息:用于確定探針臺(tái)識(shí)別的晶圓型號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于制定測(cè)試配置文件的工具,其特征在于,所述測(cè)試配置項(xiàng)中還包括失效閾值信息:獲取失效閾值,用于篩選測(cè)試結(jié)果參數(shù)以區(qū)別顯示失效參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于制定測(cè)試配置文件的工具,其特征在于,所述的工具能對(duì)測(cè)試配置項(xiàng)的信息進(jìn)行核查,當(dāng)檢查到存在問(wèn)題時(shí),進(jìn)行問(wèn)題提示。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于制定測(cè)試配置文件的工具,其特征在于,所述編輯模塊還能對(duì)測(cè)試配置項(xiàng)進(jìn)行應(yīng)用順序的排序操作。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于制定測(cè)試配置文件的工具,其特征在于,所述輸入輸出模塊支持導(dǎo)入和導(dǎo)出不同格式的測(cè)試配置文件,以匹配不同的測(cè)試機(jī)臺(tái);輸入輸出模塊還提供測(cè)試配置文件的格式編輯環(huán)境,格式編輯完成后即支持所編輯格式的測(cè)試配置文件導(dǎo)出。
8.一種制定測(cè)試配置文件的方法,其特征在于,先制定好測(cè)試算法和測(cè)試計(jì)劃,再利用權(quán)利要求1至7任意一項(xiàng)所述用于制定測(cè)試配置文件的工具,實(shí)現(xiàn)測(cè)試配置文件的制定。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種制定測(cè)試配置文件的方法,其特征在于,所述測(cè)試計(jì)劃使用生成測(cè)試計(jì)劃的工具進(jìn)行制定,所述生成測(cè)試計(jì)劃的工具用于制定測(cè)試計(jì)劃所需的說(shuō)明文件,并編譯生成測(cè)試計(jì)劃;所述測(cè)試計(jì)劃所需的說(shuō)明文件包括晶圓信息說(shuō)明文件和測(cè)試說(shuō)明文件,用于快速生成測(cè)試說(shuō)明文件的工具集成在所述生成測(cè)試計(jì)劃的工具中,用于制定測(cè)試說(shuō)明文件;
其中,所述的用于快速生成測(cè)試說(shuō)明文件的工具包括測(cè)試算法模塊、設(shè)計(jì)參數(shù)模塊、模板文件模塊和測(cè)試說(shuō)明文件生成模塊;
所述測(cè)試算法模塊,能導(dǎo)入測(cè)試算法文件,提供測(cè)試算法供模板文件選擇;
所述設(shè)計(jì)參數(shù)模塊,能導(dǎo)入設(shè)計(jì)參數(shù)文件;設(shè)計(jì)參數(shù)文件中包括若干行設(shè)計(jì)參數(shù),每行設(shè)計(jì)參數(shù)包括待測(cè)器件的信息和待測(cè)器件在測(cè)試芯片中的參數(shù);
所述模板文件模塊,提供模板文件編輯環(huán)境,能通過(guò)手動(dòng)編輯獲取模板項(xiàng)或者導(dǎo)入模板文件獲取模板項(xiàng);模板文件中包括若干條模板項(xiàng),每條模板項(xiàng)選擇測(cè)試算法,并提供用于生成測(cè)試項(xiàng)中信息的賦值關(guān)系式;
所述測(cè)試說(shuō)明文件生成模塊,能根據(jù)模板項(xiàng)選取對(duì)應(yīng)的測(cè)試算法,并根據(jù)模板項(xiàng)中的賦值關(guān)系式和導(dǎo)入的設(shè)計(jì)參數(shù)文件生成若干條測(cè)試項(xiàng),實(shí)現(xiàn)測(cè)試說(shuō)明文件的生成;
其中,所述測(cè)試說(shuō)明文件中包括若干條測(cè)試項(xiàng),每條測(cè)試項(xiàng)用于定義對(duì)待測(cè)器件執(zhí)行一項(xiàng)電性測(cè)試的條件信息。
10.一種測(cè)試機(jī)控制系統(tǒng),用于控制測(cè)試機(jī)對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行電性測(cè)試,其特征在于,利用權(quán)利要求1至7任意一項(xiàng)所述用于制定測(cè)試配置文件的工具制定測(cè)試配置文件后,所述測(cè)試機(jī)控制系統(tǒng)能獲取測(cè)試配置文件,通過(guò)應(yīng)用測(cè)試配置文件中的測(cè)試配置項(xiàng)自動(dòng)設(shè)置測(cè)試條件和選定測(cè)試計(jì)劃。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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