[發(fā)明專利]一種儀表漂移的分析系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910804667.X
• 申請日: 2019-08-28
• 公開（公告）號: CN110487315B
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅文博;唐博文;謝征宇;梁小玉;吳益文;解永奎;張勇;圣國龍;吳順貴;陳海岳;劉高明;佟英奇
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東核電合營有限公司;蘇州熱工研究院有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 郭偉剛;李闖

1.一種儀表漂移的分析系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)預(yù)處理模塊、正態(tài)分布驗證模塊、時間相關(guān)性分析模塊和漂移量預(yù)估模塊；

所述數(shù)據(jù)采集模塊用于采集多個儀表的以往的校驗數(shù)據(jù)，并將多個所述儀表分成多個單元組，功能相關(guān)的所述儀表歸集為同一個所述單元組；

所述數(shù)據(jù)預(yù)處理模塊用于根據(jù)同屬于一個單元組的儀表的基本數(shù)據(jù)計算出所述單元組的儀表的計算漂移值；

所述正態(tài)分布驗證模塊用于驗證同屬于一個單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)是否服從正態(tài)分布；

所述時間相關(guān)性分析模塊用于當(dāng)所述正態(tài)分布驗證模塊驗證同屬于一個單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布后，對所述單元組的儀表的漂移數(shù)據(jù)與時間的相關(guān)性進行分析；

所述漂移量預(yù)估模塊用于根據(jù)所述時間相關(guān)性分析模塊分析得出的所述單元組的儀表的漂移數(shù)據(jù)與時間的相關(guān)性結(jié)果，計算出校驗周期延長后的儀表漂移；

所述正態(tài)分布驗證模塊包括第一驗證子模塊、第二驗證子模塊和覆蓋分析子模塊；

所述覆蓋分析子模塊用于當(dāng)所述第一驗證子模塊和所述第二驗證子模塊均不能驗證同屬于一個所述單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)是屬于正態(tài)分布時，將同屬于一個所述單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)保守處理為正態(tài)分布；所述覆蓋分析子模塊采用的方法包括的步驟如下：

1)計算所采集的校驗數(shù)據(jù)的平均值μ和標準差σ；

2)查找相應(yīng)的容許因子TF；

3)當(dāng)(n-1)/n＞97.5％時，n為所采集的校驗數(shù)據(jù)的量，計算AF值，使得所采集的校驗數(shù)據(jù)中有97.5％的數(shù)據(jù)在μ±(TF×σ×AF)的范圍之內(nèi)；

當(dāng)(n-1)/n≤97.5％時，計算AF值，使得所采集的校驗數(shù)據(jù)中有(n-1)/n的數(shù)據(jù)在μ±(TF×σ×AF)的范圍之內(nèi)；

4)使用平均值μ和標準差σ×AF的正態(tài)分布來保守的覆蓋所采集的校驗數(shù)據(jù)；

所述第一驗證子模塊用于在同屬于一個所述單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)的數(shù)量小于50的情況下，采用W驗證方法來驗證同屬于一個所述單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)是否服從正態(tài)分布；所述第二驗證子模塊用于在同屬于一個所述單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)的數(shù)量大于等于50的情況下，采用D-prime驗證方法來驗證同屬于一個所述單元組的儀表的校驗數(shù)據(jù)是否服從正態(tài)分布。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述儀表漂移的分析系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括異常數(shù)據(jù)分析模塊，所述異常數(shù)據(jù)分析模塊用于采用T測試來找出收集到的校驗數(shù)據(jù)中的異常數(shù)據(jù)，并對所述異常數(shù)據(jù)進行剔除或糾正。