[發明專利]薄層高分辨率反演方法及存儲介質在審
| 申請號: | 201910801647.7 | 申請日: | 2019-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN112444864A | 公開(公告)日: | 2021-03-05 |
| 發明(設計)人: | 馬永強;林正良;馬靈偉 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術研究院 |
| 主分類號: | G01V1/30 | 分類號: | G01V1/30;G01V1/28 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;張杰 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄層 高分辨率 反演 方法 存儲 介質 | ||
1.一種薄層高分辨率反演方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
對原始地震數據采用提高分辨率處理方法進行處理,并從處理后的原始地震數據中提取目的層的地震數據頻譜和該目的層在零相位處的地震數據體;
根據所述目的層的層位數據構建構造框架模型,在所述構造框架模型內對根據測井數據得到的波阻抗曲線進行插值,從插值后的波阻抗曲線中取低于地震頻帶的阻抗數據,得到所述目的層的低頻阻抗數據體;
根據所述目的層的地震數據頻譜與所述測井數據得到所述目的層的地震數據頻譜與所述測井數據之間的匹配算子,通過利用所述匹配算子對所述目的層在零相位處的地震數據體進行反演,得到所述目的層的地震頻帶阻抗數據體;
根據所述測井數據中的中高頻測井信息和所述原始地震數據中目的層的中頻地震信息,得到所述目的層的高頻阻抗數據體;
根據所述目的層的低頻阻抗數據體、地震頻帶阻抗數據體以及高頻阻抗數據體得到目的層的高分辨率波阻抗數據體,對高分辨率波阻抗數據體進行反演,以根據反演結果識別所述目的層是否為薄層或薄互層。
2.根據權利要求1所述的薄層高分辨率反演方法,其特征在于,所述對原始地震數據采用提高分辨率處理方法進行處理,具體包括以下步驟:
對原始地震數據采用混合相位子波反褶積方法進行處理。
3.根據權利要求2所述的薄層高分辨率反演方法,其特征在于,對原始地震數據采用混合相位子波反褶積技術進行處理,得到目的層的地震數據頻譜和該目的層在零相位處的地震數據體,具體包括以下步驟:
根據多個層井點確定一控制點,并基于該控制點從原始地震數據中采用新復賽譜方法提取該控制點所對應的目的層的子波;
根據各所述層井點的原始地震譜、輸入子波振幅譜和期望輸出子波振幅譜以及測井數據中的測井曲線,得到目標期望輸出子波的振幅譜和相位譜;
根據所述目的層的子波以及所述目標期望輸出子波的振幅譜和相位譜,得到目的層的地震數據頻譜和該目的層在零相位處的地震數據體。
4.根據權利要求1所述的薄層高分辨率反演方法,其特征在于,所述測井數據包括孔隙度測井曲線、滲透率測井曲線以及聲波測井曲線,所述根據測井數據得到波阻抗曲線,具體包括以下步驟:
根據所述孔隙度測井曲線和滲透率測井曲線對所述聲波測井曲線進行重構得到阻抗曲線。
5.根據權利要求1所述的薄層高分辨率反演方法,其特征在于,在所述構造框架模型內對根據測井數據得到的波阻抗曲線進行插值,從插值后的波阻抗曲線中取低于地震頻帶的阻抗數據,得到所述目的層的低頻阻抗數據體,具體包括以下步驟:
根據克里金插值算法以及阻抗空間屬性在空間位置上的變化確定所述波阻抗曲線中對待插值點產生影響的影響范圍;
為所述影響范圍內的采樣點獲得待插值點的阻抗值,根據所述待插值點的阻抗值在所述構造框架模型內對所述波阻抗曲線進行插值,得到所述目的層的低頻阻抗數據體。
6.根據權利要求1所述的薄層高分辨率反演方法,其特征在于,根據所述目的層的地震數據頻譜與所述測井數據得到所述目的層的地震數據頻譜與所述測井數據之間的匹配算子,通過利用所述匹配算子對所述目的層在零相位處的地震數據體進行反演,得到所述目的層的地震頻帶阻抗數據體,具體包括以下步驟:
通過對所述測井數據中的波阻抗進行譜分析得到波阻抗譜;
基于所述目的層的地震數據頻譜和所述波阻抗譜得到所述目的層的地震數據頻譜與所述測井數據之間的匹配算子;
利用所述匹配算子對所述目的層在零相位處的地震數據體進行有色反演,得到所述目的層的地震頻帶阻抗數據體。
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