[發(fā)明專利]形成半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910795814.1 | 申請日: | 2019-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN110875420A | 公開(公告)日: | 2020-03-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳季丞;黃偉立;吳俊逸;巫洸毅;黃宏麟;蘇智宏;古進譽;陳承先 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L43/02 | 分類號: | H01L43/02;H01L43/12 |
| 代理公司: | 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 韓旭;黃艷 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 形成 半導(dǎo)體 裝置 結(jié)構(gòu) 方法 | ||
本公開一些實施例提供了一種形成半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的方法。此方法包括于半導(dǎo)體基板的上方形成鈍化層。此方法還包括于鈍化層的上方形成磁性元件。此方法還包括于磁性元件以及鈍化層的上方形成隔離層,其中隔離層包括一高分子材料。再者,此方法包括于隔離層的上方形成導(dǎo)線,且導(dǎo)線延伸跨過磁性元件。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實施例內(nèi)容涉及一種形成半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的方法,特別涉及一種形成具有磁性元件的半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的方法。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體集成電路(integrated circuit,IC)產(chǎn)業(yè)已經(jīng)歷了快速的成長。集成電路(IC)的材料與設(shè)計的技術(shù)發(fā)展已經(jīng)創(chuàng)造了集成電路的多個世代,且各個世代具有相較于前一世代更小且更復(fù)雜的電路。
在集成電路演進的歷程中,功能密度(例如單位芯片面積的互連裝置數(shù)量)已普遍地增加,同時伴隨幾何尺寸的縮小。這樣的尺寸縮減的過程普遍地為提升生產(chǎn)效率與降低相關(guān)成本帶來了好處。
然而,這樣的尺寸縮減也增加了集成電路的加工和制造的復(fù)雜性。由于部件尺寸不斷縮減,制造過程在執(zhí)行上也不斷變得更加復(fù)雜。因此,如何在尺寸上持續(xù)縮減的情況下仍可形成可靠的半導(dǎo)體裝置是一種挑戰(zhàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一些實施例提供一種形成半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的方法。此方法包括于半導(dǎo)體基板的上方形成鈍化層,以及于鈍化層的上方形成磁性元件。此方法還包括于磁性元件以及鈍化層的上方形成隔離層,其中隔離層包括一高分子材料。此方法還包括于隔離層的上方形成導(dǎo)線,其中導(dǎo)線延伸跨過磁性元件。
本發(fā)明的一些實施例提供另一種形成半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的方法。此方法包括于一半導(dǎo)體基板的上方形成第一高分子層。此方法亦包括于第一高分子層的上方形成磁性元件。此方法還包括于第一高分子層的上方形成第二高分子層,以覆蓋磁性元件。此方法還包括于第二高分子層的上方形成導(dǎo)線,其中導(dǎo)線延伸跨過磁性元件。
本發(fā)明的一些實施例提供一種半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)。此半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)包括一半導(dǎo)體基板以及位于半導(dǎo)體基板上方的磁性元件。半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)亦包括位于半導(dǎo)體基板以及磁性元件之間的鈍化層。半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)還包括位于磁性元件以及鈍化層上方的隔離層,其中隔離層包括一高分子材料。半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)還包括位于隔離層上方且延伸跨過磁性元件的導(dǎo)線。
附圖說明
通過以下的詳細描述配合說明書附圖,可以更加理解本發(fā)明實施例的內(nèi)容。需強調(diào)的是,根據(jù)產(chǎn)業(yè)上的標準慣例,許多部件(feature)并未按照比例繪制。事實上,為了能清楚地討論,各種部件的尺寸可能被任意地增加或減少。
圖1A至圖1J是根據(jù)本發(fā)明一些實施例的形成一半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的制程的多個階段的剖面示意圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明一些實施例的一半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的剖面示意圖。
圖3是根據(jù)本發(fā)明一些實施例的一半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的俯視布局圖。
圖4是根據(jù)本發(fā)明一些實施例的形成一半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的制程的一個中間階段的俯視布局圖。
圖5是根據(jù)本發(fā)明一些實施例的一半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的剖面示意圖。
圖6是根據(jù)本發(fā)明一些實施例的半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的隔離層的俯視圖。
附圖標記說明:
100~半導(dǎo)體基板;
102~內(nèi)連線結(jié)構(gòu);
104~保護層;
106~蝕刻停止層;
108a-108e~磁性層/子層;
109~磁性元件;
109T~磁性元件的頂表面;
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