[發(fā)明專(zhuān)利]基于多項(xiàng)式擬合的高光譜輻射定標(biāo)方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910789025.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110487406A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-11-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐武健;施蕾蕾;劉龍;宮華澤;陳祺;高晨 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京麥飛科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01J3/42 | 分類(lèi)號(hào): | G01J3/42;G01J3/28;G01N21/17;G01N21/55 |
| 代理公司: | 11603 北京晟睿智杰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人: | 于淼<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入國(guó) |
| 地址: | 100000 北京市朝陽(yáng)區(qū)阜*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光譜數(shù)據(jù) 被測(cè)物 參考板 測(cè)量 多項(xiàng)式擬合 高光譜輻射 光譜反射率 采集平臺(tái) 模擬數(shù)據(jù) 系數(shù)矩陣 反射率 定標(biāo) 反射光譜數(shù)據(jù) 高光譜遙感 測(cè)量流程 輻射光譜 高光譜儀 光敏元件 計(jì)算公式 實(shí)際測(cè)量 訓(xùn)練樣本 實(shí)測(cè) 下行 攜帶 申請(qǐng) | ||
本申請(qǐng)公開(kāi)了一種基于多項(xiàng)式擬合的高光譜輻射定標(biāo)方法及系統(tǒng),涉及高光譜輻射定標(biāo)技術(shù)領(lǐng)域,方法包括:搭建模擬數(shù)據(jù)采集平臺(tái),選取模擬數(shù)據(jù)采集平臺(tái)測(cè)得的訓(xùn)練樣本,通過(guò)多項(xiàng)式擬合的方式建立第一光譜數(shù)據(jù)與第二光譜數(shù)據(jù)之間的關(guān)系,根據(jù)第一光譜數(shù)據(jù)與第二光譜數(shù)據(jù)之間的關(guān)系得到體現(xiàn)下行輻射光譜數(shù)據(jù)與參考板反射光譜數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系的系數(shù)矩陣A;在實(shí)際測(cè)量被測(cè)物的反射率時(shí),通過(guò)光敏元件和高光譜儀測(cè)量得到的數(shù)據(jù),結(jié)合系數(shù)矩陣A和被測(cè)物光譜反射率計(jì)算公式,即可計(jì)算得到被測(cè)物光譜反射率。實(shí)測(cè)被測(cè)物反射率過(guò)程中無(wú)需攜帶參考板并對(duì)參考板進(jìn)行測(cè)量,既有利于簡(jiǎn)化近地或低空高光譜遙感測(cè)量流程,又有利于降低測(cè)量誤差,提升測(cè)量精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及高光譜輻射定標(biāo)技術(shù)領(lǐng)域,具體地說(shuō),涉及一種基于多項(xiàng)式擬合的高光譜輻射定標(biāo)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
二十一世紀(jì)以來(lái),地球自然災(zāi)害頻發(fā),例如全球變暖、地震、海嘯等。空間遙感技術(shù)可以對(duì)地球環(huán)境、資源分布等進(jìn)行精確的測(cè)量。遙感數(shù)據(jù)的精度直接決定了人們對(duì)地球環(huán)境的認(rèn)知程度。精確的輻射定標(biāo)可以保證遙感數(shù)據(jù)對(duì)地球環(huán)境預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性。
高光譜遙感技術(shù)可應(yīng)用于對(duì)光譜反射率的計(jì)算領(lǐng)域。高光譜遙感在計(jì)算光譜反射率的過(guò)程中需要對(duì)下行輻射強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量,傳統(tǒng)的技術(shù)實(shí)現(xiàn)方法之一是采用反射率已知的參考板,包括白板、灰板等,對(duì)參考板的反射光譜進(jìn)行直接測(cè)量,結(jié)合參考板和待測(cè)物的測(cè)量數(shù)據(jù),得到待測(cè)物的反射率。此類(lèi)方法的缺點(diǎn)是當(dāng)需要測(cè)量待測(cè)物的反射率時(shí),需要一直攜帶參考板,測(cè)量參考板的反射光譜,增加操作復(fù)雜度,并且不能保證參考板與目標(biāo)待測(cè)物接受的下行輻射一致,尤其是復(fù)雜天氣條件下,下行輻射變化很快,容易導(dǎo)致反射率測(cè)量誤差。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N基于多項(xiàng)式擬合的高光譜輻射定標(biāo)方法及系統(tǒng),既有利于簡(jiǎn)化近地或低空高光譜遙感測(cè)量流程,又有利于降低測(cè)量誤差,提升測(cè)量精度。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本申請(qǐng)有如下技術(shù)方案:
第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N基于多項(xiàng)式擬合的高光譜輻射定標(biāo)方法,包括:
搭建模擬數(shù)據(jù)采集平臺(tái),所述模擬數(shù)據(jù)采集平臺(tái)包括至少3個(gè)不同波段的光敏元件、高光譜儀和參考板,所述參考板平行于地面放置,沿垂直于地面的方向,所述高光譜儀位于所述光敏元件和所述參考板之間,所述光敏元件位于所述高光譜儀遠(yuǎn)離地面的一側(cè);
將所述至少3個(gè)不同波段的光敏元件的探測(cè)方向調(diào)整為朝向天空的方向,并將高光譜儀的探測(cè)方向調(diào)整為朝向所述參考板;
在同一測(cè)量時(shí)間段,利用光敏元件對(duì)下行輻射的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量,得到多個(gè)第一光譜數(shù)據(jù);同時(shí)利用高光譜儀對(duì)參考板的反射光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量,得到多個(gè)第二光譜數(shù)據(jù);
選取一定量的所述第一光譜數(shù)據(jù)和所述第二光譜數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練樣本,通過(guò)多項(xiàng)式擬合的方式建立第一光譜數(shù)據(jù)與第二光譜數(shù)據(jù)之間的關(guān)系,根據(jù)第一光譜數(shù)據(jù)與第二光譜數(shù)據(jù)之間的關(guān)系得到體現(xiàn)下行輻射光譜數(shù)據(jù)與參考板反射光譜數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系的系數(shù)矩陣A;
當(dāng)測(cè)量被測(cè)物光譜反射率數(shù)據(jù)時(shí):
搭建實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)采集平臺(tái),所述實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)采集平臺(tái)包括至少3個(gè)不同波段的光敏元件、高光譜儀和被測(cè)物,所述被測(cè)物平行于地面放置,沿垂直于地面的方向,所述高光譜儀位于所述光敏元件和所述被測(cè)物之間,所述光敏元件位于所述高光譜儀遠(yuǎn)離地面的一側(cè);
在同一測(cè)量時(shí)間段,利用所述至少3個(gè)不同波段的光敏元件對(duì)當(dāng)前測(cè)量條件下的下行輻射對(duì)應(yīng)的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量,得到多個(gè)第三光譜數(shù)據(jù);同時(shí)利用高光譜儀對(duì)當(dāng)前測(cè)量條件下被測(cè)物的反射光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量,得到當(dāng)前測(cè)量條件下被測(cè)物的反射光譜數(shù)據(jù);
將測(cè)量得到的所述第三光譜數(shù)據(jù)代入所述系數(shù)矩陣中,計(jì)算得到當(dāng)前測(cè)量條件下的參考板反射光譜數(shù)據(jù);
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