[發明專利]一種磁盤設備壽命預測方法及裝置

有效

• 申請號: 201910784887.0
• 申請日: 2019-08-23
• 公開（公告）號: CN110515752B
• 公開（公告）日: 2022-04-22
• 發明（設計）人: 張振廣;蘇楠;李輝
• 申請（專利權）人: 浪潮（北京）電子信息產業有限公司
• 主分類號: G06F11/00
• 分類號: G06F11/00;G06F11/26
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張建

1.一種磁盤設備壽命預測方法，其特征在于，所述方法包括：

基于待測磁盤設備中的N個SMART特征值在預設時間閾值內的變異系數進行計算，得到待測特征值，其中，N為大于等于1的整數；

分別計算所述待測特征值與M個預設的訓練樣本值的權重，并構建權重矩陣，所述訓練樣本值包括預設數量的磁盤設備的特征值，M為大于等于1的整數，其中，所述訓練樣本值的預設過程包括：

獲取訓練磁盤設備記錄的SMART特征值；

選擇n個與預設壽命特征數據相關性高的SMART特征值，所述n用于指示預先設定的要選取的SMART特征值的個數，n為大于等于1的整數；

基于n個SMART特征值在預設時間閾值內的變異系數進行計算，得到訓練樣本值，其中，n為大于等于1的整數；

基于所述權重矩陣進行線性回歸計算，得到回歸系數；

基于所述回歸系數，確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態；

其中，所述基于所述回歸系數，確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態，包括：

基于所述回歸系數進行計算，得到所述待測特征值對應的預測數據；

判斷所述待測特征值對應的預測數據是否大于預設的閾值；

當所述預測數據大于等于預設的閾值時，確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態為可用，所述可用的壽命狀態用于指示磁盤設備的壽命大于等于預先標記的天數；

當所述預測數據小于預設的閾值時，確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態為損壞，所述損壞的壽命狀態用于指示磁盤設備的壽命小于預先標記的天數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在基于待測磁盤設備中的N個SMART特征值在預設時間閾值內的變異系數進行計算，得到待測特征值之前，還包括：

獲取待預測磁盤設備記錄的SMART特征值；

選擇N個與預設壽命特征數據相關性高的SMART特征值，所述N用于指示預先設定的要選取的SMART特征值的個數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態后，輸出提示信息。

4.一種磁盤設備壽命預測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一計算單元，用于基于待測磁盤設備中的N個SMART特征值在預設時間閾值內的變異系數進行計算，得到待測特征值，其中，N為大于等于1的整數；

第二計算單元，用于分別計算所述待測特征值與M個預設的訓練樣本值的權重，并構建權重矩陣，所述訓練樣本值包括預設數量的磁盤設備的特征值，M為大于等于1的整數，其中，所述訓練樣本值的預設過程包括：

獲取訓練磁盤設備記錄的SMART特征值；

選擇n個與預設壽命特征數據相關性高的SMART特征值，所述N用于指示預先設定的要選取的SMART特征值的個數，n為大于等于1的整數；

基于n個SMART特征值在預設時間閾值內的變異系數進行計算，得到訓練樣本值，其中，n為大于等于1的整數；

第三計算單元，用于基于所述權重矩陣進行線性回歸計算，得到回歸系數；

確定單元，用于基于所述回歸系數，確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態；

其中，所述確定單元包括：

計算子單元，用于基于所述回歸系數進行計算，得到所述待測特征值對應的預測數據；

判斷單元，用于判斷所述待測特征值對應的預測數據是否大于預設的閾值；

第一確定子單元，用于當所述預測數據大于等于預設的閾值時，確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態為可用，所述可用的壽命狀態用于指示磁盤設備的壽命大于等于預先標記的天數；

第二確定子單元，用于當所述預測數據小于預設的閾值時，確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態為損壞，所述損壞的壽命狀態用于指示磁盤設備的壽命小于預先標記的天數。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，還包括：

獲取單元，用于獲取待預測磁盤設備記錄的SMART特征值；

選擇單元，用于選擇N個與預設壽命特征數據相關性高的SMART特征值，所述N用于指示預先設定的要選取的SMART特征值的個數。

6.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，還包括：

提示單元，用于在確定所述待測特征值對應的待測磁盤設備的壽命狀態后，輸出提示信息。