[發明專利]可調整取像組合的自動光學檢測設備及取像組合調整方法在審
| 申請號: | 201910784363.1 | 申請日: | 2019-08-23 |
| 公開(公告)號: | CN110940668A | 公開(公告)日: | 2020-03-31 |
| 發明(設計)人: | 林其禹;何健僑 | 申請(專利權)人: | 迅智自動化科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 羅英;臧建明 |
| 地址: | 中國臺灣新北市中*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 可調整 組合 自動 光學 檢測 設備 調整 方法 | ||
1.一種可調整取像組合的自動光學檢測設備,用于檢測待測物,而所述自動光學檢測設備包括:
主體;
至少一圖像獲取裝置,設于所述主體;
至少一光源,可活動地設于所述主體;以及
控制電路,連接所述至少一圖像獲取裝置、及所述至少一光源,控制并啟動至少一圖像獲取裝置,并控制所述至少一光源運動,依序切換多個取像組合中的每一者來對所述待測物進行一取像作業,其中每一所述取像組合記錄所述至少一圖像獲取裝置及所述至少一光源相對于所述待測物的位置及角度,且不同所述取像組合所包括的位置或角度不同。
2.根據權利要求1所述可調整取像組合的自動光學檢測設備,還包括:
待測物移動機構,設于所述主體,并供所述待測物放置,而所述控制電路控制所述待測物移動機構使所述待測物運動,其中每一所述取像組合更記錄所述待測物的待測位置及待測角度。
3.根據權利要求1所述可調整取像組合的自動光學檢測設備,其中所述至少一圖像獲取裝置包括多個圖像獲取裝置,且所述多個圖像獲取裝置系可活動地設于所述主體,而所述控制電路選擇所述多個圖像獲取裝置中的一者朝向所述待測物進行所述取像作業,而每一所述取像組合更記錄所述圖像獲取裝置,且所述多個圖像獲取裝置包含至少一種鏡頭規格。
4.根據權利要求1所述可調整取像組合的自動光學檢測設備,其中所述至少一光源包括多個光源,而所述控制電路選擇所述多個光源中的一者移動到指定位置和進行開啟,而每一所述取像組合更記錄所述光源和所述光源的位置和亮度分布。
5.根據權利要求1所述可調整取像組合的自動光學檢測設備,其中所述控制電路控制所述至少一光源多軸運動。
6.根據權利要求1所述可調整取像組合的自動光學檢測設備,其中所述控制電路依據所述多個取像組合的取像結果篩選所述多個取像組合,并依據篩選的所述多個取像組合的取像結果而挑選出至少一檢測組合供檢測作業使用,其中每一所述檢測組合記錄所述至少一圖像獲取裝置、及所述至少一光源相對于所述待測物的位置及角度,且所述檢測作業用于評估所述待測物的缺陷。
7.根據權利要求6所述可調整取像組合的自動光學檢測設備,其中所述控制電路判斷所述多個取像組合的取像結果是否適用于所述檢測作業,并保留適用于所述檢測作業的所述多個取像組合,淘汰未適用于所述檢測作業的所述多個取像組合。
8.一種取像組合調整方法,適用于檢測一待測物,而所述取像組合調整方法包括:
控制并啟動至少一圖像獲取裝置;
控制至少一光源運動,以朝向所述待測物;
控制所述待測物移動到待測位置;以及
依序切換多個取像組合中的每一者來進行取像作業,其中每一所述取像組合記錄所述至少一圖像獲取裝置及所述至少一光源相對于所述待測物的位置及角度、以及所述待測物的所處待測位置及待測角度,且不同所述取像組合所包括的位置或角度不同。
9.根據權利要求8所述的取像組合調整方法,其中所述至少一圖像獲取裝置包括可活動的多個圖像獲取裝置,而所述取像組合調整方法還包括:
選擇所述多個圖像獲取裝置中的一者朝向所述待測物進行所述取像作業,其中每一所述取像組合更記錄所述圖像獲取裝置,且所述多個圖像獲取裝置的鏡頭規格不同。
10.根據權利要求8所述的取像組合調整方法,其中所述至少一光源包括多個光源,而控制所述至少一光源運動的步驟包括:
選擇所述多個光源中的一者進行開啟并朝向所述待測物,其中每一所述取像組合更記錄所述光源,且所述多個光源所提供的亮度分布不同。
11.根據權利要求8所述的取像組合調整方法,其中控制所述至少一光源運動的步驟包括:
控制所述至少一光源多軸運動。
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