[發明專利]一種基于高密度電法溫納裝置的三維電阻率測深應用方法有效
| 申請號: | 201910784248.4 | 申請日: | 2019-08-23 |
| 公開(公告)號: | CN110471122B | 公開(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發明(設計)人: | 李忠平 | 申請(專利權)人: | 李忠平 |
| 主分類號: | G01V3/38 | 分類號: | G01V3/38 |
| 代理公司: | 北京匯信合知識產權代理有限公司 11335 | 代理人: | 徐榮榮 |
| 地址: | 250000 山東省濟南市*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 高密度 電法溫納 裝置 三維 電阻率 測深 應用 方法 | ||
1.一種基于高密度電法溫納裝置的三維電阻率測深應用方法,其特征在于:具體方法如下:
1)采用2D高密度電阻率儀,沿矩形斷面等距截取數據體;
2)在現有2D高密度電阻率剖面數據的基礎上,構建三維不均勻測網電極排列方法及網格;
3)結合三維反演程序要求,進行二三維數據格式轉換,編寫2D高密度電法不均勻測網三維反演數據格式;編寫2D高密度電法不均勻測網三維反演數據格式具體如下:由不均勻測網電極排列及網格間距,結合三維反演程序要求,編制不均勻測網三維反演數據格式轉換軟件,將高密度溫納數據格式轉換為不均勻測網三維反演數據格式如下:
2.根據權利要求1所述的一種基于高密度電法溫納裝置的三維電阻率測深應用方法,其特征在于:具體截取方法為:選定區域內布設2D高密度電法剖面6條,編號為11、12、13、14、15、16,剖面間距均為50m,剖面點距10m,剖面方位均為295°,將2D高密度電法剖面溫納裝置倒梯形的觀測數據點進行截取,調整為矩形數據點位,始終點號分別為38、62,剖面長度均為240m,最小AB距=60m,最大AB距=660m。
3.根據權利要求1所述的一種基于高密度電法溫納裝置的三維電阻率測深應用方法,其特征在于:構建三維不均勻測網電極排列方法及網格具體方法如下:
對高密度電法溫納排列數據格式進行轉換,轉換為對稱四極電測深AB、MN極距關系如下:
AB/2:30m,60m,90m,120m,150m,180m,210m,240m,270m,300m,330m
MN/2:10m,20m,30m,40m,50m,60m,70m,80m,90m,100m,110m
三維電測深測量不均勻網格間距,各剖面電測深點對應A、B、M、N電極位置,設置為:以16號剖面38號測深點為三維電測深網格的坐標原點(0,0)以每個測深點對應A、B、M、N電極位置為橫坐標,以11、12、13、14、15、16號剖面等間距0m、50m、100m、150m、200m、250m為縱坐標建立所有電極點位與電阻率、高程的對應關系,橫坐標網格間距為:
網格間距對稱排列為:0m 20m 10m 10m 10m……10m 20m
縱坐標網格距為:50m。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于李忠平,未經李忠平許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910784248.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





