[發明專利]量化選取濾光片及閃爍體厚度的方法有效
| 申請號： | 201910774455.1 | 申請日： | 2019-08-21 |
| 公開（公告）號： | CN110646828B | 公開（公告）日： | 2021-04-02 |
| 發明（設計）人： | 王*召;蘇曉芳 | 申請（專利權）人： | 上海奕瑞光電子科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01T1/20 | 分類號： | G01T1/20;G01T1/36;G01T7/00;G06F16/903 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 賀妮妮 |
| 地址： | 201201 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 量化 選取 濾光 閃爍 厚度 方法 | ||
1.一種量化選取濾光片及閃爍體厚度的方法，用于單源雙能成像系統中的X射線探測器中，其特征在于，所述方法至少包括：
1)設定被檢測物體的材料有效原子序數Zt以及被檢測物體的厚度ht的范圍，滿足條件{Zt，ht；Zmin＝Zt＝Zmax，hmin＝ht＝hmax}，其中Zmin為被檢測物體的材料有效原子序數的最小值，Zmax為被檢測物體的材料有效原子序數的最大值，hmin為被檢測物體的厚度的最小值，hmax為被檢測物體的厚度的最大值；
2)在步驟1)設定的范圍內選取兩種被檢測物體t1及t2，其中，Zt1及Zt2分別為兩種所述被檢測物的材料有效原子序數；
3)設定射線源的最大能量E0；
4)設定接收低能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率的最小值TLmin及最大值TLmax，及設定接收高能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率的最小值THmin及最大值THmax；
5)根據步驟2)、步驟3)及步驟4)選定的條件分別設定低能閃爍體的厚度hdet1的取值范圍、濾波片的厚度hf的取值范圍及高能閃爍體的厚度hdet2的取值范圍，使其滿足條件{hdet1，hf，hdet2；TLmin＝TL(E0，Zmax，hmax，hdet1)，TL(E0，Zmin，hmin，hdet1)＝TLmax，THmin＝TH(E0，Zmax，hmax，hdet1，hf，hdet2)，TH(E0，Zmin，hmin，hdet1，hf，hdet2)＝THmax}，其中，TL(E0，Zt，ht，hdet1)為接收低能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率，TH(E0，Zt，ht，hdet1，hf，hdet2)為接收高能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率，其中，接收低能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率TL(E0，Zt，ht，hdet1)由以下公式獲得：
接收高能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率TH(E0，Zt，ht，hdet1，hf，hdet2)由以下公式獲得：
其中，IL為放入所述被檢測物體后探測器接收到的低能信號，IL0為沒有放入所述被檢測物體后探測器接收到的低能信號，IH為放入所述被檢測物體后探測器接收到的高能信號，IH0為沒有放入所述被檢測物體后探測器接收到的高能信號，f(E,E0)為射線源發出的X射線能譜，μ(E,Zx)為材料Zx的X射線衰減系數函數，為低能閃爍體的平均吸收X射線能量函數，ε1(E,hdet1)為低能閃爍體的有效探測率函數，為高能閃爍體的平均吸收X射線能量函數，ε2(E,hdet2)為高能閃爍體的有效探測率函數，Zf為濾波片的材料有效原子序數；
6)在步驟4)中的取值范圍內取步驟5)中的離散型數據并分別計算步驟2)中設定的兩種所述被檢測物體的TL(E0，Zt，ht，hdet1)、TH(E0，Zt，ht，hdet1，hf，hdet2)及R(E0,Zt,ht,hdet1,hf,hdet2)，其中，R(E0,Zt,ht,hdet1,hf,hdet2)為接收高能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率TH(E0，Zt，ht，hdet1，hf，hdet2)與接收低能信號的探測器在放入被檢測物體后的透射率TL(E0，Zt，ht，hdet1)取對數之后的比值，并依據兩種所述被檢測物體的所述R(E0,Zt,ht,hdet1,hf,hdet2)值計算兩種所述被檢測物體的分離度D，其中，
兩種所述被檢測物體的分離度D由以下公式獲得：
或
其中，ht1及ht2分別為兩種所述被檢測物的厚度；
7)檢索步驟6)中的所述分離度的最大值，選取該最大值對應的低能閃爍體的厚度、濾波片的厚度及高能閃爍體的厚度。
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