[發明專利]產品認證方法及相關裝置在審
| 申請號: | 201910772786.1 | 申請日: | 2019-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN112488727A | 公開(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發明(設計)人: | 賈一凡;王春杰;孔珍珍;吳群;張小勇;張艷 | 申請(專利權)人: | 西安高壓電器研究院有限責任公司;中國西電電氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G06Q30/00 | 分類號: | G06Q30/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 夏菁 |
| 地址: | 710077 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 產品認證 方法 相關 裝置 | ||
本申請公開一種產品認證方法、系統、可讀存儲介質及電子設備,屬于數據處理領域,方法包括預先建立質量影響因素數據庫,按照產品分類,針對每類產品保存對該產品的質量存在影響的因素集合,并保存每個質量影響因素的權重,在認證過程中,用戶從系統中選擇待認證產品,并輸入待認證產品對應的最底層級中每個質量影響因素的評語數值;系統根據最底層級中每個質量影響因素的評語數值和每個質量影響因素的權重,自動計算出待認證產品的評價結果。由系統自動計算,提高了產品認證效率,且使得評價結果更加客觀。
技術領域
本發明涉及數據處理領域,更具體地說,涉及產品認證方法、系統、可讀存儲介質及電子設備。
背景技術
產品認證分為國家強制性產品認證和自愿性產品認證。強制性產品認證要求由國家制定頒布,各認證機構執行,側重于產品最基本的安全要求。自愿性產品認證一般由各個認證機構自己規定。現有的產品認證過程,由認證機構的相關人員,人為分析對產品質量有影響的各因素,并給出產品的評價結果。這種人為認證過程耗時較長,且評價結果容易受到主觀因素影響。
發明內容
有鑒于此,本發明提出一種產品認證方法、系統、可讀存儲介質及電子設備,欲實現提高產品認證的效率且減少評價結果受到主觀因素的影響的目的。
為了實現上述目的,現提出的方案如下:
一種產品認證方法,包括:
接收并響應待認證產品確定指令,從質量影響因素數據庫獲取待認證產品各層級的質量影響因素和每個所述質量影響因素的權重,并顯示最低層級的所有質量影響因素;
接收用戶輸入的最低層級中每個質量影響因素的評語數值;
將低層級的同類別質量影響因素的評語數值乘以其權重后相加,得到比所述低層級高一級的質量影響因素的評語數值;
輸出所述待認證產品的評價結果,最高層級的同類別質量影響因素的評語數值乘以其權重后相加,得到的為所述待認證產品的評價結果。
可選的,同類別質量影響因素的權重計算過程包括:
接收用戶輸入的針對所述同類別質量影響因素的判斷矩陣;
計算得到所述判斷矩陣的最大特征值;
計算得到與所述最大特征根對應的特征向量;
對所述特征向量進行歸一化處理,歸一化處理后的特征向量中的各個元素為所述同類別質量影響因素的權重。
可選的,在所述計算得到所述判斷矩陣的最大特征值的步驟后,還包括:
將所述最大特征值代入矩陣參數公式,得到矩陣參數,所述矩陣參數公式為:C=(λmax-m)/[(m-1)*R]
其中,m為所述判斷矩陣的階數,R為與所述判斷矩陣的階數相關的常數,λmax為所述最大特征值,C為所述矩陣參數;
判斷所述矩陣參數是否大于參數閾值,若否,則執行所述計算得到與所述最大特征根對應的特征向量的步驟,若是,提示用戶修改所述判斷矩陣。
可選的,在所述接收用戶輸入的最低層級中每個質量影響因素的評語數值的步驟后,還包括:
將最低層級中的同類別質量影響因素的評語數值進行歸一化處理。
一種產品認證系統,包括:
資源控制模塊,用于接收并響應待認證產品確定指令,從質量影響因素數據庫獲取待認證產品各層級的質量影響因素和每個所述質量影響因素的權重,并顯示最低層級的所有質量影響因素;
評語數值模塊,用于接收用戶輸入的最低層級中每個質量影響因素的評語數值;
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