[發明專利]影像模組的解像力測量方法

有效

• 申請號: 201910768913.0
• 申請日: 2015-09-29
• 公開（公告）號: CN110910394B
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發明（設計）人: 高德民;諸慶
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇光電信息有限公司
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/80
• 代理公司: 上海聯益知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31427
• 代理人: 尹飛宇

一種影像模塊的解像能力的量測方法，其中，所述影像模組解像力量測方法包含一圖像區塊分析的步驟，所述圖像區塊分析系透過Blob(Binary Large)分析計算法，從對象圖像中的像素區塊選取至少一圖像特征，并以所述圖像特征作為一SFR測試框，其特征在于，所述SFR測試框在所述對象圖像中具有唯一性與定位精確性，不會產生定位偏差，因此，大幅提高后續SFR解像能力量測的精確性。

技術領域

本發明涉及一種影像模組的解像力測量方法，其中，所述解像力測量方法運 用Blob(Binary Large Object)分析計算法從測試目標圖像中的像素區塊選取至少 一圖像特征，并以所述圖像特征作為一SFR測試框，其中所述SFR測試框在所 述圖像中具有唯一性與定位精確性，不會產生定位偏差，因此，大幅提高后續 SFR解像力測量的精確性。

背景技術

隨著人們對數位影像模組質量要求的提升，越來越多的場合要求使用空間頻 率響應(spatial frequency response；SFR)測試法以測試相機中影像模組的解像力(resolution)。簡單來說，空間頻率響應測試的原理系指在1毫米(millimeter) 的寬度中，影像模組所能分辨的黑白線對數(linepair)，當空間頻率加大時，同一 寬度中的線對數愈多，線條彼此間緊密，如若黑白線條的反差變小至全部皆變成 灰色，亦即代表影像模組在這個空間頻率范圍已經失去解像力。

傳統的空間頻率響應測試方式，系使用者先取得一標準的解像力測試圖后， 透過相機的影像模組，將該解像力測試圖獲取多個數位樣本圖像后，再透過計算 解像力的軟件,以標記點匹配的方法對這些數位樣本圖像內的特定區域，例如， 圖像中的斜邊(刃口)，界定一相同的測試區域，亦即，“取框”。然而，這樣的測 試方法，主要的問題之一在于每次尋找的標記點位置存在偏差，造成后續對該測 試區域，亦即對該“測試框”的SFR計算產生統計上的偏差。換句話說，標記點 匹配的方法讓所述“取框”的精準度降低，速度慢，嚴重影響了模組的測試效率以 及測試良率。

此外，該標記點匹配方法的另一個主要問題在于該方法較不適用相機動態調 焦時所獲取的圖像。主要原因在于相機的鏡頭與芯片，在動態調焦過程中，由于 鏡頭與芯片相對距離發生變化，圖像會相應的縮放，因此，使標記點相對位置發 生大幅變化，前后的標記點位置無法精確地互相匹配。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種影像模組的解像力的測量方法，其中,所述 影像模組解像力測量方法包含一圖像區塊分析的步驟，所述圖像區塊分析步驟系 將圖像分成若干個圖像區域，然后提取一個或多個所述圖像區域作為SFR測試 框位置區域，因為這些圖像區域相對位置不會變動，從而保證所述SFR測試框 提取的準確性。

本發明的另一個目的是提供一種影像模組的解像力的測量方法，其中透過圖 像區塊分析方法如Blob(Binary Large Object)分析計算法，從測試圖像中至少選取 至少一個圖像連通的像素區塊用以界定至少一圖像特征，由于構成所述圖像特征 的像素區塊與圖像上的其他像素區塊彼此之間相對位置不變即在通過圖像分割 時基本會分割得到相同的像素區塊布局，因此，將所述圖像特征作為一SFR測 試框時，所述SFR測試框在所述測試圖像中具有唯一性與定位精確性，不會產 生定位偏差，大幅度提升后續SFR測試框提取的準確性，增加SFR測量準確性 以及可靠性。

本發明的另一個目的是提供一種影像模組的解像力的測量方法，其中，所述 影像模組得以藉由具有圖像特征的SFR測試框，對具有所述圖像特征的測試樣 本作連續且實時(real-time)的圖像取樣和SFR數值的測量，另一方面，不同的影 像模組也得以藉由圖像特征選取的SFR測試框，對具有所述圖像特征的測試樣 本作實時的圖像取樣和SFR數值的測量，以提升影像模組在解像力的測試效率 以及測試良率。